[發明專利]電熱膜的阻值的測量裝置和測量方法

在審

• 申請號: 201710826737.2
• 申請日: 2017-09-14
• 公開（公告）號: CN107449969A
• 公開（公告）日: 2017-12-08
• 發明（設計）人: 胡澤平;譚化兵;劉海濱
• 申請（專利權）人: 無錫格菲電子薄膜科技有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京世衡知識產權代理事務所(普通合伙)11686
• 代理人: 肖淑芳,郝文博

技術領域

本發明涉及電熱膜工程制造領域，具體地涉及一種電熱膜阻值的測量裝置和測量方法。

背景技術

目前由于石墨烯穿戴類產品，類似石墨烯加熱護膝，加熱護腰，護頸類等產品在相關行業，市場上有著良好的發展前景，不過由于電熱膜產品在加載相同電壓的情況下，對應不同的阻值范圍，根據安培公式I＝U/R,電熱膜所產生的電流也會不一樣,阻值越大,電流越小,單位時間內所產生熱量也就越小，相反則越大,不僅如此,電熱膜的穩定性以及使用壽命都會發生變化，這些都需要依據電熱膜的阻值來判斷其性能的合格程度。所以在制造工藝中需要配備專門的阻值測量儀器以及配套設備對電熱膜進行批量性的檢驗，電熱膜的阻值性能對電熱膜涉及到的產品性能包括使用壽命和使用穩定性是一項重要的衡量指標。現有的阻值測量手段和裝置不足之處在于，無法對電熱膜實現快速高效的批量性檢測，每次阻值測量只能針對一片電熱膜，測量手段單一低效，無法實現大數據的采集，統計和分析，且每次測量由于接觸電熱膜的力度與角度不一致，一定程度上導致測量結果的不準確性，從而容易對電熱膜性能指標作出錯誤判斷，這些問題都是本裝置所要解決的問題。

目前使用的阻值測量手段常規分以下兩種。

第一種：人為的測量，使用高精度的吉時利2000型號外用表，或者普通的FLUCK萬用表測量，將一片電熱膜平整的放置于臺面，將外用表設置為2線電阻模式，連接表筆，先將黑紅表筆相端接，查看儀表顯示數據，此時顯示的數據為黑紅表筆的接觸電阻設為A，然后將黑紅表筆分別接觸電熱膜兩端的電極上，查看此時的儀表顯示數據為B，則該電熱膜的實際電阻為R＝B-A。以此方法測試每片電熱膜的阻值，由于每次接觸電熱膜兩端電極的力度與角度無法完全一致，所以測出的結果R，會有輕微的誤差，且效率較低，平均每片電熱膜的阻值測量需要消耗3S，一小時人為不間斷的測量僅能測1200片，實際僅能測600片，這是此方法在應用中無法克服的困難。

第二種：采用簡易的機械平臺配合電熱膜的測量治具來實現每片的快速測量，具體結構如下：整套平臺由底板，下壓機構，下壓彈簧以及快速扳手組合而成，配合專用的測量治具，下壓機構的低端分別焊接兩根彈簧銅針連接黑紅表筆線，另一端連接測量儀表吉時利2000，設置好儀表的參數，測量時，先將對應的測量治具放置于底板上，然后將電熱膜置于治具預先規劃位置，測量時，壓下快速扳手，帶動下壓機構下降，彈簧銅針接觸電熱膜的電極，測量儀表上即顯示該片電熱膜的阻值R，測量結束，松開快速扳手，彈簧銅針離開電熱膜，取出電熱膜，以此方法進行批量的測量，此方法的優點在由于使用彈簧銅針，快速扳手結合，每次下壓接觸電熱膜的力度與角度都一致，相比于第一種方法，阻值測量的準確度有所提升，此方法的缺點也顯而易見，無法快速的測量大批量的電熱膜，每次更換電熱膜，都需要消耗時間，經實際測試，每片電熱膜的測量時間為4S，1小時員工不間斷的測量僅能測900片，實際測量中僅能測700片，此缺點是本方法在應用中無法有效克服的困難。

以上內容僅是發明人所知曉的技術情況，并不當然代表構成本發明的現有技術。

發明內容

為解決現有技術的問題中的一個或多個，本發明提供一種用于測量多個電熱膜的參數的裝置，其中所述多個電熱膜包括在電熱膜片中，所述裝置包括：

測量平臺，所述電熱膜片可定位在所述測量平臺上；測量探頭，所述測量探頭可測量所述電熱膜的所述參數；致動機構，所述致動機構與所述測量探頭連接，以將所述測量探頭在所述多個電熱膜上方移動；控制機構，所述控制機構與所述致動機構耦合，以通過所述致動機構控制所述測量探頭在所述多個電熱膜上方移動并定位在其中一個電熱膜上方，所述控制機構并且與所述測量探頭耦合，以采集所述測量探頭測量的參數；其中當所述測量探頭測量的參數異常時，對發生異常的電熱膜做出標識。

根據本發明的一個方面，所述致動機構包括X軸致動器、Y軸致動器和Z軸致動器，其中所述X軸致動器和Y軸致動器配置成驅動所述測量探頭平行于所述測量平臺移動，所述Z軸致動器配置成驅動所述測量探頭垂直于所述測量平臺移動。

根據本發明的一個方面，所述X軸致動器包括X軸步進電機和與所述X軸步進電機耦合的X軸絲杠，所述X軸步進電機與所述控制機構耦合，并由所述控制機構控制，X軸絲杠與所述測量探頭耦合，當所述X軸絲杠被所述X軸步進電機驅動時，所述X軸絲杠驅動所述測量探頭沿X軸移動。