[發明專利]一種石英晶振多功能加工裝置在審
| 申請號: | 201710967492.5 | 申請日: | 2017-10-17 |
| 公開(公告)號: | CN107634021A | 公開(公告)日: | 2018-01-26 |
| 發明(設計)人: | 李直榮 | 申請(專利權)人: | 馬鞍山榮泰科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 243000 安徽省馬鞍山*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 石英 多功能 加工 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種石英晶振加工裝置,尤其是涉及一種石英晶振多功能加工裝置。
背景技術
在晶振中石英晶片和瓷片的貼合是比較常規的工況,目前已實現對晶片的機械化鍍銀,但石英晶片和瓷片的貼合目前多數還處于人工狀態。人工貼合效率低、次品率高并且浪費材料,國外已有單一的貼合自動化設備,但僅限于點膠工況,鍍銀和點膠仍需分兩臺設備完成。滿足不了現階段的多元化,定制化的要求。
發明內容
本發明針對現有產品的不足,而提供一種石英晶振多功能加工裝置。本發明所要解決的技術問題是:
本發明的一種石英晶振多功能加工裝置,所述裝置包括機架,機架上表面設有晶片入料裝置、瓷片入料裝置、出料裝置和圓形操作臺;所述晶片入料裝置安裝抓取機械手,用于抓取晶片;所述瓷片入料裝置安裝抓取機械手,用于抓取瓷片;所述出料裝置安裝抓取機械手,用于抓取點膠后的晶片;晶片夾具裝設于圓形操作臺上,用于放置并固定晶片和瓷片;所述晶片夾具下方安裝吸嘴,用于吸附瓷片和晶片;激光標識安裝于機架上,用于標識晶片需要鍍銀和點膠的位置;鍍銀裝置安裝于機架上,用于對晶片需要鍍銀的位置進行鍍銀;點膠裝置安裝于機架上,用于對晶片需要點膠的位置進行點膠;初測激光打標安裝于機架上,用于晶片初步測試并進行激光標注;抓點相機安裝于機架上,用于觀察鍍銀位置信息和點膠位置信息;觀測臺安裝于機架上,用于查看抓點相機反饋的視頻信息;控制系統安裝于機架內,用于控制鍍銀裝置和點膠裝置的工作狀態。
進一步,所述鍍銀裝置內安裝鍍銀伺服模組,使得鍍銀裝置可按XY軸自由移動。
進一步,所述鍍銀裝置側邊安裝探高儀,用于控制鍍銀裝置與晶片之間的接觸距離。
進一步,所述激光標識被抓點相機識別后,反饋至控制系統,用于指導鍍銀和點膠的位置、厚度等加工信息,并將視頻信息反饋至觀測臺。
進一步,所述吸嘴吸附瓷片,并可帶動瓷片左右旋轉。
進一步,所述觀測臺由電腦顯示屏或工業交互界面構成。
進一步,所述點膠裝置內安裝微調裝置,用于控制點膠閥的豎直高度,從而調整晶片和點膠閥的間距。
進一步,所述初測激光打標對晶片進行激光標注后,便于機械化篩選。
進一步,所述圓形操作臺可根據控制系統給予的指令,按一定速度旋轉或定點停頓。
本發明的有益效果是:在機架上按照圓周的方式布局激光標識、鍍銀裝置、點膠裝置和初測激光打標等工作臺,通過圓形操作臺帶動晶體轉動,實現一個平臺上多個工況同時作業。
附圖說明
圖1為本發明的結構示意圖。
圖中:機架1、晶片入料裝置2、瓷片入料裝置3、控制系統4、吸嘴5、抓點相機6、觀測臺7、圓形操作臺8、晶片夾具9、鍍銀伺服模組10、探高儀11、微調裝置12、激光標識13、鍍銀裝置14、點膠裝置15、出料裝置16、點膠伺服模組17、初測激光打標18、抓取機械手19。
具體實施方式
下面結合實施例對本發明作進一步的描述。
本發明的一種石英晶振多功能加工裝置,包括機架1,機架1上表面設有晶片入料裝置2、瓷片入料裝置16、出料裝置3和圓形操作臺8;所述晶片入料裝置2安裝抓取機械手19,用于抓取晶片;所述瓷片入料裝置16安裝抓取機械手19,用于抓取瓷片;所述出料裝置3安裝抓取機械手19,用于抓取點膠后的晶片;晶片夾具9裝設于圓形操作臺8上,用于放置并固定晶片和瓷片;所述晶片夾具9下方安裝吸嘴5,用于吸附瓷片和晶片;激光標識13安裝于機架1上,用于標識晶片需要鍍銀和點膠的位置;鍍銀裝置14安裝于機架1上,用于對晶片需要鍍銀的位置進行鍍銀;點膠裝置15安裝于機架1上,用于對晶片需要點膠的位置進行點膠;初測激光打標18安裝于機架1上,用于晶片初步測試并進行激光標注;抓點相機6安裝于機架1上,用于觀察鍍銀位置信息和點膠位置信息;觀測臺7安裝于機架1上,用于查看抓點相機6反饋的視頻信息;控制系統4安裝于機架1內,用于控制鍍銀裝置14和點膠裝置15的工作狀態。
所述鍍銀裝置14內安裝鍍銀伺服模組10,使得鍍銀裝置14可按XY軸自由移動,鍍銀伺服模組10內包含伺服電機(圖未示),伺服電機驅動鍍銀裝置14里的噴射頭(圖未示)到設定的位置進行鍍銀作業。
所述鍍銀裝置14側邊安裝探高儀11,用于控制鍍銀裝置14與晶片之間的接觸距離,探高儀11與待作業的鍍銀位置在等高的探高平面,在伺服電機驅動時隨著鍍銀伺服模組10一起運動。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于馬鞍山榮泰科技有限公司,未經馬鞍山榮泰科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710967492.5/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種基于LoRa物聯網傳輸技術的防盜報警裝置
- 下一篇:一種小池窖專用壓蓋機
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





