[發明專利]檢測熱密封缺陷的方法、設備及系統

在審

• 申請號: 201710820975.2
• 申請日: 2017-09-13
• 公開（公告）號: CN109387331A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發明（設計）人: 王經緯;楊英魁
• 申請（專利權）人: 王經緯;楊英魁
• 主分類號: G01M3/00
• 分類號: G01M3/00
• 代理公司: 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218
• 代理人: 翟羽

一種檢測熱密封缺陷的方法、設備和系統，所述設備包含：一高周波產生器，用以對應一容器之端口上覆蓋的金屬薄膜的位置，施加高周波；一紅外線攝像器，用以在該容器上方感測紅外線輻射，以生成該容器各部分的溫度數據；一處理裝置，用以接收該溫度數據；將溫度數據轉換成一圖像；對該圖像進行定位，以定義出一感興趣區域；計算不在一合格溫度范圍內的溫度，在該圖像的感興趣區域中所占的連續面積；對該連續面積進行計算，并根據計算結果，判斷是否指示一密封缺陷；以及一輸出裝置，用以指示出該密封缺陷。

技術領域

本揭示涉及一種檢測技術，特別有關一種檢測熱密封缺陷的方法、設備及系統。

背景技術

在檢測容器的熱密封缺陷方面，現有技術一般采用紅外線感測器來感測封口處的局部溫度或整個密封區域的平均溫度，并判斷此溫度是否在正常的溫度范圍內，依此來判斷是否存在密封缺陷。另一種現有技術采用紅外線成像儀來取得容器的熱圖像，并針對密封缺陷的區域(如破口)計算其平均溫度，將其與一閾值比較，依此決定出容器的密封特性。然而，上述現有技術中，常常因為正常區域的溫度參與了溫度計算，使得檢測結果常常是不準確的。

因此，有必要提出一種新的檢測技術，以改善上述現有技術的缺失。

發明內容

本揭示的目的在于提供一種檢測熱密封缺陷的方法、設備及系統，以提升密封缺陷檢測的準確性。

為達成上述目的，本揭示一方面提供一種檢測熱密封缺陷的方法，其應用于檢測一容器之一端口的密封特性，該容器之端口以一金屬薄膜覆蓋，而在該金屬薄膜上迭置有一蓋體，所述方法包含：對應該容器之端口上覆蓋的金屬薄膜的位置，施加高周波；利用一紅外線攝像器在該容器上方感測紅外線輻射，以生成該容器各部分的溫度數據；將該容器各部分的溫度數據轉換成該容器的一圖像；對該容器的圖像進行定位，以定義出一感興趣區域(region of interest,ROI)；計算不在一合格溫度范圍內的溫度，在該圖像的感興趣區域中所占的連續面積；以及對該連續面積進行計算，并根據計算結果，判斷是否指示一密封缺陷。

本揭示另一方面提供一種檢測熱密封缺陷的設備，其應用于檢測一容器之一端口的密封特性，該容器之端口以一金屬薄膜覆蓋，而在該金屬薄膜上迭置有一蓋體，所述設備包含：一高周波產生器，用以對應該容器之端口上覆蓋的金屬薄膜的位置，施加高周波；一紅外線攝像器，用以在該高周波產生器施加該高周波后，在該容器上方感測紅外線輻射，以生成該容器各部分的溫度數據；一處理裝置，與該紅外線攝像器耦接，用以接收該紅外線攝像器生成的該溫度數據；將該容器各部分的溫度數據轉換成該容器的一圖像；對該容器的圖像進行定位，以定義出一感興趣區域(region of interest,ROI)；計算不在一合格溫度范圍內的溫度，在該圖像的感興趣區域中所占的連續面積；對該連續面積進行計算，并根據計算結果，判斷是否指示一密封缺陷；以及一輸出裝置，與該處理裝置耦接，用以指示該密封缺陷。

本揭示再一方面提供一種檢測熱密封缺陷的系統，其應用于檢測一容器之一端口的密封特性，該容器之端口以一金屬薄膜覆蓋，而在該金屬薄膜上迭置有一蓋體，所述系統包含：一高周波產生器，設置于一生產線上，該生產線上具有一輸送帶，該輸送帶用以輸送若干個裝配有該金屬薄膜和該蓋體之容器，該高周波產生器用以對應每個容器之端口上覆蓋的金屬薄膜的位置，施加高周波；一紅外線攝像器，用以在該高周波產生器施加該高周波后，在每個容器上方感測紅外線輻射，以生成每個容器各部分的溫度數據；一處理裝置，與該紅外線攝像器耦接，用以接收該紅外線攝像器生成的該溫度數據；將該容器各部分的溫度數據轉換成該容器的一圖像；對該容器的圖像進行定位，以定義出一感興趣區域(regionof interest,ROI)；計算不在一合格溫度范圍內的溫度，在該圖像的感興趣區域中所占的連續面積；對該連續面積進行計算，并根據計算結果，判斷出該容器是否存在一密封缺陷；以及一移除裝置，與該處理裝置耦接，用以回應該處理裝置判斷出該容器存在該密封缺陷，而從該輸送帶上將該容器移除。