[發明專利]一種雙CPU多通道FT量產測試系統及方法

有效

• 申請號: 201710932685.7
• 申請日: 2017-10-10
• 公開（公告）號: CN107908507B
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發明（設計）人: 龐新潔
• 申請（專利權）人: 芯海科技（深圳）股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市神州聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 44324
• 代理人: 王志強

本發明公開了一種雙CPU多通道FT量產測試系統及方法，該系統包括有人機接口處理模塊、handler控制模塊、開短路檢測模塊、數據存儲模塊、電源控制模塊、測試模塊、統計分析模塊和LCD觸控顯示模塊，所述handler控制模塊、開短路檢測模塊、數據存儲模塊、電源控制模塊、測試模塊、統計分析模塊設置于ARM處理器中，所述人機接口處理模塊和LCD觸控顯示模塊設置于LCD觸控顯示單元中。本發明實現測試和數據處理速度大大提高，且不受限于應用終端影響，解決數據的準確性和重復測試的問題，工作效率高，有利于控制產品的批量出貨質量。

技術領域

本發明屬于測試的技術領域，尤其涉及芯片模擬性能檢測、數據統計和分析及客戶代燒錄等的系統及方法。

背景技術

目前已有的單板量產測試裝置不能同時進行多個Handler同時控制和測試，不能自動將電壓、電流、時鐘頻率及上下拉電阻等多項指標測試，在量產測試時需要為掛儀器才能實現，靈活性差且投入高，常常會由于長時間接觸等問題，不能精確測試芯片各指標項，嚴重時也會出現指標誤判；芯片因性能出現的問題時，檢測設備沒有一套完整的檢測方法且不能同時進行統計分析，芯片與handler之間會由于接觸不實等問題帶來測試結果誤判；不能實時保存被測芯片的測試數據情況，給后面的芯片指標項分析工作帶來困難；由于沒有自適應電源控制和鉗位功能，不能將芯片校準到應有的水平，輸出電壓不穩定造成測試數據可行度變低；不同類別項目的測試需要開發新的測試平臺，平臺通用性差，開發新的測試裝置周期長，無法滿足FT量產測試的需求；沒有FPGA協處理器等并行處理，使得測試工作只能順序進行，測試時間長、測試成本高等缺點；缺少集成度較高的便攜式測試平臺，測試廠對測試成本便宜的批量產品需要占用一臺測試機，測試資源利用率低，不適于資源的有效配置，且測試控制軟件掌握要求門檻高，測試培訓及人員成本都是問題；機械按鍵操作不便，容易造成無誤觸發，不利于測試遠操作，在生產階段使用需要經常維護和更換；由于測試時各種問題導致的數據不可靠，手工測試重復性工作量大，為了定位數據異常問題，工程師分析問題需要花費時間多，人為參與整個過程，測試內耗較大，可維護性差；受傳統化的開發思路的影響缺少集成度高的測試及分析裝置，制約了FT量產測試效率。

發明內容

基于此，因此本發明的首要目地是提供一種雙CPU多通道FT量產測試系統及方法，該系統及方法以32位微處理器作為主控，FPGA作為協處理器構成雙CPU控制結構，同時控制多個Handler對芯片性能特性進行多通道測試和統計分析，同時可以測試開路、時鐘頻率等參數，采用自動化檢測技術，系統自適應補償，雙CPU結構使得測試效率高，軟硬件集成化的設計方法最大程度縮短開發周期，具備高性能、高測試效率。

本發明的另一個目地在于提供一種雙CPU多通道FT量產測試系統及方法，該系統及方法整個芯片指標測試和統計分析過程無需人為參與，能夠自動完成芯片批次數據歸類、多批次產品的數據收集并分析，整個過程自動化程度較高，維護便捷，投入成本降低。

為實現上述目的，本發明的技術方案為：

一種雙CPU多通道FT量產測試系統，其特征在于該系統包括有人機接口處理模塊、handler控制模塊、開短路檢測模塊、數據存儲模塊、電源控制模塊、測試模塊、統計分析模塊和LCD觸控顯示模塊，所述handler控制模塊、開短路檢測模塊、數據存儲模塊、電源控制模塊、測試模塊、統計分析模塊設置于ARM處理器中，所述人機接口處理模塊和LCD觸控顯示模塊設置于LCD觸控顯示單元中，LCD觸控顯示單元與ARM處理器通過數據傳輸接口進行通信。

所述系統，還包括有擴展測量模塊，所述擴展測量模塊由頻率測量單元、串行譯碼單元構成，所述頻率測量單元、串行譯碼單元集成于FPGA處理器中，所述FPGA處理器與ARM處理器通過FSMC接口進行通信。