[發明專利]線路上位置點阻抗測試方法、系統、裝置及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201710867523.X
• 申請日: 2017-09-22
• 公開（公告）號: CN107656141A
• 公開（公告）日: 2018-02-02
• 發明（設計）人: 曹斌;嚴小超
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 羅滿

技術領域

本發明涉及電子線路，特別涉及一種線路上位置點阻抗測試方法、系統、裝置及可讀存儲介質。

背景技術

電導線路是電子技術中重要的硬件之一，一般以線束或集成線路板的形式工作。隨著電子技術的發展，對于電子線路的質量要求越來越高，其線路阻抗是檢驗線路質量的一項重要參數。目前線路的檢測方法包括開短路測試、飛針測試等，這些方法能得到整體線路的阻抗值，但因為算法本身的緣故，只能依據得到的阻抗值判斷整段線路的開斷路情況，無法獲取線路上某一具體位置點的阻抗情況。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種線路上位置點阻抗測試方法、系統、裝置及可讀存儲介質。其具體方案如下：

一種線路上位置點阻抗測試方法，包括：

通過阻抗測試儀對所述線路進行阻抗測試，獲取所述線路阻抗測量數據組成的測試阻抗曲線；其中，所述測試阻抗曲線橫坐標為測試時間，縱坐標為對應的阻抗；

設置所述測試阻抗曲線上第一個波谷上升一半處的測試點M_(a,b)為起點，設置所述測試阻抗曲線上最后一段上升曲線上上升一半的測試點N_(c,d)為終點；

獲取所述線路的全長l；

對任一位置點，當已獲取所述位置點和所述線路的測試起始端的距離s，按照公式：

計算得到測試阻抗曲線上對應的測試點Q的橫坐標x；

根據測試阻抗曲線上測試點Q的橫坐標x，得到對應的點Q坐標(x,y)，從而得到所述位置點的阻抗。

優選的，所述測試方法還包括：

當已獲取所述測試阻抗曲線上某一點P的坐標(m,n)，按照公式：

得到所述點P對應的位置點與所述線路的測試起始端的距離r，確認所述點P對應的位置點和該位置點的阻抗。

優選的，所述測試方法還包括：

對任一測試點，計算誤差區間內阻抗的平均值，獲取該測試點的修正阻抗；其中，所述誤差區間為該測試點的橫坐標±預設誤差值的取值區間，且所述線路上存在與該測試點對應的位置點。

優選的，所述測試方法還包括：

判斷該位置點的所述修正阻抗是否在規定阻抗范圍內；如果否，則判定該位置點阻抗異常。

本發明還公開了一種線路上位置點阻抗測試系統，包括：

曲線獲取模塊，用于通過阻抗測試儀對所述線路進行阻抗測試，獲取所述線路阻抗測量數據組成的測試阻抗曲線；其中，所述測試阻抗曲線橫坐標為測試時間，縱坐標為對應的阻抗；

端點設置模塊，用于設置所述測試阻抗曲線上第一個波谷上升一半處的測試點M_(a,b)為起點，設置所述測試阻抗曲線上最后一段上升曲線上上升一半的測試點N_(c,d)為終點；

線長獲取模塊，用于獲取所述線路的全長l；

坐標獲取模塊，用于對任一位置點，當已獲取所述位置點和所述線路的測試起始端的距離s，按照公式：

計算得到測試阻抗曲線上對應的測試點Q的橫坐標x；

阻抗獲取模塊，用于根據測試阻抗曲線上測試點Q的橫坐標x，得到對應的點Q坐標(x,y)，從而得到所述位置點的阻抗。

優選的，所述測試系統還包括：

距離獲取模塊，用于當已獲取所述測試阻抗曲線上某一點P的坐標(m,n)，按照公式：

得到所述點P對應的位置點與所述線路的測試起始端的距離r，確認所述點P對應的位置點和該位置點的阻抗。

優選的，所述測試系統還包括：

阻抗修正模塊，用于對任一測試點，計算誤差區間內阻抗的平均值，獲取該測試點的修正阻抗；其中，所述誤差區間為該測試點的橫坐標±預設誤差值的取值區間，且所述線路上存在與該測試點對應的位置點。

優選的，所述測試系統還包括：

判斷模塊，用于判斷該位置點的所述修正阻抗是否在規定阻抗范圍內；如果否，則判定該位置點阻抗異常。

本發明還公開了一種線路上位置點阻抗測試裝置，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序時實現如上文所述線路上位置點阻抗測試方法的步驟。

本發明還公開了一種可讀存儲介質，所述可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如上文所述線路上位置點阻抗測試方法的步驟。