[發明專利]封裝方法有效
| 申請號: | 201710858693.1 | 申請日: | 2017-09-21 |
| 公開(公告)號: | CN107706119B | 公開(公告)日: | 2019-10-22 |
| 發明(設計)人: | 周曉鋒;陳升東;張雪峰;柯賢軍;蘇君海;李建華 | 申請(專利權)人: | 信利(惠州)智能顯示有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/56 | 分類號: | H01L21/56 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 葉劍 |
| 地址: | 516029 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 封裝 方法 | ||
一種封裝方法,包括如下步驟:在基板上涂覆聚酰亞胺層,其中,基板上具有鉆孔區以及圍繞鉆孔區設置的顯示區;對聚酰亞胺層進行曝光顯影操作后,在鉆孔區的邊緣形成圈狀圖案層,在顯示區上形成點狀圖案層;在基板上蒸鍍有機材料層;在后蓋板上于顯示區的邊緣涂覆外圈封裝材料層,在后蓋板上于圈狀圖案層的內側涂覆內圈封裝材料層,將后蓋板安裝在基板上;采用激光燒結方式使外圈封裝材料層分別與基板及后蓋板粘接,以及使內圈封裝材料層分別與基板及后蓋板粘接。上述封裝方法中通過在鉆孔區的邊緣形成圈狀圖案層,利用圈狀圖案層能夠避免激光時有機材料碳化后形成的黑色粉塵進入顯示區域。
技術領域
本發明涉及封裝技術領域,特別是涉及一種封裝方法。
背景技術
主動式有機發光二極管(Active Matrix Organic Lighting Emitting Diode,AMOLED)作為第三代顯示技術,具有自主發光,視角廣,相應速度快,功耗低等特點,對于主動式有機發光二極管的研究已經成為顯示技術發展的主要方向。
隨著AMOLED產品要求的多樣化,AMOLED生產中存在的技術壁壘也越來越多的表現出來。針對中間需要鉆孔的各種類型的產品,例如,手表,手機和車載類的非規則屏幕,以圓形手表為例進行說明,由于蒸鍍掩膜板(Mask)的限制,中間需要鉆孔的區域也會蒸鍍到有機材料,而當基板與封裝后蓋貼合之后,有機材料會與封裝材料接觸,封裝材料一般為玻璃材料,當對封裝材料進行激光燒結時,鉆孔的區域上的有機材料會受高溫碳化,產生大量黑色的粉塵進入顯示區,從而影響產品的品質。也就是說,激光燒結的溫度很高,有機材料不能承受此高溫,被照射后會碳化,產生大量的黑色粉塵,對于中間需要鉆孔的手表類產品,待鉆孔區域的封裝材料不可避免地要與有機材料相接觸,這樣,在激光燒結的時候必然會產生粉塵,粉塵進入顯示區域會嚴重影響產品品質。
發明內容
基于此,有必要提供一種能夠避免有機材料碳化后形成的黑色粉塵進入顯示區域的封裝方法。
一種封裝方法,包括如下步驟:
在基板上涂覆聚酰亞胺層,其中,所述基板上具有鉆孔區以及圍繞所述鉆孔區設置的顯示區;
對所述聚酰亞胺層進行曝光顯影操作后,在所述鉆孔區的邊緣形成圈狀圖案層,在所述顯示區上形成點狀圖案層;
在所述基板上蒸鍍有機材料層;
在后蓋板上于所述顯示區的邊緣涂覆外圈封裝材料層,在所述后蓋板上于所述圈狀圖案層的內側涂覆內圈封裝材料層,將后蓋板安裝在所述基板上;
采用激光燒結方式使所述外圈封裝材料層分別與所述基板及所述后蓋板粘接,以及使所述內圈封裝材料層分別與所述基板及所述后蓋板粘接。
在其中一個實施例中,在所述鉆孔區的邊緣形成多個圈狀圖案層,各所述圈狀圖案層的內徑由靠近所述鉆孔區向遠離所述鉆孔區的方向逐漸增大。
在其中一個實施例中,所述內圈封裝材料層具有圓環狀結構。
在其中一個實施例中,所述圈狀圖案層具有圓環狀結構,各所述圈狀圖案層及所述內圈封裝材料層形成同心圓結構。
在其中一個實施例中,所述圈狀圖案層具有中空圓柱狀或中空棱柱狀結構。
在其中一個實施例中,所述鉆孔區具有圓形、方形或菱形的結構。
在其中一個實施例中,所述圈狀圖案層的厚度為1μm~5μm,所述內圈封裝材料層的厚度為5μm~12μm。
在其中一個實施例中,所述圈狀圖案層的厚度為1.5μm,所述內圈封裝材料層的厚度為7μm。
在其中一個實施例中,各所述點狀圖案層上的點狀圖案間隔分布于所述顯示區上。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于信利(惠州)智能顯示有限公司,未經信利(惠州)智能顯示有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710858693.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種語音同步解說機
- 下一篇:遠程虛擬教室教育系統
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





