[發明專利]一種顯示裝置的亮度缺陷檢測方法與裝置

有效

• 申請號: 201710846527.X
• 申請日: 2017-09-18
• 公開（公告）號: CN107657606B
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發明（設計）人: 史超超
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/194
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

1.一種顯示裝置的亮度缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

輸入第一圖像；

檢測所述第一圖像的點狀缺陷，并對所述點狀缺陷進行補償以得到第二圖像；

檢測所述第二圖像的線狀缺陷，并對所述線狀缺陷進行補償以得到第三圖像；

獲取所述第三圖像的灰度直方圖；其中，所述灰度直方圖的橫坐標為像素的數量，縱坐標為像素值；

從所述灰度直方圖中獲取像素值大于設定閾值的像素的數量的最大值和最小值；

計算所述最大值和所述最小值的差值作為K值；其中，K為正整數；

將所述第三圖像劃分為K個區域；

將所述第三圖像的每個像素進行聚類，以歸類到所述K個區域中的一個；

將所述K個區域進行聚類，以將灰階值相似度超過設定閾值的不同區域進行合并，從而得到所述第三圖像的塊狀缺陷；

將所述第一圖像的點狀缺陷、所述第二圖像的線狀缺陷以及所述第三圖像的塊狀缺陷整合，以得到亮度缺陷檢測結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述檢測所述第一圖像的點狀缺陷，并對所述點狀缺陷進行補償以得到第二圖像的步驟，包括：

對所述第一圖像進行濾波處理，對所述第一圖像進行補償以得到補償后的第二圖像；

將所述第一圖像每個像素的灰階值和所述第二圖像對應像素的灰階值進行作差處理，以得到所述第一圖像的點狀缺陷。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，

所述對所述第一圖像進行濾波處理，對所述第一圖像進行補償以得到補償后的第二圖像的步驟，包括：

采用以下濾波函數對所述第一圖像進行濾波處理，以得到所述第二圖像：

其中，I(i,j)為所述第一圖像的像素坐標函數，I_f(i,j)為所述第一圖像濾波后的函數，即第二圖像的函數，2s+1位模板寬度，其中，s為正整數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述檢測所述第二圖像的線狀缺陷的步驟，包括：

采用邊緣檢測算法對所述第二圖像進行處理，以得到所述第二圖像的線狀缺陷；

其中，所述邊緣檢測算法包括Sobel算法、Roberts算法、Prewitt算法、Laplacian算法、Log算法或Canny算法中的至少一種。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述將所述第三圖像的每個像素進行聚類，以歸類到所述K個區域中的一個的步驟，包括：

定義所述K個區域中每個區域的中心；

計算每個像素到每個區域的中心的距離以及灰階值差值；

將每個像素歸類到距離最近且/或灰階值差值最小的區域。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，

所述方法還包括：

根據每個像素的聚類結果，重新定義所述K個區域中每個區域的中心；

重復執行所述計算每個像素到每個區域的中心的距離以及灰階值差值的步驟，以及所述將每個像素歸類到距離最近且/或灰階值差值最小的區域的步驟，直到所述K個區域中每個區域的中心不變。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述將所述K個區域進行聚類，以將灰階值相似度超過設定閾值的不同區域進行合并，從而得到所述第三圖像的塊狀缺陷的步驟，包括：

獲取所述K個區域中每個區域的圖像的灰度直方圖；

將圖像的灰度直方圖中的缺陷的重合度大于設定值的兩個區域進行合并。

8.一種顯示裝置的亮度缺陷檢測裝置，其特征在于，包括輸入輸出裝置、存儲器以及處理器；

其中，所述存儲器用于存儲計算機程序，所述計算機程序在被所述處理器執行時，用于實現如權利要求1-7任一項所述的方法。