[發明專利]一種存儲芯片分類方法、分類裝置及分類系統

在審

• 申請號: 201710862503.3
• 申請日: 2017-09-21
• 公開（公告）號: CN107705819A
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: 方時靈
• 申請（專利權）人: 深圳市致存微電子企業（有限合伙）
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56;G11C29/44
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所44287
• 代理人: 胡海國,晏波

技術領域

本發明屬于芯片測試技術領域，尤其涉及一種存儲芯片分類方法、分類裝置及分類系統。

背景技術

一般芯片在使用之前都需要進行質量檢測，并根據檢測結果來確定芯片的應用方向，以存儲芯片為例，質量等級高的存儲芯片可以用來制作例如：固態硬盤(Solid State Drives，SSD)、安全數碼卡(Secure Digital Card，SD card)、USB3.0高速U盤等一類的存儲設備，而一些質量等級相對較高的存儲芯片則可以用來制作普通U盤，但有些質量較差的存儲芯片則并不適合投入到市場上。

目前，常用的芯片檢測及分類方法大致是將待測芯片放置在檢測裝置上，并將檢測裝置連接到儲存有芯片檢測程序的測試主機(例如個人電腦)，通過運行測試主機上的檢測程序來顯示待測芯片的容量等級，然后由操作員根據芯片對應的容量等級來確定其應用方向。

現有的芯片檢測及分類方法存在以下缺點：

檢測裝置與測試主機在芯片檢測過程中數據通信頻繁，耗時較長，一方面，較長的檢測時間會導致生產成本的增加；而另一方面，芯片放置在特定的檢測環境下可能會導致芯片損壞；

只能檢測待測芯片的容量等級，檢測內容單一，導致檢測結果不準確。

上述內容僅用于輔助理解本發明的技術方案，并不代表承認上述內容是現有技術。

發明內容

本發明的主要目的在于提供了一種存儲芯片分類方法、分類裝置及分類系統，旨在解決現有芯片檢測裝置存在的檢測效率低，檢測結果準確性不佳的技術問題。

為實現上述目的，本發明提供了一種存儲芯片分類方法，所述方法包括以下步驟:

獲取待測存儲芯片的標識信息，并根據所述標識信息獲取所述待測存儲芯片對應的檢測指令；

根據所述檢測指令對所述待測存儲芯片進行質量檢測，獲取檢測結果參數；

根據所述檢測結果參數對所述待測存儲芯片進行分類，獲取所述待測存儲芯片對應的質量等級。

優選地，所述根據所述檢測指令對所述待測存儲芯片進行檢測，獲取檢測結果參數，具體包括：

對所述檢測指令進行解析，獲取所述檢測指令中包含的檢測數據和檢測命令；

根據所述檢測數據和所述檢測命令，對所述待測存儲芯片進行檢測，獲取檢測結果參數。

優選地，所述檢測命令包括：數據擦除、數據寫入和數據讀取；

相應地，所述根據所述檢測數據和所述檢測命令，對所述待測存儲芯片進行質量檢測，獲取檢測結果參數，具體包括：

根據所述檢測數據，對所述待測存儲芯片依次進行數據擦除、數據寫入以及數據讀取；

獲取對所述待測存儲芯片依次進行數據擦除、數據寫入以及數據讀取操作過程中的操作數據；

每隔預設時間周期對所述待測存儲芯片進行采樣，獲取采樣數據；

根據所述操作數據以及所述采樣數據，生成所述檢測結果參數。

優選地，所述根據所述檢測結果參數對所述待測存儲芯片進行分類，獲取所述待測存儲芯片對應的質量等級，具體包括：

根據所述檢測結果參數計算出所述待測存儲芯片的性能參數；

根據所述性能參數對所述待測存儲芯片進行分類，獲取所述待測存儲芯片對應的質量等級；所述性能參數包括：數據讀取正確率、數據寫入速率以及數據讀取速率。

優選地，所述檢測結果參數包括：寫入的數據內容、讀取的數據內容、數據擦除時長、數據寫入時長、數據讀取時長以及數據糾錯時長。

此外，為實現上述目的，本發明還提出一種存儲芯片分類裝置，所述存儲芯片分類裝置包括：

檢測芯片、處理器及存儲在所述檢測芯片上的存儲芯片分類程序，所述存儲芯片分類程序被所述處理器執行時實現如上文所述的存儲芯片分類方法的步驟。

此外，為實現上述目的，本發明還提出一種存儲芯片分類系統，所述存儲芯片分類系統包括：測試主機和檢測芯片，所述測試主機和所述檢測芯片連接；

所述測試主機，用于獲取待測存儲芯片的標識信息，根據所述標識信息獲取所述待測存儲芯片對應的檢測指令，并根據所述檢測指令生成目標指令；

所述檢測芯片，用于獲取所述目標指令，對所述目標指令進行解析，并根據解析結果對所述待測存儲芯片進行質量檢測，獲取檢測結果參數；

所述測試主機，還用于根據所述檢測結果參數對所述待測存儲芯片進行分類，獲取所述待測存儲芯片對應的質量等級。