[發明專利]檢測熱密封缺陷的方法、設備及系統

在審

• 申請號: 201710820975.2
• 申請日: 2017-09-13
• 公開（公告）號: CN109387331A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發明（設計）人: 王經緯;楊英魁
• 申請（專利權）人: 王經緯;楊英魁
• 主分類號: G01M3/00
• 分類號: G01M3/00
• 代理公司: 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218
• 代理人: 翟羽

1.一種檢測熱密封缺陷的方法，其應用于檢測一容器之一端口的密封特性，該容器之端口以一金屬薄膜覆蓋，而在該金屬薄膜上迭置有一蓋體，其特征在于，所述方法包含：

對應該容器之端口上覆蓋的金屬薄膜的位置，施加高周波；

利用一紅外線攝像器在該容器上方感測紅外線輻射，以生成該容器各部分的溫度數據；

將該容器各部分的溫度數據轉換成該容器的一圖像；

對該容器的圖像進行定位，以定義出一感興趣區域；

計算不在一合格溫度范圍內的溫度，在該圖像的感興趣區域中所占的連續面積；以及

對該連續面積進行計算，并根據計算結果，判斷是否指示一密封缺陷。

2.如權利要求1所述的檢測熱密封缺陷的方法，其特征在于：該金屬薄膜包含一鋁膜。

3.如權利要求1所述的檢測熱密封缺陷的方法，其特征在于，將該容器各部分的溫度數據轉換成該容器的圖像的步驟包含：

將該溫度數據中溫度高于一第一溫度的數據，以一第一像素值表示；

將該溫度數據中溫度低于一第二溫度的數據，以一第二像素值表示；以及

將該溫度數據中溫度介于該第一溫度和該第二溫度之間的數據，以相異的像素值表示。

4.如權利要求1所述的檢測熱密封缺陷的方法，其特征在于，對該連續面積進行計算，并根據計算結果，判斷是否指示該密封缺陷的步驟包含：

判斷該連續面積是否大于一面積閾值；以及

指示出該密封缺陷，以回應該連續面積大于該面積閾值的情況。

5.如權利要求1所述的檢測熱密封缺陷的方法，其特征在于，對該連續面積進行計算，并根據計算結果，判斷是否指示該密封缺陷的步驟包含：

計算該連續面積的標準差與該感興趣區域的標準差或該感興趣區域去除該連續面積后的區域的標準差的一差值；以及

根據該差值的大小，判斷是否指示該密封缺陷。

6.如權利要求1所述的檢測熱密封缺陷的方法，其特征在于，所述方法更包含：

將該感興趣區域分割成若干個單元區域，

其中計算不在該合格溫度范圍內的溫度，在該圖像的感興趣區域中所占的連續面積的步驟包含：

計算不在該合格溫度范圍內的溫度，在每個單元區域所占的連續面積，

其中當這些單元區域中的其中一個單元區域被判定為存在密封缺陷，則判定該容器存在密封缺陷。

7.如權利要求1所述的檢測熱密封缺陷的方法，其特征在于，對該容器的圖像進行定位，以定義出該感興趣區域的步驟包含：

在該容器的圖像中定義出一中心點；

以該中心點為圓心、一第一半徑值為半徑，定義出一第一圓形；

以該中心點為圓心，一第二半徑值為半徑，定義出一第二圓心；以及

將該第一圓形和該第二圓形之間的區域，定義為該感興趣區域。

8.如權利要求1所述的檢測熱密封缺陷的方法，其特征在于，計算不在該合格溫度范圍內的溫度，在該圖像的感興趣區域中所占的連續面積的步驟包含：

計算不在該合格溫度范圍內的一第一溫度區間，在該圖像的感興趣區域中所占的第一連續面積；

計算不在該合格溫度范圍內的一第二溫度區間，在該圖像的感興趣區域中所占的第二連續面積；以及

將該第一連續面積和該第二連續面積的和作為該連續面積。

9.如權利要求1所述的檢測熱密封缺陷的方法，其特征在于，計算不在該合格溫度范圍內的溫度，在該圖像的感興趣區域中所占的連續面積的步驟包含：

將不在該合格溫度范圍內的溫度劃分為若干個溫度區間；

計算每個溫度區間在該圖像的感興趣區域中所占的連續面積；

判斷每個溫度區間所占的連續面積是否大于一閾值；

移除連續面積小于該閾值所對應的溫度區間；以及

針對連續面積大于該閾值的溫度區間，對其所占的連續面積進行加總。