[發明專利]線路上位置點阻抗測試方法、系統、裝置及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201710867523.X
• 申請日: 2017-09-22
• 公開（公告）號: CN107656141A
• 公開（公告）日: 2018-02-02
• 發明（設計）人: 曹斌;嚴小超
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 羅滿

1.一種線路上位置點阻抗測試方法，其特征在于，包括：

通過阻抗測試儀對所述線路進行阻抗測試，獲取所述線路阻抗測量數據組成的測試阻抗曲線；其中，所述測試阻抗曲線橫坐標為測試時間，縱坐標為對應的阻抗；

設置所述測試阻抗曲線上第一個波谷上升一半處的測試點M_(a,b)為起點，設置所述測試阻抗曲線上最后一段上升曲線上上升一半的測試點N_(c,d)為終點；

獲取所述線路的全長l；

對任一位置點，當已獲取所述位置點和所述線路的測試起始端的距離s，按照公式：

x=a+(c-a)×sl]]>

計算得到測試阻抗曲線上對應的測試點Q的橫坐標x；

根據測試阻抗曲線上測試點Q的橫坐標x，得到對應的點Q坐標(x,y)，從而得到所述位置點的阻抗。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，還包括：

當已獲取所述測試阻抗曲線上某一點P的坐標(m,n)，按照公式：

r=m-ac-a×l]]>

得到所述點P對應的位置點與所述線路的測試起始端的距離r，確認所述點P對應的位置點和該位置點的阻抗。

3.根據權利要求1或2所述的測試方法，其特征在于，還包括：

對任一測試點，計算誤差區間內阻抗的平均值，獲取該測試點的修正阻抗；其中，所述誤差區間為該測試點的橫坐標±預設誤差值的取值區間，且所述線路上存在與該測試點對應的位置點。

4.根據權利要求3所述的測試方法，其特征在于，還包括：

判斷該位置點的所述修正阻抗是否在規定阻抗范圍內；如果否，則判定該位置點阻抗異常。

5.一種線路上位置點阻抗測試系統，其特征在于，包括：

曲線獲取模塊，用于通過阻抗測試儀對所述線路進行阻抗測試，獲取所述線路阻抗測量數據組成的測試阻抗曲線；其中，所述測試阻抗曲線橫坐標為測試時間，縱坐標為對應的阻抗；

端點設置模塊，用于設置所述測試阻抗曲線上第一個波谷上升一半處的測試點M_(a,b)為起點，設置所述測試阻抗曲線上最后一段上升曲線上上升一半的測試點N_(c,d)為終點；

線長獲取模塊，用于獲取所述線路的全長l；

坐標獲取模塊，用于對任一位置點，當已獲取所述位置點和所述線路的測試起始端的距離s，按照公式：

x=a+(c-a)×sl]]>

計算得到測試阻抗曲線上對應的測試點Q的橫坐標x；

阻抗獲取模塊，用于根據測試阻抗曲線上測試點Q的橫坐標x，得到對應的點Q坐標(x,y)，從而得到所述位置點的阻抗。