[發(fā)明專利]薄膜晶體管及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710852897.4 | 申請日: | 2017-09-20 |
| 公開(公告)號: | CN107644916B | 公開(公告)日: | 2020-05-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張建業(yè);李偉;顧鵬飛;李偉;張星;孫宏達(dá) | 申請(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/786 | 分類號: | H01L29/786;H01L21/34 |
| 代理公司: | 北京天昊聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;張?zhí)焓?/td> |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜晶體管 及其 制作方法 | ||
本發(fā)明提供一種薄膜晶體管及其制作方法,該薄膜晶體管包括基板和設(shè)置在基板的第一面上的緩沖層,還包括抗紫外層,該抗紫外層設(shè)置在基板與緩沖層之間,和/或設(shè)置在緩沖層之上,和/或在所述基板的第二面之上。本發(fā)明提供的薄膜晶體管及其制作方法的技術(shù)方案中,可以避免因受到紫外光的影響而出現(xiàn)閾值電壓負(fù)向移動和關(guān)態(tài)電流升高的問題,從而可以改善薄膜晶體管的性能。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種薄膜晶體管及其制作方法。
背景技術(shù)
薄膜晶體管(TFT)是有源矩陣液晶顯示屏(AMLCD)和有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管(AMOLED)顯示屏的像素驅(qū)動部件,在實(shí)現(xiàn)大尺寸、高清晰度、高幀頻率的顯示中起著重要作用。目前TFT的有源層材料主要有氫化非晶硅、低溫多晶硅、有機(jī)半導(dǎo)體和氧化物半導(dǎo)體,其中,氧化物半導(dǎo)體具有較高的電子遷移率和好的均勻性,適用于驅(qū)動AMLCD和AMOLED。
有機(jī)電致發(fā)光器件根據(jù)光出射方向的不同,可以分為兩種不同的類型,分別為底發(fā)射型器件(BEOLED)和頂發(fā)射型器件(OLED)。其中,頂發(fā)射型器件能夠有效提高開口率,從而有利于獲得顯示亮度高、高分辨率的有機(jī)電致發(fā)光器件,同時(shí)也有利于器件與底部驅(qū)動電路的集成。
但是,在上述頂發(fā)射型器件的制作工藝中,薄膜晶體管(有源層的溝道處)會受到外界光的影響而產(chǎn)生不同程度的損傷,從而會出現(xiàn)閾值電壓負(fù)向移動和關(guān)態(tài)電流升高的問題。并且,光的波長越小,影響越嚴(yán)重,尤其是460nm以下的紫外光波段對薄膜晶體管的影響最為嚴(yán)重。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一,提出了一種薄膜晶體管及其制作方法,其可以避免因受到紫外光的影響而出現(xiàn)閾值電壓負(fù)向移動和關(guān)態(tài)電流升高的問題,從而可以改善薄膜晶體管的性能。
為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的而提供一種薄膜晶體管,包括基板和設(shè)置在所述基板的第一面上的緩沖層,還包括抗紫外層,所述抗紫外層設(shè)置在所述基板與所述緩沖層之間,和/或設(shè)置在所述緩沖層之上,和/或在所述基板的第二面之上。
優(yōu)選的,所述抗紫外層為二氧化鈦薄膜。
優(yōu)選的,所述抗紫外層為單層,所述抗紫外層設(shè)置在所述基板與所述緩沖層之間,或者設(shè)置在所述緩沖層之上;或者,
所述抗紫外層為兩層,且均設(shè)置在所述基板與所述緩沖層之間,或者均設(shè)置在所述緩沖層之上;兩層所述抗紫外層分別為第一抗紫外層和設(shè)置在所述第一抗紫外層上的第二抗紫外層,并且所述第二抗紫外層的粒徑小于所述第一抗紫外層的粒徑。
優(yōu)選的,所述抗紫外層為兩層,分別為第一抗紫外層和第二抗紫外層,二者分別設(shè)置在所述基板與所述緩沖層之間,和所述緩沖層之上;
所述第二抗紫外層的粒徑小于所述第一抗紫外層的粒徑。
優(yōu)選的,所述抗紫外層為單層,所述抗紫外層設(shè)置在所述基板的第二面之上;或者,
所述抗紫外層為兩層,且均設(shè)置在所述基板的第二面之上;兩層所述抗紫外層分別為設(shè)置在所述基板的第二面上的第二抗紫外層和設(shè)置在所述第二抗紫外層上的第一抗紫外層,并且所述第二抗紫外層的粒徑小于所述第一抗紫外層的粒徑;或者,所述抗紫外層為兩層,分別為第一抗紫外層和第二抗紫外層,其中,所述第一抗紫外層設(shè)置在所述基板的第二面之上;所述第二抗紫外層設(shè)置在所述基板與所述緩沖層之間;并且所述第二抗紫外層的粒徑小于所述第一抗紫外層的粒徑。
優(yōu)選的,所述第二抗紫外層的粒徑的取值范圍在10nm~50nm;所述第一抗紫外層的粒徑的取值范圍在50nm~100nm。
作為另一個(gè)技術(shù)方案,本發(fā)明還提供一種薄膜晶體管的制作方法,包括:
在基板上形成緩沖層和抗紫外層;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于京東方科技集團(tuán)股份有限公司,未經(jīng)京東方科技集團(tuán)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710852897.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





