[發明專利]具有標準單元的集成電路

有效

• 申請號: 201710830604.2
• 申請日: 2017-09-15
• 公開（公告）號: CN109509747B
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發明（設計）人: 許振賢;陳建孚;蔡承洋;王偉任;林肇尉;黃智宏;顧政宗;楊進盛
• 申請（專利權）人: 聯華電子股份有限公司
• 主分類號: H01L27/02
• 分類號: H01L27/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 陳小雯

本發明公開一種具有標準單元的集成電路。此集成電路包含：第一金屬線以及一第二金屬線沿著一第一方向延伸；第一虛置柵極以及第二虛置柵極，沿著一第二方向延伸；鰭狀結構平行于該第一方向；柵極結構位于鰭狀結構上且平行于第二方向；兩個長接觸插栓位于柵極結構的一側，兩個短接觸插栓位于柵極結構的另一側；柵極插栓設置在柵極結構上；通孔插栓設置在長接觸插栓、短接觸插栓及柵極接觸插栓上并與之電連接；金屬層包含第一金屬線、第二金屬線、一第三金屬線以及一第四金屬線。

技術領域

本發明涉及一種具有標準單元的集成電路，特別來說，是涉及一種具有反相器的標準單元與具有反極柵的標準單元的集成電路。

背景技術

標準單元是一組或多組的晶體管相互結構，用來提供布林邏輯功能(例如AND、OR、XOR、XNOR)或存儲功能(觸發器或鎖存器)。隨著先進制作工藝技術(例如鰭狀晶體管FinFet技術)，標準單元布局的設計也有所不同。

標準單元庫是支持數字集成電路設計自動化流程的基礎資料之一，標準單元庫從前端功能模擬到后端版圖實現架構出整個集成電路自動化設計流程。標準單元庫包括若干個預先設計好的標準單元，包括了器件的版圖圖形以及面積、電路功耗、時序和驅動能力等電路性能值，標準單元具有通用的界面實現和規則結構，集成電路設計者或者綜合工具根據設計要求，調用標準單元庫中需要的標準單元來完成集成電路的版圖布圖設計?；跇藴蕟卧獛斓募呻娐吩O計可以極大提高電路的設計效率。

發明內容

本發明于是提出了一種具有標準單元的集成電路，以提供設計集成電路設計時使用。

根據本發明的一實施例，是提供了一種具有反向器(Inverter)標準單元的集成電路。此集成電路包含一第一金屬線、一第二金屬線、一組第一虛置柵極以及一組第二虛置柵極、多個鰭狀結構、一柵極結構、多個短接觸插栓與長接觸插栓、一柵極結構、多個通孔插栓以及一金屬層。第一金屬線、第二金屬線、第一虛置柵極以及第二虛置柵極包圍的區域定義為一標準單元區，該標準單元區具有一N型區以及一P型區。第一金屬線以及一第二金屬線沿著一第一方向延伸。第一虛置柵極以及第二虛置柵極，沿著一第二方向延伸。鰭狀結構設置在標準單元區中，且平行于該第一方向。柵極結構設置在標準單元中，位于鰭狀結構上且平行于第二方向。兩個短接觸插栓以及兩個長接觸插栓設置在標準單元區中，兩個長接觸插栓位于柵極結構的一側，兩個短接觸插栓位于柵極結構的另一側。柵極接觸插栓設置在柵極結構上。通孔插栓設置在長接觸插栓、短接觸插栓及柵極接觸插栓上并與之電連接。金屬層設置在通孔插栓上并與之電連接，金屬層包含第一金屬線、第二金屬線、一第三金屬線以及一第四金屬線。

根據本發明的另一實施例，是提供了一種具有反極柵(NAND)標準單元的集成電路。此集成電路包含一第一金屬線、一第二金屬線、一組第一虛置柵極以及一組第二虛置柵極、多個鰭狀結構、多個短接觸插栓與長接觸插栓、兩柵極結構、多個通孔插栓以及一金屬層。第一金屬線以及第二金屬線沿著一第一方向平行。第一虛置柵極以及第二虛置柵極沿著第二方向延伸。鰭狀結構設置在標準單元區中，鰭狀結構平行于第一方向。柵極結構設置在標準單元中，位于鰭狀結構上且平行于第二方向。三個短接觸插栓以及三個長接觸差栓設置在標準單元區中，其中兩個長接觸插栓位于一個柵極結構與第一虛置柵極結構之間，兩個短接觸插栓位于兩個柵極結構之間，一個長接觸插栓與一個短接觸插栓位于另一個柵極結構與第二虛置柵極之間。柵極接觸插栓分別設置在兩個柵極結構上。通孔插栓設置在長接觸插栓、短接觸插栓以及柵極接觸插栓上并與之電連接。金屬層設置在通孔插栓上，金屬層包含第一金屬線、第二金屬線、一第三金屬線、一第四金屬線以及一第五金屬線。

本發明提供了一種具有標準單元的集成電路布局，在一個實施例中，標準單元為反向器，在另一實施例中，標準單元為反極柵。通過上述標準單元的配置，可以輕易地組合形成各種可邏輯運算的電子電路，用于加快元件運算速度。

附圖說明

圖1至圖3為本發明一種反相器標準單元的集成電路的布局示意圖；