[發(fā)明專利]一種測(cè)量?jī)?chǔ)氫容器加工件具體位置氫缺陷嚴(yán)重程度的方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710962828.9
• 申請(qǐng)日: 2017-10-17
• 公開（公告）號(hào): CN107817255A
• 公開（公告）日: 2018-03-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙和明;張?chǎng)H;王國(guó)文;劉小林;石章海;董富軍;袁靜;黃珍;卞斌;廖桑桑;陳登國(guó);李聲延;王婷華;孫樂(lè)飛;陳曉浪;熊文名;陽(yáng)雋覦;劉志芳;楊帆;王華;胡書春
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 新余鋼鐵股份有限公司;西南交通大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N23/04
• 分類號(hào): G01N23/04
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種測(cè)量?jī)?chǔ)氫容器加工件具體位置氫缺陷嚴(yán)重程度的方法，具體包括以下步驟：

1）將儲(chǔ)氫容器加工件在加熱爐內(nèi)加熱至200℃~280℃后，保溫50~150min，再冷卻至常溫，置入真空室內(nèi)，抽真空至3~50Pa，充入20~50KPa的氫同位素氚，1~10min后，加熱含氚氣體至100℃~280℃，保溫10~20 h；

2）取出儲(chǔ)氫容器加工件，冷卻至常溫，再置于暗室內(nèi)，貼上感光底片，接收儲(chǔ)氫容器加工件內(nèi)部的氫同位素氚原子衰變產(chǎn)生的β射線和由β射線誘導(dǎo)產(chǎn)生的X射線，1小時(shí)后，取出感光底片，沖洗，通過(guò)彩色掃描儀在電腦上顯示感光底片上儲(chǔ)氫容器加工件具體位置氫缺陷嚴(yán)重程度及分布狀況；

3）將顯示儲(chǔ)氫容器加工件氫缺陷色度的感光底片與氫缺陷嚴(yán)重程度標(biāo)準(zhǔn)比色板比對(duì)，確定具體位置氫缺陷嚴(yán)重程度級(jí)別。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)量?jī)?chǔ)氫容器加工件具體位置氫缺陷嚴(yán)重程度的方法，其特征在于，步驟1）將儲(chǔ)氫容器加工件在加熱爐內(nèi)加熱至250℃~280℃后，保溫60min~90min，再冷卻至常溫，置入真空室內(nèi)，抽真空至4~25Pa，充入35~50KPa的氫同位素氚，2~6min后，加熱含氚氣體至180℃~280℃后，保溫11~15 h。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)量?jī)?chǔ)氫容器加工件具體位置氫缺陷嚴(yán)重程度的方法，其特征在于，步驟1）將儲(chǔ)氫容器加工件在加熱爐內(nèi)加熱至270℃~280℃后，保溫50min~60min，再冷卻至常溫，置入真空室內(nèi)，抽真空至5~20Pa，充入40~50KPa的氫同位素氚，1~4min后，加熱含氚氣體至260℃~280℃后，保溫10~12 h。

4.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3所述的一種測(cè)量?jī)?chǔ)氫容器加工件具體位置氫缺陷嚴(yán)重程度的方法，其特征在于，所述含氚氣體純度為30.0%~99.9%。