[發(fā)明專利]測(cè)試裝置及其測(cè)試電路板有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710944186.X | 申請(qǐng)日: | 2017-10-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109655643B | 公開(公告)日: | 2020-12-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曾瀚升;廖江鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 致茂電子(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/28 | 分類號(hào): | G01R1/28;G11C7/10 |
| 代理公司: | 北京先進(jìn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11648 | 代理人: | 張覲;王海燕 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 裝置 及其 電路板 | ||
1.一種測(cè)試裝置,其特征在于,包括多個(gè)測(cè)試電路板,每一測(cè)試電路板均用于連接一動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器,以讀取該動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器中的測(cè)試向量并產(chǎn)生測(cè)試信號(hào),其中每一該測(cè)試電路板均具有獨(dú)立運(yùn)作能力,且每一該測(cè)試電路板包括:
一緩沖存儲(chǔ)器模塊,用于電性連接至該動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器,并用于自該動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器讀取并儲(chǔ)存多個(gè)測(cè)試向量;
一存儲(chǔ)器接口控制器,連接該緩沖存儲(chǔ)器模塊,且該存儲(chǔ)器接口控制器至少儲(chǔ)存讀取指令,以供該緩沖存儲(chǔ)器模塊從該動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器讀取測(cè)試向量;
一測(cè)試向量產(chǎn)生器,連接該緩沖存儲(chǔ)器模塊,且依據(jù)一測(cè)試微指令中的存儲(chǔ)器位置自該緩沖存儲(chǔ)器模塊讀取該多個(gè)測(cè)試向量之一,并以該讀取的測(cè)試向量產(chǎn)生一測(cè)試信號(hào);以及
一傳輸電路,連接該測(cè)試向量產(chǎn)生器,且該傳輸電路用于發(fā)送該測(cè)試向量產(chǎn)生器所產(chǎn)生的一測(cè)試控制信號(hào),或用于接收另一測(cè)試控制信號(hào)并傳送至該測(cè)試向量產(chǎn)生器,
其中,該多個(gè)測(cè)試電路板之一為一主控板,該多個(gè)測(cè)試電路板的其余者為至少一伺服板,該主控板的傳輸電路發(fā)送一測(cè)試控制信號(hào),該至少一伺服板的傳輸電路接收該測(cè)試控制信號(hào),其中該測(cè)試控制信號(hào)作為該多個(gè)測(cè)試電路板的同步運(yùn)作啟動(dòng)基準(zhǔn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其特征在于,該測(cè)試微指令預(yù)先寫入于該測(cè)試向量產(chǎn)生器中,或者包含于該讀取的測(cè)試向量中。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置,其特征在于,該測(cè)試向量產(chǎn)生器包括一測(cè)試微指令處理模塊及一測(cè)試圖案資料處理模塊,測(cè)試向量另包括一測(cè)試圖案資料,該測(cè)試微指令處理模塊執(zhí)行該測(cè)試微指令以讀取該緩沖存儲(chǔ)器模塊中的測(cè)試向量并控制該測(cè)試圖案資料處理模塊,該測(cè)試圖案資料處理模塊依據(jù)該測(cè)試微指令對(duì)該測(cè)試圖案資料執(zhí)行一算法,以產(chǎn)生該測(cè)試信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其特征在于,該緩沖存儲(chǔ)器模塊的讀取資料寬度大于該測(cè)試向量產(chǎn)生器的讀取資料寬度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置,其特征在于,該測(cè)試向量產(chǎn)生器包括依序連接的一測(cè)試微指令處理模塊、一先進(jìn)先出存儲(chǔ)器及一測(cè)試圖案資料處理模塊,測(cè)試向量另包括一測(cè)試圖案資料,該測(cè)試微指令處理模塊執(zhí)行該測(cè)試微指令以讀取該緩沖存儲(chǔ)器模塊中的測(cè)試向量并儲(chǔ)存于該先進(jìn)先出存儲(chǔ)器,該先進(jìn)先出存儲(chǔ)器依序地將所儲(chǔ)存的測(cè)試向量提供至該測(cè)試圖案資料處理模塊,該測(cè)試圖案資料處理模塊依據(jù)該測(cè)試微指令對(duì)該測(cè)試圖案資料執(zhí)行多種算法,以產(chǎn)生包括該測(cè)試信號(hào)的多個(gè)測(cè)試信號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試裝置,其特征在于,該測(cè)試向量產(chǎn)生器進(jìn)一步包括一解復(fù)用器,該解復(fù)用器連接該測(cè)試圖案資料處理模塊,且該解復(fù)用器依據(jù)該測(cè)試微指令的一演算選擇信號(hào),由該多個(gè)測(cè)試信號(hào)之中擇一輸出。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
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G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
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