[發明專利]一種望遠鏡光軸穩定性檢測方法

有效

• 申請號: 201710936877.5
• 申請日: 2017-10-10
• 公開（公告）號: CN107677456B
• 公開（公告）日: 2019-08-02
• 發明（設計）人: 丁求啟;毛南平;潘國平;蔣知彧;周云德;李其福;薛軍;袁誠宏
• 申請（專利權）人: 丁求啟
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 趙海波

1.一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，其特征在于：調整兩臺自準直儀A和B的光軸在同一直線上，將被測標校望遠鏡放置在多維可調平臺上，調整多維可調平臺的姿態使被測標校望遠鏡光軸與自準直儀B的光軸在同一直線上，將一可調反射鏡固定于被測望遠鏡的目鏡旁邊，調整可調反射鏡的反射角度，使其與自準直儀B的光軸垂直，固定好可調反射鏡的位置，使其不再可動，將被測望遠鏡繞其光軸水平翻轉180°，通過檢測自準直儀B的十字線與十字線在自準直儀B分劃板的成像的偏移角度即為被測望遠鏡的光軸在正倒鏡狀態下的變化量。

2.根據權利要求1所述的一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，其特征在于調整多維可調平臺使被測望遠鏡的光軸與自準直儀B的光軸在同一直線上，通過自準直儀B檢測自準直儀B的十字線經可調反射鏡反射后在自準直儀B分劃板的成像與自準直儀B的十字線偏移的角度即為被測望遠鏡的光軸在正倒鏡狀態下的變化量。

3.根據權利要求1所述的一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，其特征在于：調整多維可調平臺使得自準直儀B的光軸與可調反射鏡垂直,通過被測望遠鏡檢測自準直儀A的十字線在被測望遠鏡分劃板的成像與被測望遠鏡內的十字線偏移的角度即為被測望遠鏡的光軸在正倒鏡狀態下的變化量。

4.根據權利要求1所述的一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，其特征在于自準直儀A和B的精度至少高于被測望遠鏡的光軸在正倒鏡狀態下的變化量指標一個數量級。

5.根據權利要求2所述的一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，其特征在于自準直儀A和自準直儀B相對放置在兩個固定平臺上，也可相對放置于中間帶凹槽的一個固定平臺上。

6.根據權利要求2所述的一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，其特征在于被測望遠鏡繞其光軸水平翻轉180°后，需要在其懸空部分放置硬質支撐物，使得被測望遠鏡能夠平穩的放置在多維可調平臺上。

7.根據權利要求2所述的一種標校望遠鏡光軸穩定性檢測方法，其特征在于該方法用于標校電視光軸的穩定性。