[發(fā)明專利]一種負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710873135.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107799247B | 公開(公告)日: | 2020-03-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪洋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇時(shí)恒電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01C7/04 | 分類號(hào): | H01C7/04;H01C1/14;H01C17/06 |
| 代理公司: | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200 | 代理人: | 樓高潮 |
| 地址: | 212434 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 溫度 系數(shù) 熱敏電阻 及其 制備 方法 | ||
1.一種負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻,其特征在于,陶瓷基片外側(cè)依次真空蒸鍍過渡層、電極層,電極外側(cè)還設(shè)有保護(hù)層,所述過渡層為厚度1-2μm的納米鎳層,納米鎳粒度在300-500nm之間,所述電極層為銅電極層;所述納米鎳層與銅形成固溶合金,所述負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻的制備方法包括如下步驟:
(1)選取陶瓷基片,待用;
(2)采用真空蒸鍍的方式制備納米鎳薄膜,其中真空度在5×10-1-2×10-7Pa,沉積速度在1-10nm/s;
(3)采用真空蒸鍍方式在陶瓷基片表面制備電極層,電極層厚度在1-2μm;
(4)對(duì)步驟(3)處理的陶瓷基片做燒結(jié)處理;
(5)對(duì)步驟(4)處理的陶瓷基片表面印刷保護(hù)層;
(6)將步驟(5)處理的陶瓷基片在250-300℃條件下固化處理,時(shí)間30-50min,冷卻至室溫;
(7)阻值和特性穩(wěn)定的前提下,利用多刀精調(diào)的方式對(duì)電阻體阻值進(jìn)行修正,并采用激光對(duì)電阻體進(jìn)行S形切割;
(8)經(jīng)過裂片、端封和表面處理,即得。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻,其特征在于,所述步驟(1)中選取的陶瓷基片在使用前先對(duì)陶瓷基片進(jìn)行打磨,清洗,使陶瓷基片表面粗糙度小于40nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻,其特征在于,所述步驟(4)中燒結(jié)溫度為700-750℃,燒結(jié)時(shí)間為8-12min。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻,其特征在于,所述步驟(5)采用200-250目的絲網(wǎng)印刷機(jī)將阻擋層涂覆在陶瓷基片表面,所述保護(hù)層為玻璃、環(huán)氧樹脂、聚酰亞胺、氧化硅的一種或多種,所述保護(hù)層的厚度為5-10μm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻,其特征在于,所述步驟(7)中,激光功率1-5W。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江蘇時(shí)恒電子科技有限公司,未經(jīng)江蘇時(shí)恒電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710873135.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 控制溫度/濕度或溫度的方法及控制溫度/濕度或溫度的裝置
- 藍(lán)牙雙溫度燒烤溫度儀
- 配對(duì)溫度計(jì)溫度確定
- 溫度控制裝置、溫度調(diào)節(jié)系統(tǒng)和溫度控制方法
- 溫度計(jì)、溫度檢測(cè)單元、溫度檢測(cè)裝置以及溫度檢測(cè)系統(tǒng)
- 溫度探測(cè)頭、溫度探測(cè)設(shè)備和溫度探測(cè)方法
- 溫度檢測(cè)方法、溫度檢測(cè)裝置和溫度檢測(cè)設(shè)備
- 溫度貼片及溫度檢測(cè)系統(tǒng)
- 溫度貼片及溫度檢測(cè)系統(tǒng)
- 溫度監(jiān)控設(shè)備、溫度監(jiān)控方法和溫度監(jiān)控系統(tǒng)
- 生成系數(shù)類型數(shù)據(jù)或系數(shù)數(shù)據(jù)的裝置、方法
- 串?dāng)_系數(shù)估計(jì)裝置和串?dāng)_系數(shù)估計(jì)方法
- 排放系數(shù)計(jì)算器與排放系數(shù)計(jì)算方法
- 摩擦系數(shù)估計(jì)設(shè)備和摩擦系數(shù)估計(jì)方法
- 吸隔音系數(shù)試樣及阻尼系數(shù)試樣取樣裝置
- 用于系數(shù)掃描的系數(shù)群及系數(shù)譯碼
- 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量裝置以及導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量方法
- 一種PID參數(shù)自整定方法
- 變換系數(shù)計(jì)算裝置、變換系數(shù)計(jì)算方法及變換系數(shù)計(jì)算程序
- 導(dǎo)熱系數(shù)儀





