[發明專利]基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法

有效

• 申請號: 201710890784.3
• 申請日: 2017-09-27
• 公開（公告）號: CN107725044B
• 公開（公告）日: 2020-09-04
• 發明（設計）人: 任小鋒;田方;羅菊蘭;魏嬌;蔡芳;牛林林;羅紅梅;馮春珍;崔麗香;龔愛華;閆海鵬;扈勇
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團公司;中國石油集團測井有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 姚詠華

本發明公開了一種基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法，以陣列感應深電阻率作為地層電阻率計算含水飽和度S_w；含水飽和度S_w與側向深電阻率得到的含水飽和度的差值經泥質束縛水飽和度校正即為增量D；計算儲層的增量D與含氣飽和度的比值計算單層試氣產水率；依據試氣產水率計算的結果與選擇儲層巖性一致的區塊進行回歸分析：當試氣產水率10％時，則預測數據受到影響較大，在比值10％時，給定兩個范圍配合試氣產水率計算公式；當試氣產水率≥10％時，則按回歸公式計算產水率。本發明利用地層不同賦存狀態流體的不同電阻率響應特征，建立區域產水率預測方程，該方法準確有效，可用于砂巖含氣儲層產水率預測。

技術領域

本發明涉及一種在規模壓裂條件下，基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法。

背景技術

砂巖產水率計算一般通過計算儲層的飽和度，再到計算不同流體的相對滲透率實現的。

對于砂巖儲層，由于巖性變化大，孔隙結構復雜造成儲層束縛水飽和度和相滲曲線的形態變化大。為了排除束縛水飽和度變化的影響，利用常規測井資料進行產水率預測，一般采用歸一化處理，采用彼爾遜經驗方程等先計算出油相、水相的相對滲透率，再根據產水率計算方程計算得到產水率。但是該方法受限于地層束縛水飽和度的計算及地區井眼參數，誤差較大；對于孔隙結構復雜造成儲層束縛水飽和度變化大的儲層，該方法適用性不好。

有學者先對含水飽和度歸一化處理，再根據統計規律，采用不完全Beta函數表示產水率與含水飽和度的關系，在新疆某油田取得了一定的應用效果。

發明內容

為了提高砂巖儲層流體性質識別的準確性，對于砂巖含氣儲層，由于氣水的粘度比差別大，產水率是一個以天然氣和地層水粘度比為系數與水、氣相相對滲透率比值為正比關系的函數。而水氣相相對滲透率比值是可動水飽和度的指數函數，因此可以利用一種基于陣列感應、側向測井的砂巖儲層可動水飽和度定量評價的方法中提供的可動水飽和度定量評價參數來擬合產水率。

本發明根據不同區域試氣數據，需要建立以一種基于陣列感應、側向測井的砂巖儲層可動水飽和度定量評價的方法中提供的可動水飽和度定量評價參數與產水率進行指數擬合，得到產水率預測方程。

本發明是通過下述技術方案來實現的。

一種基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法，包括以下步驟：

1)采用阿爾奇公式計算含水飽和度S_w；

2)含水飽和度S_w與側向深電阻率計算得到的含水飽和度的差值經過泥質束縛水飽和度校正即為增量D；

3)計算增量D與含氣飽和度的比值

4)依據試氣結果進行單層試氣產水率計算；

3)選擇儲層巖性一致的區塊，試氣產水率與進行回歸分析，得到回歸方程；

4)當試氣產水率10％時，則預測數據受到可動水飽和度定量評價參數數據影響較大，因此在時，給定兩個范圍配合試氣產水率計算公式使用。

進一步，所述步驟1)中，阿爾奇公式如下：

阿爾奇公式：其中：

S_w為含水飽和度，％；φ為孔隙度，％；R_w為地層水電阻率，Ω.m；R_t為巖石真電阻率，Ω.m；a、b、m、n分別為巖電參數，無量綱。

進一步，所述步驟2)中，增量D通過下式得到：

D＝S_wI-ak*SH-S_wL