[發明專利]測試裝置及其測試電路板

有效

• 申請號: 201710944186.X
• 申請日: 2017-10-11
• 公開（公告）號: CN109655643B
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 曾瀚升;廖江鵬
• 申請（專利權）人: 致茂電子（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01R1/28
• 分類號: G01R1/28;G11C7/10
• 代理公司: 北京先進知識產權代理有限公司 11648
• 代理人: 張覲;王海燕

本發明公開了一種測試裝置，包括至少一測試電路板，每一該測試電路板均具有獨立運作能力，且每一該測試電路板包括：一緩沖存儲器模塊用于自一動態隨機存取存儲器讀取并儲存多個測試向量；一存儲器接口控制器儲存讀取指令，以供該緩沖存儲器模塊讀取該些測試向量；一測試向量產生器依據一測試微指令中的存儲器位置自該緩沖存儲器模塊讀取該多個測試向量之一，并以該讀取的測試向量產生一測試信號；及一傳輸電路用于發送該測試向量產生器所產生的一測試控制信號，或接收另一測試控制信號并傳送至該測試向量產生器。

技術領域

本發明是關于一種具有多個測試電路板的測試裝置，特別是每一個測試電路板都具有緩沖存儲器模塊與測試向量產生器，以供個別獨立運作并以該多個測試電路板共同完成所有測試項目的測試裝置。

背景技術

現有測試裝置的系統架構，通常藉由一個中央控制電路板來控制多個功能電路板。中央通道控制電路板藉由讀取該電路板存儲器內的測試微指令，依序產生并傳送功能電路板的測試圖案資料存儲器位置至多個功能電路板。隨后，每個功能電路板藉由讀取該電路板存儲器內的測試圖案資料，使該電路板的多個通道波形產生器產生測試信號來對測試物進行測試。

于上述架構中，現有功能電路板測試裝置產生測試信號的運作能力顯然會受限于中央控制電路板的效能。詳言之，由于中央控制電路板的效能需求必須考慮公用背板的傳輸線數量、傳輸線長度及傳輸速度等因素，故當測試物需要被測試的功能信號增加而需要對應增加更多的功能電路板時，不僅導致現有測試裝置需要增加共用背板的插槽數量，更可能因為效能需求而必須更換效能更強大、運作速度更快的中央控制電路板。此外，雖然以單一中央控制電路板來控制所有功能電路板的架構思維較為簡單，但會降低整體測試系統的效能。

發明內容

本發明在于提供一種測試裝置，該測試裝置具有至少一測試電路板，且每一個測試電路板具有獨立運作能力，藉以解決現有測試裝置的運作能力限制于中央控制器效能的問題。

本發明所公開的測試裝置，包括至少一測試電路板，每一測試電路板均用于連接一動態隨機存取存儲器，以讀取該動態隨機存取存儲器中的測試向量并產生測試信號，其中每一該測試電路板均具有獨立運作能力，且每一該測試電路板包括一緩沖存儲器模塊、一存儲器接口控制器、一測試向量產生器及一傳輸電路。該緩沖存儲器模塊用于電性連接至該動態隨機存取存儲器，并用于自該動態隨機存取存儲器讀取并儲存多個測試向量。該存儲器接口控制器連接該緩沖存儲器模塊，且該存儲器接口控制器至少儲存讀取指令，以供該緩沖存儲器模塊從該動態隨機存取存儲器讀取該些測試向量。該測試向量產生器連接該緩沖存儲器模塊，且依據一測試微指令中的存儲器位置自該緩沖存儲器模塊讀取該多個測試向量之一，并以該讀取的測試向量產生一測試信號。該傳輸電路連接該測試向量產生器，且該傳輸電路用于發送該測試向量產生器所產生的一測試控制信號，或用于接收另一測試控制信號并傳送至該測試向量產生器。

根據上述本發明所公開的測試裝置，藉由每一個測試電路板具有獨立運作能力，且都具有緩沖存儲器模塊控制器及測試向量產生器，可實現依測試物的實際腳位機動性地改變測試裝置的測試電路板的數量即能達成產生對應于上述實際腳位的測試信號。并且，當多個測試電路板群組化成一組測試電路時，由于該組測試電路中的每一個測試電路板都具有獨立的工作能力，使得測試電路群組存取數據、排程能力、產生測試信號等工作效能亦可對應增加，有效解決現有測試裝置的運作能力限制于中央控制器效能的問題。

以上關于本發明內容的說明及以下實施方式的說明用以示范與解釋本發明的原理，并且提供本發明的權利要求保護范圍更進一步的解釋。

附圖說明

圖1為根據本發明一實施例所繪示的測試裝置的示意圖。

圖2為根據本發明一實施例所繪示的測試電路板的功能方塊圖。

圖3為根據本發明另一實施例所繪示的測試向量產生器的功能方塊圖。

其中，附圖標記