[發明專利]圖像檢測系統、圖像檢測裝置以及圖像檢測方法

有效

• 申請號: 201710867556.4
• 申請日: 2017-09-22
• 公開（公告）號: CN109539978B
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 朱志浩;周揚;陳閣
• 申請（專利權）人: 沈機（上海）智能系統研發設計有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/24
• 代理公司: 上海知錦知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31327
• 代理人: 高靜;李麗

本發明提供一種圖像檢測系統、圖像檢測裝置以及圖像檢測方法，適于對待測件進行檢測，圖像檢測系統包括：適于照亮待測件的照明模塊，包括多個光源，多個光源發出的光分別從不同方向斜入射至待測件；圖像采集模塊，設置于待測件上方，適于對待測件進行圖像采集；采集控制模塊，與照明模塊和圖像采集模塊相連，適于控制多個光源分別開啟和關閉，并在光源開啟時控制圖像采集模塊對待測件進行圖像采集，獲得不同光源照亮下待測件的多幅圖像；圖像處理模塊，與圖像采集模塊相連，適于對多幅圖像進行合成以獲得合成圖像，還適于對合成圖像進行邊緣特征提取以實現待測件的檢測。本發明使合成圖像中待測件具有完整的邊緣特征，進而獲得較高的檢測精度。

技術領域

本發明涉及計算機視覺測量領域，尤其涉及一種圖像檢測系統、圖像檢測裝置以及圖像檢測方法。

背景技術

隨著技術的不斷發展，幾何測量已從尺寸、形位等簡單的平面及規則幾何體發展到復雜的二維和三維形體，尺寸范圍也有了很大的變化，采用傳統的接觸式測量己經無法滿足要求，于是各種非接觸式測量方法應運而生。計算機視覺測量作為一種高效先進的非接觸式測量手段，在各個領域已經得到了越來越廣泛的應用。

計算機視覺測量是以計算機視覺技術為基礎，融合電子技術、計算機技術、近景攝影測量技術、圖像處理技術為一體的測量技術，以測量為目的，從圖像信息出發計算三維空間中待測件的幾何信息。

但是，目前計算機視覺測量所獲得圖像的質量有待提高。

發明內容

本發明解決的問題是提供一種圖像檢測系統、圖像檢測裝置以及圖像檢測方法，提高計算機視覺測量所獲得圖像的質量，從而提高計算機視覺測量的檢測精度。

為解決上述問題，本發明提供一種圖像檢測系統，適于對待測件進行檢測，所述圖像檢測系統包括：照明模塊，適于照亮所述待測件，所述照明模塊包括多個光源，所述多個光源發出的光分別從不同方向斜入射至所述待測件；圖像采集模塊，設置于所述待測件的上方，適于對所述待測件進行圖像采集；采集控制模塊，與所述照明模塊和所述圖像采集模塊相連，適于控制所述多個光源分別開啟和關閉，并在光源開啟時控制所述圖像采集模塊對所述待測件進行圖像采集，獲得不同光源照亮下所述待測件的多幅圖像；圖像處理模塊，與所述圖像采集模塊相連，適于對所述多幅圖像進行合成以獲得合成圖像，還適于對所述合成圖像進行邊緣特征提取以實現所述待測件的檢測。

相應的，本發明還提供一種圖像檢測裝置，包括：本發明所述圖像檢測系統；支架，適于固定所述照明模塊和圖像采集模塊。

此外，本發明還提供一種圖像檢測方法，適于對待測件進行檢測，所述圖像檢測方法包括：設置照明模塊以照亮所述待測件，所述照明模塊包括多個光源，所述多個光源發出的光能分別從不同方向斜入射至所述待測件；控制所述多個光源分別開啟和關閉，并在所述光源照亮所述待測件時對所述待測件進行圖像采集，獲得不同光源照亮下所述待測件的多幅圖像；對所述多幅圖像進行合成以獲得合成圖像，并對所述合成圖像進行邊緣特征提取，以實現對所述待測件的檢測。

與現有技術相比，本發明的技術方案具有以下優點：

本發明提供一種適于對待測件進行檢測的圖像檢測系統，采用多個光源從不同方向斜入射至所述待測件并進行圖像采集、以及對所采集的多幅圖像進行合成的方式，使所述待測件清晰的邊緣特征能夠在不同光源照亮下分別呈現，這樣可以使合成圖像中，所述待測件具有較為完整的邊緣特征，從而可以提高計算機視覺測量所獲得合成圖像的質量，進而在以合成圖像進行邊緣特征提取和檢測時獲得較高的檢測精度。

附圖說明

圖1是一種圖像檢測方法的結構示意圖；

圖2是采用圖1所述檢測方法所獲得圖像的示意圖；

圖3是本發明圖像檢測系統一實施例的功能框圖；

圖4是圖3所示圖像檢測系統的結構示意圖；