[發(fā)明專利]一種雙CPU多通道FT量產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710932685.7
• 申請(qǐng)日: 2017-10-10
• 公開（公告）號(hào): CN107908507B
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 龐新潔
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 芯海科技（深圳）股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 深圳市神州聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44324
• 代理人: 王志強(qiáng)

1.一種雙CPU多通道FT量產(chǎn)測(cè)試方法，其特征在于該方法包括如下步驟：

101、系統(tǒng)上電，電源模塊、時(shí)鐘系統(tǒng)、IO端口、FSMC接口、Handler控制模塊、LCD觸控顯示設(shè)備、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備及測(cè)試模塊PMU電壓檢測(cè)單元初始化，接著啟動(dòng)DAC電壓控制單元，系統(tǒng)輸出電源電壓精度自校準(zhǔn)和外設(shè)模塊自檢；

102、連接Handler，并啟動(dòng)移動(dòng)存儲(chǔ)設(shè)備讀取被測(cè)芯片配置信息；

103、被測(cè)芯片獲取到配置文件，系統(tǒng)建立LCD菜單系統(tǒng)，等待用戶輸入控制指令，供用戶按鍵選擇執(zhí)行芯片量產(chǎn)FT測(cè)試；

104、開始量產(chǎn)FT測(cè)試；所述量產(chǎn)FT測(cè)試包括有開短路檢測(cè)、管腳測(cè)試、電量指標(biāo)測(cè)試、電流指標(biāo)項(xiàng)測(cè)試；

1041、系統(tǒng)關(guān)閉電源控制模塊，調(diào)用PMU電壓檢測(cè)單元，調(diào)用OS檢測(cè)模塊進(jìn)行開短路檢測(cè)，每一次系統(tǒng)都會(huì)控制Handler對(duì)被測(cè)芯片進(jìn)行OS開短路檢查，已確認(rèn)芯片和Handler的連接性是良好的；

1042、系統(tǒng)控制Handler夾緊被測(cè)芯片后，開始調(diào)用PMU電壓檢測(cè)單元采用加流測(cè)壓的方法檢測(cè)被測(cè)芯片管腳間電壓并保存，判斷被測(cè)芯片管腳間電壓是否在0.2V至1.2V之間，如果不在范圍內(nèi)，繼而判斷是否滿足規(guī)定檢測(cè)次數(shù)，不滿足則重新檢測(cè)管腳間電壓，再次執(zhí)行1042步驟，如果超過(guò)規(guī)定次數(shù)，記錄測(cè)試失效項(xiàng)、管腳編號(hào)和測(cè)試數(shù)據(jù)并保存，控制Handler投入OS失效bin，結(jié)束本芯片測(cè)試；如果被測(cè)芯片管腳間電壓在0.2V至1.2V之間，確定芯片接觸良好，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)并保存，執(zhí)行下一步；

1043、芯片OS接觸良好，LCD顯示OS當(dāng)前測(cè)試結(jié)果及測(cè)試數(shù)據(jù)，根據(jù)配置文件切換測(cè)試管腳，系統(tǒng)讀取配置文件測(cè)試順序表，確認(rèn)下一個(gè)被測(cè)管腳，判斷是否測(cè)試完，沒(méi)有測(cè)試完成，繼續(xù)執(zhí)行1042、1043步驟；OS測(cè)試完成，系統(tǒng)執(zhí)行下一步；

1044、進(jìn)入電量指標(biāo)測(cè)試，系統(tǒng)開啟電源模塊，開DAC電壓控制單元，使得被測(cè)芯片進(jìn)入燒錄模式和測(cè)試模式，關(guān)閉電子開關(guān)并開啟PMU電壓檢測(cè)單元，系統(tǒng)給被測(cè)芯片發(fā)送測(cè)試指令，迫使被測(cè)芯片進(jìn)入燒錄模式，讀取配置文件獲取芯片配置信息及直流電流特性設(shè)計(jì)值和漏電IO端口，系統(tǒng)配置被測(cè)芯片相應(yīng)的功能，根據(jù)測(cè)試列表開啟對(duì)應(yīng)管腳的電子開關(guān)，使得PMU電壓檢測(cè)單元通過(guò)handler與被測(cè)芯片管腳相連接，如果被測(cè)管腳為漏電管腳，PMU電壓檢測(cè)單元檢測(cè)漏電IO端口的漏電流，并記錄測(cè)試結(jié)果，執(zhí)行下一步；如果被測(cè)管腳不是漏電管腳，執(zhí)行下一步；

