[發明專利]圖像檢測系統、圖像檢測裝置以及圖像檢測方法有效
| 申請號: | 201710867556.4 | 申請日: | 2017-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN109539978B | 公開(公告)日: | 2021-06-25 |
| 發明(設計)人: | 朱志浩;周揚;陳閣 | 申請(專利權)人: | 沈機(上海)智能系統研發設計有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G01B11/24 |
| 代理公司: | 上海知錦知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人: | 高靜;李麗 |
| 地址: | 200433 上海市楊浦區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 檢測 系統 裝置 以及 方法 | ||
1.一種圖像檢測系統,適于對待測件進行檢測,其特征在于,所述圖像檢測系統包括:
照明模塊,適于照亮所述待測件,所述照明模塊包括多個光源,所述多個光源發出的光分別從不同方向斜入射至所述待測件,其中,所述光源發出的光在所述待測件表面的入射角為30°至60°;
圖像采集模塊,設置于所述待測件的上方,適于對所述待測件進行圖像采集;
采集控制模塊,與所述照明模塊和所述圖像采集模塊相連,適于控制所述多個光源分別開啟和關閉,并在光源開啟時控制所述圖像采集模塊對所述待測件進行圖像采集,獲得不同光源照亮下所述待測件的多幅圖像;
圖像處理模塊,與所述圖像采集模塊相連,適于對所述多幅圖像進行合成以獲得合成圖像,還適于對所述合成圖像進行邊緣特征提取以實現所述待測件的檢測;
所述圖像處理模塊適于對所述多幅圖像進行合成,包括:獲得每一幅圖像中各像素點的灰度,并以多幅圖像中同一像素點的灰度最小值作為所述合成圖像中對應像素點的灰度,實現多幅圖像的合成。
2.如權利要求1所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述光源包括發光面,所述發光面靠近所述待測件一側的最大長度大于所述待測件在與所述發光面平行方向上的最大長度。
3.如權利要求1所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述光源為條形光源、弧形光源和點光源中的一種或多種。
4.如權利要求1所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述圖像采集模塊為具有觸發拍照功能的工業相機。
5.如權利要求1所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述圖像處理模塊為工控機或者計算機處理系統。
6.如權利要求1所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述圖像處理模塊還與所述采集控制模塊相連,適于向所述采集控制模塊發送指令,以觸發所述采集控制模塊對所述照明模塊和所述圖像采集模塊的控制。
7.如權利要求1所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述采集控制模塊為可編程邏輯控制器和繼電器。
8.如權利要求1所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述待測件具有凹凸邊緣特征;
所述照明模塊中光源的數量大于等于四個,且所述多個光源圍繞所述待測件設置。
9.如權利要求8所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述多個光源圍繞所述待測件均勻分布。
10.如權利要求8所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述照明模塊包括四個條形光源,且所述四個條形光源圍繞所述待測件呈矩形排布。
11.如權利要求1所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述待測件具有高光表面;
所述照明模塊包括至少兩個光源,所述光源分別照亮所述待測件時,在所述高光表面的不同位置形成高光區域。
12.如權利要求11所述的圖像檢測系統,其特征在于,所述高光表面為弧面;
所述照明模塊包括兩個條形光源,所述兩個條形光源相互平行且分別位于所述弧面兩頂端的外側上方。
13.一種圖像檢測裝置,其特征在于,包括:
如權利要求1~12任一項權利要求所述的圖像檢測系統;
支架,適于固定照明模塊和圖像采集模塊。
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