[發明專利]Weibull分布無失效數據可靠性指標估計方法

在審

• 申請號: 201710833274.2
• 申請日: 2017-09-15
• 公開（公告）號: CN107657145A
• 公開（公告）日: 2018-02-02
• 發明（設計）人: 黃洪鐘;張凱延;李彥鋒;黃鵬;殷毅超;任彬;胡均銘
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 成都宏順專利代理事務所(普通合伙)51227
• 代理人: 周永宏

1.Weibull分布無失效數據可靠性指標估計方法，其特征在于，包括：

S1、利用Weibull分布特性，確定各檢測時刻失效概率的先驗分布；

S2、根據步驟S1確定的各先驗分布，對各檢測時刻失效概率進行貝葉斯估計；

S3、根據各失效概率的貝葉斯估計值，擬合一條Weibull分布曲線，得到產品的各可靠性指標。

2.根據權利要求1所述的Weibull分布無失效數據可靠性指標估計方法，其特征在于，步驟S1包括：

S11、由產品壽命T服從Weibull分布，得到故障函數為：

λ(t)=F′(t)1-F(t)=mη(tη)m-1,t>0]]>

其中，η和m分別是Weibull分布模型的尺度參數與形狀參數；F(t)表示產品失效概率分布函數，F′(t)表示對產品失效概率分布函數F(t)求導數；

S12、根據步驟S11得到的故障函數，得到產品可靠度函數為R(t)＝1-F(t)；對R(t)作函數變換，得到凹函數G(t)；

G(t)=Δ-ln R(t)=(tη)m]]>

其中，表示定義，t為時間變量，m為形狀參數，η為尺度參數；

S13、根據凹函數性質以及lnR(t₀)＝0，得到產品失效概率；

S14、根據Bayes假設，可取[0,λ_k]上的均勻分布作為p_k的先驗分布，即：

πk(pk)=1λk,0<pk<λk0,else]]>

S15、根據得到各檢測時刻失效概率p_i的先驗分布為：

πi(pi)=πk(pk)dpkdpi=tkλkti(1-pi)tkti-1,0<pi<λi]]>

其中，λ_k為失效概率p_k的上界，λ_i為失效概率p_i的上界，t_k表示第k組數據的截尾時刻，t_i表示第i組數據的截尾時刻。