[發(fā)明專利]濾光片檢測裝置及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710861037.7
• 申請日: 2017-09-21
• 公開（公告）號: CN107607595B
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙文龍;王棟;崔曉強;徐海燕;王釗;齊超;趙梓亨;唐歡;金賢鎮(zhèn)
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G01N27/24
• 分類號: G01N27/24;G01B7/06
• 代理公司: 北京市立方律師事務(wù)所 11330
• 代理人: 劉延喜;王增鑫

本發(fā)明提供一種濾光片檢測裝置，包括測量裝置與數(shù)據(jù)處理裝置，所述測量裝置與所述數(shù)據(jù)處理裝置電連接以便所述數(shù)據(jù)處理裝置接收并處理所述測量裝置采集的數(shù)據(jù)；所述測量裝置包括相對設(shè)置的第一電極板和第二電極板，所述第一電極板和第二電極板內(nèi)皆設(shè)有多個金屬探針，所述第一電極板內(nèi)的金屬探針與所述第二電極板內(nèi)的金屬探針相互配合；所述數(shù)據(jù)處理裝置內(nèi)存儲有所述第一電極板內(nèi)的各金屬探針和所述第二電極板內(nèi)的各金屬探針的預設(shè)坐標值。本發(fā)明的濾光片檢測裝置可確定濾光片中的異常剝離膜層，同時可確定該異常剝離膜層中發(fā)生異常剝離的具體位置。相應地，本發(fā)明還提供了一種濾光片檢測方法。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及濾光片測量技術(shù)及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種濾光片檢測裝置，以及相應的濾光片檢測方法。

背景技術(shù)

彩色濾光片主要由玻璃基板、黑色矩陣、彩色層、保護層以及隔墊物構(gòu)成。彩色濾光片作為TFT-LCD的重要組成部分，是決定液晶顯示屏彩色化、顯示屏色彩表現(xiàn)力的關(guān)鍵零組件。

在彩色濾光片制作的過程中，會出現(xiàn)膜層異常剝離的現(xiàn)象，而膜層發(fā)生異常剝離常常會導致產(chǎn)品出現(xiàn)多種不良狀況，產(chǎn)品良率降低從而增加制造成本。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的旨在提供一種濾光片檢測裝置，可確定濾光片中的異常剝離膜層，同時可確定該異常剝離膜層中發(fā)生異常剝離的具體位置。

本發(fā)明的另一目的是提供一種濾光片檢測方法，其運用于所述濾光片檢測裝置中，可確定濾光片中的異常剝離膜層以及該異常剝離膜層中發(fā)生異常剝離的具體位置。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供以下技術(shù)方案：

本發(fā)明提供平一種濾光片檢測裝置，其包括測量裝置與數(shù)據(jù)處理裝置，所述測量裝置與所述數(shù)據(jù)處理裝置電連接以便所述數(shù)據(jù)處理裝置接收并處理所述測量裝置采集的數(shù)據(jù)；所述測量裝置包括相對設(shè)置的第一電極板和第二電極板，所述第一電極板和第二電極板內(nèi)皆設(shè)有多個金屬探針，所述第一電極板內(nèi)的金屬探針與所述第二電極板內(nèi)的金屬探針相互配合；所述數(shù)據(jù)處理裝置內(nèi)存儲有所述第一電極板內(nèi)的各金屬探針和所述第二電極板內(nèi)的各金屬探針的預設(shè)坐標值。

具體地，所述測量裝置還包括電源、絕緣殼體、第一平臺和第二平臺，所述第一平臺設(shè)于所述絕緣殼體底端內(nèi)側(cè)面，所述第二平臺設(shè)于所述絕緣殼體頂端內(nèi)側(cè)面；所述第一電極板和第二電極板設(shè)于所述第一平臺與第二平臺之間，所述第一電極板緊貼所述第一平臺，所述第二電極板緊貼所述第二平臺；所述第一平臺和第二平臺分別與所述電源正負極連接。

較佳地，所述第一電極板和第二電極板中的所有金屬探針皆以行列形式排列，同一電極板內(nèi)相同行或相同列中任意兩相鄰所述金屬探針之間等間距設(shè)置。

較佳地，所述第一電極板的表面和第二電極板的表面皆設(shè)有保護層。

相應地，本發(fā)明還提供一種濾光片檢測方法，其運用于上述任意一項技術(shù)方案所述的濾光片檢測裝置，包括如下步驟：S1：所述數(shù)據(jù)處理裝置獲取并記錄待測濾光片厚度的實測值D₂；S2：所述數(shù)據(jù)處理裝置計算并確定待測濾光片不計入某一膜層厚度時該濾光片的厚度D₂’；S3：所述數(shù)據(jù)處理裝置計算D₂與D₂’的差值；S4：依次重復步驟S2和S3，確定每次不計入不同單一膜層的厚度時待測濾光片的厚度D₂’及D₂與D₂’的差值；S5：對比判斷不計入不同單一膜層厚度時D₂與各D₂’的差值，以確定該差值為最小時所對應的未計入的膜層為異常剝離膜層。

進一步地，所述濾光片檢測方法還包括如下具體步驟：所述數(shù)據(jù)處理裝置計算所述異常剝離膜層中各點對應于所述第一電極板和第二電極板之間的電容值，確定該膜層中發(fā)生異常剝離的具體位置。