[發明專利]一種提高芯片量產測試效率的方法

有效

• 申請號: 201710895030.7
• 申請日: 2017-09-28
• 公開（公告）號: CN107907814B
• 公開（公告）日: 2020-03-17
• 發明（設計）人: 方學南
• 申請（專利權）人: 芯海科技（深圳）股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市神州聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 44324
• 代理人: 王志強

1.一種提高芯片量產測試效率的方法，其特征在于該方法首先芯片上電初始化串口，循環等待接收命令，當接收到數據后，對數據進行異或校驗，確保接收數據正確，然后對接收到的數據進行解析，區分命令是要配置寄存器還是進入測試項，如果是進入測試項，則把接收正確的數據當作地址送至PC指針，PC指針根據地址指向不同的測試項目，相應測試項目配置完成后，芯片再次循環等待接收命令，如果是進入寄存器配置，則向指定的地址寫入數據，配置完成后，芯片進入循環等待接收命令；

所述方法，先初始化芯片，進行相關配置，如果芯片本身帶有UART外設，則使用芯片自帶的外設，如果沒有，則用通用IO口模擬UART；

除了事先初始化串口外，還需要給需要測試的測試項分配不同的入口地址，入口地址的范圍由芯片字長決定，一般芯片的字長最小8位，最多可以鏈接256個測試項；

分配好入口地址后，就要進入不同的測試項進行設置，每個測試項單獨寫成一個文件，公共函數獨立為一個文件，方便各個模塊進行調用，寄存器配置也單獨分配一個地址，作為一個單獨文件，每個測試項配置完成后，返回到串口接收數據狀態。

2.如權利要求1所述的提高芯片量產測試效率的方法，其特征在于開始測試時，外部測試系統先發送數據0xA5，芯片接收到A5h后確認一幀數據開始傳輸，接著外部測試系統發送0x01或0x02，0x01代表選擇測試項目，0x02代表配置寄存器，芯片接收到數據后進入不同的情形，等待接收選擇測試項數值，如果是選擇測試項目，芯片系統接著就只需要接收0xFF和0xFF與測試項數值異或的數據；如果是選擇配置寄存器，則需要接收三個數據，分別是需要配置寄存器的地址、需要配置寄存器的值、以及寄存器地址和寄存器值異或的待校驗數據。

3.如權利要求2所述的提高芯片量產測試效率的方法，其特征在于該方法的具體實現步驟為：

101、初始化串口；

102、接收數據，并判斷是否接收到0xA5，如果是，則進行下一步，如果否則繼續接收數據；

103、進一步判斷是否接收到0x01或0x02，如果是，則進行下一步，如果否則繼續該步驟；

104、判斷接收的數據是0x01還是0x02，如果是0x01則轉到105步驟，如果是0x02，則轉到108步驟；

105、判斷是否接收到測試項入口地址，如果是則進行下一步，如果否則繼續該步驟；

106、判斷是否接收到0xFF，如果是則進行下一步，如果否則繼續該步驟；

107、判斷是否接收到異或的數據，如果是則進行112步驟，如果否則繼續該步驟；

108、判斷是否接收到寄存器配置項入口地址，如果是則進行下一步，如果否則繼續該步驟；

109、判斷是否接收到要配置的寄存器地址，如果是則進行下一步，如果否則繼續該步驟；

110、判斷是否接收到要配置的寄存器數據，如果是則進行下一步，如果否則繼續該步驟；

111、判斷是否接收到地址與數據異或的數據，如果是則進行下一步，如果否則繼續該步驟；

112、芯片對接收的數據進行處理；

113、判斷接收數據是否正確；

114、根據接收值選擇不同的測試項目進行測試。