[發明專利]一種大米質量檢測方法在審
| 申請號： | 201710893447.X | 申請日： | 2017-09-28 |
| 公開（公告）號： | CN109580492A | 公開（公告）日： | 2019-04-05 |
| 發明（設計）人： | 孫凱 | 申請（專利權）人： | 孫凱 |
| 主分類號： | G01N21/25 | 分類號： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 212136 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 高光譜儀 大米 采集數據 質量檢測 預處理 健康有序發展 高光譜圖像 采集平臺 采集系統 參數設定 合法權益 檢測技術 檢測結果 軟件安裝 特征選擇 無損檢測 移動檢測 校準 預熱 檢測 平鋪 分析 計算機 移動 | ||
【權利要求書】：
1.一種大米質量檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟1：準備一臺計算機、一臺高光譜儀設備，高光譜儀設備預熱及軟件安裝；
步驟2：對高光譜儀采集系統進行校準和參數設定；
步驟3：將待檢測大米平鋪在移動采集平臺上；
步驟4：高光譜儀采集數據；
步驟5：對采集數據進行預處理；
步驟6：大米高光譜圖像特征選擇、提取與分析。
2.根據權利要求1所述的一種大米質量檢測方法，其特征在于：所述步驟2中，采用白板標定方法對高光譜儀進行校準。
3.根據權利要求1所述的一種大米質量檢測方法，其特征在于：所述步驟3中，待檢測大米為隨機多處抽樣選取。
4.根據權利要求1所述的一種大米質量檢測方法，其特征在于：所述步驟4中，高光譜儀工作在400-1000nm波段范圍。
5.根據權利要求1所述的一種大米質量檢測方法，其特征在于：所述步驟5中，預處理包括原始高光譜圖像預處理、統計數據及圖表預處理。
6.根據權利要求1所述的一種大米質量檢測方法，其特征在于：所述步驟6中，對大米高光譜圖像特征從信噪比、灰度直方圖、光譜曲線、相關性四個方面進行分析。
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