[發明專利]在機砂輪磨削層厚度檢測方法有效
| 申請號： | 201710878358.8 | 申請日： | 2017-09-26 |
| 公開（公告）號： | CN107742285B | 公開（公告）日： | 2020-11-10 |
| 發明（設計）人： | 徐挺;付魯華;季昱辰 | 申請（專利權）人： | 內江金鴻曲軸有限公司 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/44;G06T7/62;G01B11/06;B24B49/12 |
| 代理公司： | 成都正華專利代理事務所(普通合伙) 51229 | 代理人： | 李蕊;何凡 |
| 地址： | 641099 四川*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 砂輪 磨削 厚度 檢測 方法 | ||
1.在機砂輪磨削層厚度檢測方法，其特征在于，包括：
獲取若干砂輪圓周方向上的圖像，若干圖像包含完整的砂輪磨削層圓周面；
對所述圖像進行二值化處理后得到二值化圖像；
選取二值化圖像中與磨削層存在兩個交點的一行或一列像素，并提取該行/列像素中的兩個交點作為砂輪與磨削層的分界點；
連接兩個分界點構成一線段，構建一條過所述線段中心、且垂直線段的直線；
對預處理后的圖像進行亞像素細分后，對該直線的像素進行邊緣檢測，得到磨削層的內分界點和外分界點；
根據內分界點和外分界點之間的的像素數得到每張圖像中磨削層的厚度；
所述對該直線的像素進行邊緣檢測為根據直線上當前像素點的前面和后面設定閾值個像素點的灰度值進行檢測；
根據直線上當前像素點的前面和后面設定閾值個像素點的灰度值進行檢測進一步包括：
判讀所述直線上當前像素點前面和后面設定閾值個像素點的灰度值與設定閾值和設定值的關系：
若直線上當前像素點的前面設定閾值個像素點的灰度值均大于設定閾值、且當前像素點后面設定閾值個像素點的灰度值均小于設定值時，則當前像素點為磨削層的內分界點；
若直線上當前像素點的前面設定閾值個像素點的灰度值均大于設定值、且當前像素點后面設定閾值個像素點的灰度值均小于設定閾值時，則當前像素點為磨削層的外分界點。
2.根據權利要求1所述的在機砂輪磨削層厚度檢測方法，其特征在于，所述選取二值化圖像中與磨削層存在兩個交點的一行像素的方法包括：
從二值化圖像的第一行像素逐行計算黑色像素占該行像素的比例；
若黑色像素占該行像素的比例大于等于10％時，則選取該行像素作為與磨削層存在兩個交點的一行像素。
3.根據權利要求1所述的在機砂輪磨削層厚度檢測方法，其特征在于，選取從二值化圖像中由上至下的設定行像素作為與磨削層存在兩個交點的一行像素。
4.根據權利要求1-3任一所述的在機砂輪磨削層厚度檢測方法，其特征在于，所述提取該行像素中的兩個交點作為砂輪與磨削層的分界點進一步包括：
從該行像素的最左端向右端逐點進行判斷：
若一個像素點左側存在連續設定數量的像素點為黑色且右側存在連續設定數量的像素點為白色，則該點為其中一個交點；
若一個像素點左側存在連續設定數量的像素點為白色且右側存在連續設定數量的像素點為黑色，則該點為另外一個交點。
5.根據權利要求1所述的在機砂輪磨削層厚度檢測方法，其特征在于，獲取若干砂輪圓周方向上的圖像時，在相機旁放置朝向砂輪的正向照明光源，在砂輪的另一側放置朝向砂輪背向的照明光源。
6.根據權利要求1所述的在機砂輪磨削層厚度檢測方法，其特征在于，采用插值法、最小二乘估計法、多項式擬合法或灰度矩邊緣檢測算法對預處理后的圖像進行亞像素細分。
7.根據權利要求1所述的在機砂輪磨削層厚度檢測方法，其特征在于，在采集砂輪圓周方向上的圖像時，砂輪磨削層處于相機視場中間。
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