[發明專利]一種批量校準電流偵測的裝置及方法

在審

• 申請號: 201710942065.1
• 申請日: 2017-10-11
• 公開（公告）號: CN107817460A
• 公開（公告）日: 2018-03-20
• 發明（設計）人: 茍昌華;王武軍
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司37105
• 代理人: 王汝銀

1.一種批量校準電流偵測的裝置，其特征是，包括：

基板管理控制器，分別與電壓調節器和負載芯片連接，用來向電壓調節器讀取并寫入數據，以及控制負載芯片的工作狀態；

電壓調節器，分別與基板管理控制器和負載芯片連接，用以對負載芯片的負載電流進行偵測，并存儲基板管理控制器寫入的數據。

2.根據權利要求1所述的一種批量校準電流偵測的裝置，其特征是，所述基板管理控制器內設有若干寄存器，所述的寄存器分別對應負載芯片和電壓調節器，并顯示負載芯片的工作狀態狀態，以及電壓調節器的偵測數據。

3.根據權利要求1所述的一種批量校準電流偵測的裝置，其特征是，所述基板管理控制器寫入電壓調節器的數據包括修正參數，用以作為電壓調節器校準的基準值。

4.根據權利要求1所述的一種批量校準電流偵測的裝置，其特征是，修正參數包括第一修正參數和第二修正參數，第一修正參數用以對電流偵測初始值進行絕對值校準，第二修正參數用以對電流偵測初始值放大倍數進行校準。

5.一種批量校準電流偵測的方法，其特征是，包括以下步驟：

S1：通過負載芯片對實驗室板卡的電壓調節器電流偵測進行校準，獲取原始校準數據；

S2：將原始校準數據寫入量產板卡的基板管理控制器中；

S3：基板管理控制器讀取量產板卡的負載電流，獲取實時校準數據；

S4：基板管理控制器利用原始校準數據和實時校準數據計算出修正參數；

S5：基板管理控制器將修正參數寫入電壓調節器內。

6.根據權利要求5所述的一種批量校準電流偵測的方法，其特征是，步驟S1的具體實現過程為：

S11：關斷負載芯片的負載，測量負載芯片的無負載電流值；

S12：給負載芯片兩端施加電壓，測量負載芯片的壓力電流值；

S13：將步驟S11中獲取無負載電流值和步驟S12中獲取的壓力電流值合并為原始校準數據。

7.根據權利要求5所述的一種批量校準電流偵測的方法，其特征是，步驟S3的具體實現過程為：

S31：基板管理控制器關斷負載芯片的負載，讀取負載芯片的無負載電流值；

S32：基板管理控制器給負載芯片兩端施加電壓，讀取負載芯片的壓力電流值；

S33：基板管理控制器將步驟S31中獲取無負載電流值和步驟S32中獲取的壓力電流值合并為實時校準數據。

8.根據權利要求5所述的一種批量校準電流偵測的方法，其特征是，步驟S4的具體實現過程為：

S41：基板管理控制器依據原始校準數據，得出理想偵測線y₁＝k₁x+b₁；

S42：基板管理控制器依據實時校準數據，得出測試偵測線y₂＝k₂x+b₂；

S43：計算第一修正參數b＝b₂-b₁；

S44：計算第二修正參數由k＝k₂/k₁。