[發明專利]極耳錯位控制方法及卷繞裝置

有效

• 申請號: 201710822282.7
• 申請日: 2017-09-13
• 公開（公告）號: CN109494342B
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 王藝若;李國棟;廖能武;梁衍學;常洪文;謝超
• 申請（專利權）人: 寧德時代新能源科技股份有限公司
• 主分類號: H01M4/04
• 分類號: H01M4/04
• 代理公司: 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444
• 代理人: 王剛;龔敏

1.一種極耳錯位控制方法，其特征在于，包括：

步驟S20，獲取卷針從第一計時零點到T₁時刻所轉過的第一角度值θ₁，所述T₁時刻為檢測到即將卷繞于卷針的第一極耳的這一時刻；

步驟S40，判斷所述第一角度值θ₁是否等于第一預設值θ₀₁，所述第一預設值θ₀₁根據所述第一計時零點設置，如果是，重復步驟S20，反之，進入步驟S60；

步驟S60，調節噴涂于電極組件的涂層的厚度；

和/或

步驟S20’，獲取卷針從第二計時零點到T₂時刻所轉過的第二角度值θ₂，所述T₂時刻為檢測到即將卷繞于卷針的第二極耳的這一時刻；

步驟S40’，判斷所述第二角度值θ₂是否等于第二預設值θ₀₂，所述第二預設值θ₀₂根據所述第二計時零點設置，如果是，重復步驟S20’，反之，進入步驟S60’；

步驟S60’，調節噴涂于電極組件的涂層的厚度。

2.根據權利要求1所述的極耳錯位控制方法，其特征在于，

在所述步驟S40之后還包括：

步驟S42，判斷所述第一角度值θ₁是否小于第一預設值θ₀₁，如果是，進入步驟S44，反之，進入步驟S46；

步驟S44，減小所述涂層的厚度；

步驟S46，增大所述涂層的厚度；

和/或

在所述步驟S40’之后還包括：

步驟S42’，判斷所述第二角度值θ₂是否小于第二預設值θ₀₂，如果是，進入步驟S44’，反之，進入步驟S46’；

步驟S44’，減小所述涂層的厚度；

步驟S46’，增大所述涂層的厚度。

3.根據權利要求1所述的極耳錯位控制方法，其特征在于，在所述步驟S60和/或步驟S60’中，所述涂層噴涂在電極組件的隔離膜上，所述調節噴涂于電極組件的涂層的厚度具體為調節噴涂于隔離膜上的涂層的厚度。

4.一種卷繞裝置，該卷繞裝置采用如權利要求1-3任一項所述的極耳錯位控制方法加工電極組件，其特征在于，包括：

第一檢測部，用于檢測即將卷繞于卷針上的第一極耳；

第一處理部，用于獲取所述卷針從第一計時零點到T₁時刻所轉過的第一角度值θ₁，以及用于判斷所述第一角度值θ₁是否等于第一預設值θ₀₁，所述T₁時刻為檢測到即將卷繞于卷針的第一極耳的這一時刻；

第一噴涂部，用于向電極組件噴涂涂層；以及

第一控制部，用于控制所述第一噴涂部的噴涂量，以調節所述涂層的厚度，

其中，所述第一處理部、所述第一檢測部、所述第一噴涂部以及所述第一控制部通信連接，

和/或

第二檢測部，用于檢測即將所述卷繞于卷針上的第二極耳；

第二處理部，用于獲取所述卷針從第二計時零點到T₂時刻所轉過的第二角度值θ₂，以及用于判斷所述第二角度值θ₂是否等于第二預設值θ₀₂，所述T₂時刻為檢測到即將卷繞于所述卷針的第二極耳的這一時刻；

第二噴涂部，用于向電極組件噴涂涂層；以及

第二控制部，用于控制所述第二噴涂部的噴涂量，以調節所述涂層的厚度，

其中，所述第二處理部、所述第二檢測部、所述第二噴涂部以及所述第二控制部通信連接。