[發(fā)明專利]一種顯示裝置的亮度缺陷檢測方法與裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710846527.X
• 申請日: 2017-09-18
• 公開（公告）號: CN107657606B
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發(fā)明（設計）人: 史超超
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/194
• 代理公司: 深圳市威世博知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

本發(fā)明公開了一種顯示裝置的亮度缺陷檢測方法與裝置。該方法包括如下步驟：輸入第一圖像；檢測第一圖像的點狀缺陷，并對點狀缺陷進行補償以得到第二圖像；檢測第二圖像的線狀缺陷，并對線狀缺陷進行補償以得到第三圖像；檢測第三圖像的塊狀缺陷；將第一圖像的點狀缺陷、第二圖像的線狀缺陷以及第三圖像的塊狀缺陷整合，以得到亮度缺陷檢測結果。本發(fā)明公開了一種顯示裝置的亮度缺陷檢測方法與裝置，通過檢測點狀缺陷與線狀缺陷，使用缺陷臨近像素值填充缺陷，減少點狀缺陷與線狀缺陷對塊狀缺陷檢測的影響，提高了塊狀缺陷檢測的準確性，同時還提高了檢測的多樣性與準確性，克服了單一類型的亮度缺陷檢測。

技術領域

本發(fā)明涉及顯示技術領域，特別是涉及一種顯示裝置的亮度缺陷檢 測方法與裝置。

背景技術

亮度缺陷是薄膜晶體管-液晶顯示器(TFT-LCD)上一種典型的低對 比度缺陷，一般表現(xiàn)為可被人眼感知，沒有固定形狀，對比度低、尺寸 通常大于單個像素、形狀各異、無明顯邊緣、圖像背景復雜，因此被列 為顯示器缺陷中最難檢測的缺陷之一。亮度缺陷呈現(xiàn)形式可以分為3種： 點狀缺陷、線狀缺陷和其他不規(guī)則的塊狀缺陷。

目前國內(nèi)LCD制造業(yè)中對于亮度缺陷的檢測大多數(shù)都停留在人工 檢測階段，這種方法檢測時間長，高成本，主觀性強，穩(wěn)定性不高，嚴 重制約生產(chǎn)線生產(chǎn)效率。因此，快速、穩(wěn)定且符合人眼視覺特性的自動 低對比度缺陷檢測、分級方法重要性不言而喻。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明主要解決的問題是提供了一種顯示裝置的亮度缺陷檢測方 法與裝置，通過對點狀缺陷和線狀缺陷進行填充，能夠改善塊狀缺陷的 準確性，系統(tǒng)克服單一類型亮度缺陷檢測。

解決上述技術問題，本發(fā)明采用的一個技術方案是提供一種顯示裝 置的亮度缺陷檢測方法，該方法包括：輸入第一圖像；檢測所述第一圖 像的點狀缺陷，并對所述點狀缺陷進行補償以得到第二圖像；檢測所述 第二圖像的線狀缺陷，并對所述線狀缺陷進行補償以得到第三圖像；檢 測所述第三圖像的塊狀缺陷；將所述第一圖像的點狀缺陷、所述第二圖 像的線狀缺陷以及所述第三圖像的塊狀缺陷整合，以得到亮度缺陷檢測 結果。

解決上述技術問題，本發(fā)明采用的一個技術方案是提供一種顯示裝 置的亮度缺陷檢測裝置，包括輸入輸出裝置、存儲器以及處理器。其中， 所述存儲器用于存儲計算機程序，所述計算機程序在被所述處理器執(zhí)行 時，用于實現(xiàn)上述的方法。

通過上述方案，本發(fā)明的有益效果是：提供一種顯示裝置的亮度缺 陷檢測方法，該方法包括：輸入第一圖像；檢測所述第一圖像的點狀缺 陷，并對所述點狀缺陷進行補償以得到第二圖像；檢測所述第二圖像的 線狀缺陷，并對所述線狀缺陷進行補償以得到第三圖像；檢測所述第三 圖像的塊狀缺陷；將所述第一圖像的點狀缺陷、所述第二圖像的線狀缺 陷以及所述第三圖像的塊狀缺陷整合，以得到亮度缺陷檢測結果。通過 上述方式，能夠檢測點狀缺陷與線狀缺陷，使用缺陷臨近像素值填充缺 陷，減少點狀缺陷與線狀缺陷對塊狀缺陷檢測的影響，提高了塊狀缺陷 檢測的準確性，同時還提高了檢測的多樣性與準確性，克服了單一類型 的亮度缺陷檢測。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術方案，下面將對實施例描 述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖 僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出 創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。其中：

圖1是本發(fā)明提供的顯示裝置的亮度缺陷檢測方法一實施例流程示 意圖；

圖2是本發(fā)明提供的顯示裝置的亮度缺陷檢測方法一實施例中第一 圖像和第二圖像的示意圖；

圖3是本發(fā)明提供的顯示裝置的亮度缺陷檢測方法另一實施例的流 程示意圖；

圖4是本發(fā)明提供的顯示裝置的亮度缺陷檢測方法另一實施例的濾 波模板示意圖；