[發明專利]一種存儲芯片分類方法、分類裝置及分類系統

在審

• 申請號: 201710862503.3
• 申請日: 2017-09-21
• 公開（公告）號: CN107705819A
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: 方時靈
• 申請（專利權）人: 深圳市致存微電子企業（有限合伙）
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56;G11C29/44
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所44287
• 代理人: 胡海國,晏波

1.一種存儲芯片分類方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待測存儲芯片的標識信息，并根據所述標識信息獲取所述待測存儲芯片對應的檢測指令；

根據所述檢測指令對所述待測存儲芯片進行質量檢測，獲取檢測結果參數；

根據所述檢測結果參數對所述待測存儲芯片進行分類，獲取所述待測存儲芯片對應的質量等級。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述檢測指令對所述待測存儲芯片進行檢測，獲取檢測結果參數，具體包括：

對所述檢測指令進行解析，獲取所述檢測指令中包含的檢測數據和檢測命令；

根據所述檢測數據和所述檢測命令，對所述待測存儲芯片進行檢測，獲取檢測結果參數。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述檢測命令包括：數據擦除、數據寫入和數據讀取；

相應地，所述根據所述檢測數據和所述檢測命令，對所述待測存儲芯片進行質量檢測，獲取檢測結果參數，具體包括：

根據所述檢測數據，對所述待測存儲芯片依次進行數據擦除、數據寫入以及數據讀取；

獲取對所述待測存儲芯片依次進行數據擦除、數據寫入以及數據讀取操作過程中的操作數據；

每隔預設時間周期對所述待測存儲芯片進行采樣，獲取采樣數據；

根據所述操作數據以及所述采樣數據，生成所述檢測結果參數。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，根據所述檢測結果參數對所述待測存儲芯片進行分類，獲取所述待測存儲芯片對應的質量等級，具體包括：

根據所述檢測結果參數計算出所述待測存儲芯片的性能參數；

根據所述性能參數對所述待測存儲芯片進行分類，獲取所述待測存儲芯片對應的質量等級；所述性能參數包括：數據讀取正確率、數據寫入速率以及數據讀取速率。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述檢測結果參數包括：寫入的數據內容、讀取的數據內容、數據擦除時長、數據寫入時長、數據讀取時長以及數據糾錯時長。

6.一種存儲芯片分類裝置，其特征在于，所述存儲芯片分類裝置包括：檢測芯片、處理器及存儲在所述檢測芯片上的存儲芯片分類程序，所述存儲芯片分類程序被所述處理器執行時實現如權利要求1至5中任一項所述的存儲芯片分類方法的步驟。

7.一種存儲芯片分類系統，其特征在于，所述存儲芯片分類系統包括：測試主機和檢測芯片，所述測試主機和所述檢測芯片連接；

所述測試主機，用于獲取待測存儲芯片的標識信息，根據所述標識信息獲取所述待測存儲芯片對應的檢測指令，并根據所述檢測指令生成目標指令；

所述檢測芯片，用于獲取所述目標指令，對所述目標指令進行解析，并根據解析結果對所述待測存儲芯片進行質量檢測，獲取檢測結果參數；

所述測試主機，還用于根據所述檢測結果參數對所述待測存儲芯片進行分類，獲取所述待測存儲芯片對應的質量等級。

8.如權利要求7所述的存儲芯片分類系統，其特征在于，所述測試主機，還用于獲取待測存儲芯片的標識碼，根據所述標識碼在映射關系中查找所述標識碼對應的檢測指令，并對所述檢測指令進行壓縮，獲得所述目標指令；所述映射關系中包括存儲芯片標識碼與檢測指令之間的對應關系。

9.如權利要求8所述的存儲芯片分類系統，其特征在于，所述檢測芯片，還用于對所述檢測結果參數進行壓縮獲得目標數據，并將所述目標數據保存至存儲空間；

相應地，所述測試主機，還用于從所述檢測芯片的所述存儲空間中獲取所述目標數據，并對所述目標數據進行解壓縮獲得所述檢測結果參數，并根據所述檢測結果參數對所述待測存儲芯片進行分類，獲取所述待測存儲芯片對應的質量等級。

10.如權利要求9所述的存儲芯片分類系統，其特征在于，所述測試主機，還用于根據所述待測存儲芯片對應的質量等級，生成所述待測存儲芯片對應的應用方向參考信息。