[發明專利]一種望遠鏡光軸穩定性檢測方法

有效

• 申請號: 201710936877.5
• 申請日: 2017-10-10
• 公開（公告）號: CN107677456B
• 公開（公告）日: 2019-08-02
• 發明（設計）人: 丁求啟;毛南平;潘國平;蔣知彧;周云德;李其福;薛軍;袁誠宏
• 申請（專利權）人: 丁求啟
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 趙海波

本發明涉及一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，調整兩臺自準直儀的光軸在同一直線上，將被測標校望遠鏡放置在多維可調平臺上，調整平臺使望遠鏡光軸與自準直儀的光軸在同一直線上，將一可調反射鏡固定于被測望遠鏡目鏡旁邊，調整反射鏡角度，使其與自準直儀光軸垂直，固定好可調裝置，使其不再可動，將被測望遠鏡繞光軸水平翻轉180°，通過檢測被上述各光軸與可調反射鏡(7)偏移的角度即為被測望遠鏡(5)的光軸在正倒鏡狀態下的變化量。本發明通過自準直儀檢測標校望遠鏡在正鏡和倒鏡兩種狀態下的光軸變化量，能有效降低標校望遠鏡光軸在正倒鏡時的誤差，從而提高望遠鏡光軸穩定性檢測方法。

技術領域

本發明屬于光學技術領域，涉及一種望遠鏡光軸穩定性檢測方法。

背景技術

標校望遠鏡主要用于無線電測控天線軸系誤差的標定，在整個系統中起著重要的作用，其性能的好壞影響到測控設備測量精度。

標定軸系誤差時，標校望遠鏡正鏡(俯仰角E<90°)測量某一目標，錄取方位角和俯仰角的測量值分別為A+、E+；然后，方位轉動180°，俯仰轉動180°－2E+，再用標校望遠鏡測量同一目標，錄取方位角和俯仰角的測量值分別為A-、E-，稱為倒鏡。因此，標校望遠鏡光軸在正倒鏡時的誤差是影響望遠鏡性能的重要因素。

通過檢索，未發現標校望遠鏡正倒鏡下的光軸穩定性檢測方法的相關文獻。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是針對上述現有技術提供一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，通過自準直儀檢測標校望遠鏡在正鏡和倒鏡兩種狀態下的光軸變化量。

本發明解決上述問題所采用的技術方案為：一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，調整兩臺自準直儀A和B的光軸在同一直線上，將被測標校望遠鏡放置在多維可調平臺上，調整多維可調平臺的姿態使被測標校望遠鏡光軸與自準直儀B的光軸在同一直線上，將一可調反射鏡固定于被測望遠鏡的目鏡旁邊，調整可調反射鏡的反射角度，使其與自準直儀B的光軸垂直，固定好可調反射鏡的位置，使其不再可動，將被測望遠鏡繞其光軸水平翻轉180°，通過檢測上述各光軸與可調反射鏡偏移的角度即為被測望遠鏡的光軸在正倒鏡狀態下的變化量。

優選地，調整多維可調平臺使被測望遠鏡的光軸與自準直儀B的光軸在同一直線上，通過自準直儀B檢測自準直儀B的十字線經可調反射鏡反射后在自準直儀B分劃板的成像與自準直儀B的十字線偏移的角度即為被測望遠鏡的光軸在正倒鏡狀態下的變化量。

優選地，調整多維可調平臺使得自準直儀B的光軸與可調反射鏡垂直,通過被測望遠鏡檢測自準直儀A的十字線在被測望遠鏡分劃板的成像與被測望遠鏡內的十字線偏移的角度即為被測望遠鏡的光軸在正倒鏡狀態下的變化量。

優選地，自準直儀A和B的精度至少高于被測望遠鏡的光軸在正倒鏡狀態下的變化量指標一個數量級。

優選地，自準直儀A和自準直儀B相對放置在兩個固定平臺上，也可相對放置于中間帶凹槽的一個固定平臺上。

優選地，被測望遠鏡繞其光軸水平翻轉180°后，需要在其懸空部分放置硬質支撐物，使得被測望遠鏡能夠平穩的放置在多維可調平臺上。

優選地，由于標校望遠鏡和標校電視的使用場合和工作原理基本一致，此方法也可用于檢測標校電視在正倒鏡狀態下的光軸穩定性。

與現有技術相比，本發明的優點在于：

本發明通過自準直儀檢測標校望遠鏡在正鏡和倒鏡兩種狀態下的光軸變化量，能有效降低標校望遠鏡光軸在正倒鏡時的誤差，從而提高望遠鏡光軸穩定性檢測方法。

附圖說明

圖1為調整自準直儀光軸示意圖。

圖2為調整被測望遠鏡光軸與自準直儀光軸示意圖。

圖3為建立被測望遠鏡正鏡狀態下光軸基準示意圖。