[發(fā)明專利]一種望遠(yuǎn)鏡光軸穩(wěn)定性檢測方法

有效

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• 申請日: 2017-10-10
• 公開（公告）號: CN107677456B
• 公開（公告）日: 2019-08-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 丁求啟;毛南平;潘國平;蔣知彧;周云德;李其福;薛軍;袁誠宏
• 申請（專利權(quán)）人: 丁求啟
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 趙海波

本發(fā)明涉及一種標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡光軸穩(wěn)定性檢測方法，調(diào)整兩臺自準(zhǔn)直儀的光軸在同一直線上，將被測標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡放置在多維可調(diào)平臺上，調(diào)整平臺使望遠(yuǎn)鏡光軸與自準(zhǔn)直儀的光軸在同一直線上，將一可調(diào)反射鏡固定于被測望遠(yuǎn)鏡目鏡旁邊，調(diào)整反射鏡角度，使其與自準(zhǔn)直儀光軸垂直，固定好可調(diào)裝置，使其不再可動，將被測望遠(yuǎn)鏡繞光軸水平翻轉(zhuǎn)180°，通過檢測被上述各光軸與可調(diào)反射鏡(7)偏移的角度即為被測望遠(yuǎn)鏡(5)的光軸在正倒鏡狀態(tài)下的變化量。本發(fā)明通過自準(zhǔn)直儀檢測標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡在正鏡和倒鏡兩種狀態(tài)下的光軸變化量，能有效降低標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡光軸在正倒鏡時的誤差，從而提高望遠(yuǎn)鏡光軸穩(wěn)定性檢測方法。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種望遠(yuǎn)鏡光軸穩(wěn)定性檢測方法。

背景技術(shù)

標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡主要用于無線電測控天線軸系誤差的標(biāo)定，在整個系統(tǒng)中起著重要的作用，其性能的好壞影響到測控設(shè)備測量精度。

標(biāo)定軸系誤差時，標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡正鏡(俯仰角E<90°)測量某一目標(biāo)，錄取方位角和俯仰角的測量值分別為A+、E+；然后，方位轉(zhuǎn)動180°，俯仰轉(zhuǎn)動180°－2E+，再用標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡測量同一目標(biāo)，錄取方位角和俯仰角的測量值分別為A-、E-，稱為倒鏡。因此，標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡光軸在正倒鏡時的誤差是影響望遠(yuǎn)鏡性能的重要因素。

通過檢索，未發(fā)現(xiàn)標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡正倒鏡下的光軸穩(wěn)定性檢測方法的相關(guān)文獻(xiàn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對上述現(xiàn)有技術(shù)提供一種標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡光軸穩(wěn)定性檢測方法，通過自準(zhǔn)直儀檢測標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡在正鏡和倒鏡兩種狀態(tài)下的光軸變化量。

本發(fā)明解決上述問題所采用的技術(shù)方案為：一種標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡光軸穩(wěn)定性檢測方法，調(diào)整兩臺自準(zhǔn)直儀A和B的光軸在同一直線上，將被測標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡放置在多維可調(diào)平臺上，調(diào)整多維可調(diào)平臺的姿態(tài)使被測標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡光軸與自準(zhǔn)直儀B的光軸在同一直線上，將一可調(diào)反射鏡固定于被測望遠(yuǎn)鏡的目鏡旁邊，調(diào)整可調(diào)反射鏡的反射角度，使其與自準(zhǔn)直儀B的光軸垂直，固定好可調(diào)反射鏡的位置，使其不再可動，將被測望遠(yuǎn)鏡繞其光軸水平翻轉(zhuǎn)180°，通過檢測上述各光軸與可調(diào)反射鏡偏移的角度即為被測望遠(yuǎn)鏡的光軸在正倒鏡狀態(tài)下的變化量。

優(yōu)選地，調(diào)整多維可調(diào)平臺使被測望遠(yuǎn)鏡的光軸與自準(zhǔn)直儀B的光軸在同一直線上，通過自準(zhǔn)直儀B檢測自準(zhǔn)直儀B的十字線經(jīng)可調(diào)反射鏡反射后在自準(zhǔn)直儀B分劃板的成像與自準(zhǔn)直儀B的十字線偏移的角度即為被測望遠(yuǎn)鏡的光軸在正倒鏡狀態(tài)下的變化量。

優(yōu)選地，調(diào)整多維可調(diào)平臺使得自準(zhǔn)直儀B的光軸與可調(diào)反射鏡垂直,通過被測望遠(yuǎn)鏡檢測自準(zhǔn)直儀A的十字線在被測望遠(yuǎn)鏡分劃板的成像與被測望遠(yuǎn)鏡內(nèi)的十字線偏移的角度即為被測望遠(yuǎn)鏡的光軸在正倒鏡狀態(tài)下的變化量。

優(yōu)選地，自準(zhǔn)直儀A和B的精度至少高于被測望遠(yuǎn)鏡的光軸在正倒鏡狀態(tài)下的變化量指標(biāo)一個數(shù)量級。

優(yōu)選地，自準(zhǔn)直儀A和自準(zhǔn)直儀B相對放置在兩個固定平臺上，也可相對放置于中間帶凹槽的一個固定平臺上。

優(yōu)選地，被測望遠(yuǎn)鏡繞其光軸水平翻轉(zhuǎn)180°后，需要在其懸空部分放置硬質(zhì)支撐物，使得被測望遠(yuǎn)鏡能夠平穩(wěn)的放置在多維可調(diào)平臺上。

優(yōu)選地，由于標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡和標(biāo)校電視的使用場合和工作原理基本一致，此方法也可用于檢測標(biāo)校電視在正倒鏡狀態(tài)下的光軸穩(wěn)定性。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于：

本發(fā)明通過自準(zhǔn)直儀檢測標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡在正鏡和倒鏡兩種狀態(tài)下的光軸變化量，能有效降低標(biāo)校望遠(yuǎn)鏡光軸在正倒鏡時的誤差，從而提高望遠(yuǎn)鏡光軸穩(wěn)定性檢測方法。

附圖說明

圖1為調(diào)整自準(zhǔn)直儀光軸示意圖。

圖2為調(diào)整被測望遠(yuǎn)鏡光軸與自準(zhǔn)直儀光軸示意圖。

圖3為建立被測望遠(yuǎn)鏡正鏡狀態(tài)下光軸基準(zhǔn)示意圖。