1045、電流指標(biāo)項(xiàng)測(cè)試，系統(tǒng)配置被測(cè)芯片成相應(yīng)電流測(cè)試項(xiàng)寄存器，檢測(cè)I/O管腳的IOH/IOL、漏電、sleephalt指標(biāo)項(xiàng)，通過(guò)電子開關(guān)順序切換和各指標(biāo)項(xiàng)的配置，測(cè)量的模塊工作電流，根據(jù)需要繼而計(jì)算出模塊功耗，存儲(chǔ)并顯示測(cè)試數(shù)據(jù)，協(xié)調(diào)Handler測(cè)試不同Handler不同通道相同類型電流指標(biāo)項(xiàng)；電壓指標(biāo)項(xiàng)測(cè)試，啟動(dòng)PMU電壓檢測(cè)單元，配置芯片成相應(yīng)電壓測(cè)試項(xiàng)寄存器，調(diào)用PMU電壓檢測(cè)單元檢測(cè)VIH\VIL、VOH\VOL及ADC VS指標(biāo)項(xiàng)，ADC VS根據(jù)二分查找法計(jì)算出trim數(shù)據(jù)并寫入寄存器，再次測(cè)量ADC VS數(shù)據(jù)并保存，存儲(chǔ)并顯示結(jié)果，協(xié)調(diào)Handler測(cè)試不同Handler不同通道相同類型電壓指標(biāo)項(xiàng)；

105、進(jìn)入擴(kuò)展測(cè)量模塊，讀取配置信息，獲取被測(cè)芯片是時(shí)鐘頻率測(cè)量的模塊數(shù)量，并獲取配置數(shù)據(jù)；

通過(guò)主控制處理器ARM和協(xié)處理器FPGA協(xié)同控制配置被測(cè)芯片寄存器，調(diào)整電子開關(guān)切換至?xí)r鐘頻率輸出端口，被測(cè)芯片保持在燒錄模式，調(diào)用擴(kuò)展測(cè)量模塊測(cè)試進(jìn)行時(shí)鐘頻率測(cè)試，實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)是否滿足設(shè)計(jì)需求，不滿足且小于規(guī)定次數(shù)，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)并保存，重復(fù)執(zhí)行本步驟；超過(guò)規(guī)定復(fù)測(cè)次數(shù)，LCD顯示記錄測(cè)試失效項(xiàng)、管腳編號(hào)和測(cè)試數(shù)據(jù)并保存，控制Handler投入時(shí)鐘頻率指標(biāo)項(xiàng)失效bin，結(jié)束測(cè)試；實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)滿足設(shè)計(jì)需求，LCD顯示時(shí)鐘頻率當(dāng)前測(cè)試結(jié)果及測(cè)試數(shù)據(jù)，切換至下一個(gè)時(shí)鐘頻率測(cè)試項(xiàng)，根據(jù)需要檢測(cè)的時(shí)鐘頻率模塊，判斷是否完成時(shí)鐘頻率測(cè)試，沒(méi)有完成，配置寄存器切換電子開關(guān)；完成所有時(shí)鐘頻率模塊測(cè)量，執(zhí)行下一步；

106、進(jìn)入數(shù)字功能測(cè)量單元，切換電子開關(guān)至被測(cè)芯片DFT管腳，讀取芯片配置文件獲取被測(cè)芯片時(shí)序信息和測(cè)試指令，系統(tǒng)給被測(cè)芯片發(fā)送時(shí)序信息和測(cè)試指令，同時(shí)獲取測(cè)試結(jié)果；

107、芯片進(jìn)入客戶代燒錄模式，進(jìn)行燒錄；

108、更新LCD觸控顯示設(shè)備，關(guān)閉測(cè)試模塊、電源模塊電壓自校準(zhǔn)模塊，系統(tǒng)進(jìn)入統(tǒng)計(jì)分析模塊，讀取以前各批次良率數(shù)據(jù)，對(duì)芯片測(cè)量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析, LCD顯示并保存統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，控制handler進(jìn)入好bin，系統(tǒng)進(jìn)入命令接收狀態(tài)，完成一次測(cè)試，繼續(xù)下一次被測(cè)芯片測(cè)試。