[發明專利]基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法

有效

• 申請號: 201710890784.3
• 申請日: 2017-09-27
• 公開（公告）號: CN107725044B
• 公開（公告）日: 2020-09-04
• 發明（設計）人: 任小鋒;田方;羅菊蘭;魏嬌;蔡芳;牛林林;羅紅梅;馮春珍;崔麗香;龔愛華;閆海鵬;扈勇
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團公司;中國石油集團測井有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 姚詠華

1.基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)以陣列感應深電阻率作為地層電阻率，采用阿爾奇公式計算含水飽和度S_w；

2)含水飽和度S_w與側向深電阻率計算得到的含水飽和度的差值經過泥質束縛水飽和度校正即為增量D；

3)計算增量D與含氣飽和度的比值

4)依據標準進行單層試氣產水率計算；

5)選擇儲層巖性一致的區塊，試氣產水率與進行回歸分析，得到回歸方程如下；

其中，c為天然氣和地層水粘度比；a、b為系數；f_w為試氣產水率；

6)當試氣產水率10％時，則預測數據受到影響較大，因此在時，給定兩個范圍配合試氣產水率計算公式使用；當試氣產水率≥10％時，則按回歸公式計算產水率。

2.根據權利要求1所述的基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法，其特征在于，所述步驟1)中，阿爾奇公式如下：

阿爾奇公式：

其中：

S_w為含水飽和度，％；φ為孔隙度，％；R_w為地層水電阻率，Ω.m；R_t為巖石真電阻率，Ω.m；a、b、m、n分別為巖電參數，無量綱。

3.根據權利要求1所述的基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法，其特征在于，所述步驟2)中，增量D通過下式得到：

D＝S_wI-ak*SH-S_wL

其中：S_wI為陣列感應深電阻率計算的含水飽和度，％；ak為泥質校正因子，無量綱；SH為泥質含量，％；S_wL為側向深電阻率計算的含水飽和度，％。

4.根據權利要求1所述的基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法，其特征在于，所述步驟4)中，按照DZ/T 0217—2005《石油天然氣儲量計算規范》和SY/T6451—2000《探井測井處理解釋技術規范》制定的《長慶油田測井解釋符合率統計細則》，進行單層試氣產水率計算。

5.根據權利要求1所述的基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法，其特征在于，所述步驟5)中，去掉其中的10個產水率為0的差氣層和氣層點，只保留包含氣水兩相的試氣點，進行試氣產水率計算。

6.根據權利要求1所述的基于陣列感應、側向測井的砂巖含氣儲層產水率預測的方法，其特征在于，所述步驟6)中，給定兩個范圍配合試氣產水率計算公式使用：

a)當時，

b)當時，f_w＝0。