[發(fā)明專利]一種瓷磚平整度檢測裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711005582.2 | 申請日: | 2017-10-24 |
| 公開(公告)號: | CN107655427A | 公開(公告)日: | 2018-02-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張偉群 | 申請(專利權(quán))人: | 佛山市邁迅機(jī)電有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/30 | 分類號: | G01B11/30 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司44202 | 代理人: | 麥小嬋,郝傳鑫 |
| 地址: | 528031 廣東省佛山*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 瓷磚 平整 檢測 裝置 | ||
1.一種瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,包括檢測平臺以及設(shè)于所述檢測平臺上的第一縱向?qū)к墶⒌诙v向?qū)к壓偷谝粰M向?qū)к墸龅谝豢v向?qū)к壟c所述第二縱向?qū)к壪鄬υO(shè)置,所述第一橫向?qū)к壍囊欢丝苫瑒拥剡B接在所述第一縱向?qū)к墸龅谝粰M向?qū)к壍牧硪欢丝苫瑒拥剡B接在所述第二縱向?qū)к壣希?/p>
所述瓷磚平整度檢測裝置還包括檢測組件和控制器,所述檢測組件可滑動地連接在所述第一橫向?qū)к壣希宜鰴z測組件的輸出端與所述控制器的第一輸入端電連接。
2.如權(quán)利要求1所述的瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,所述控制器還用于:控制所述檢測組件沿方形瓷磚的四邊及對角線滑動。
3.如權(quán)利要求1所述的瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,所述檢測組件包括第一滑塊以及連接在所述第一滑塊上的傳感器,所述檢測組件通過所述第一滑塊可滑動地連接在所述第一橫向?qū)к壣希凰鰝鞲衅鞯妮敵龆伺c所述檢測組件的輸出端電連接。
4.如權(quán)利要求3所述的瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,所述第一滑塊的一端設(shè)有向下延伸的第一翻邊,所述傳感器連接在所述第一翻邊上。
5.如權(quán)利要求3所述的瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,所述傳感器為激光位移傳感器。
6.如權(quán)利要求1-5任一項所述的瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,所述檢測平臺上設(shè)有第一電機(jī),所述第一電機(jī)的輸出軸與所述第一橫向?qū)к壍囊欢诉B接,所述第一電機(jī)的輸入端與所述控制器的第一控制端電連接。
7.如權(quán)利要求1-5任一項所述的瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,所述瓷磚平整度檢測裝置還包括第二滑塊和第三滑塊,所述第一橫向?qū)к壍囊欢送ㄟ^所述第二滑塊可滑動地連接在所述第一縱向?qū)к壣希龅谝粰M向?qū)к壍牧硪欢送ㄟ^所述第三滑塊可滑動地連接在所述第二縱向?qū)к壣稀?/p>
8.如權(quán)利要求7所述的瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,所述檢測平臺上還設(shè)有第二電機(jī),所述第二電機(jī)的輸出軸分別與所述第一縱向?qū)к壍囊欢撕退龅诙v向?qū)к壍囊欢诉B接,所述第二電機(jī)的輸入端與所述控制器的第二控制端電連接。
9.如權(quán)利要求8所述的瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,所述第二電機(jī)上設(shè)有連接桿,所述連接桿的一端與所述第二電機(jī)的輸出軸連接,并與所述第一縱向?qū)к壍囊欢诉B接,所述連接桿的另一端與所述第二縱向?qū)к壍囊欢诉B接。
10.如權(quán)利要求1-5任一項所述的瓷磚平整度檢測裝置,其特征在于,所述瓷磚平整度檢測裝置上還設(shè)有多個用于定位瓷磚四周的定位件,且多個所述定位件設(shè)于所述第一縱向?qū)к壓退龅诙v向?qū)к壷g。
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