[發(fā)明專利]薄膜晶體管及制備方法、陣列基板及顯示裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710813421.X | 申請日: | 2017-09-11 |
| 公開(公告)號: | CN107579005B | 公開(公告)日: | 2020-03-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 汪建國;李海旭 | 申請(專利權(quán))人: | 京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/34 | 分類號: | H01L21/34;H01L29/06;H01L29/786 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 郭潤湘 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜晶體管 制備 方法 陣列 顯示裝置 | ||
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種薄膜晶體管及制備方法、陣列基板及顯示裝置,該薄膜晶體管的制備方法包括在襯底基板上通過構(gòu)圖工藝形成遮光層圖案和有源層圖案,其中,有源層圖案位于遮光層圖案背離襯底基板的一側(cè),遮光層圖案的材料為樹脂;在有源層圖案上形成柵絕緣層,柵極圖案,層間絕緣層和源漏電極。該方式不僅減少了工藝步驟,節(jié)省了成本,而且減少了遮光層圖案與源漏電極之間的電容和感應(yīng)電荷,從而提高了使用該方法制成的陣列基板的薄膜晶體管的穩(wěn)定性和偏壓信賴性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種薄膜晶體管及陣列基板及制備方法、顯示裝置。
背景技術(shù)
薄膜晶體管(Thin Film Transistor,簡稱TFT)的結(jié)構(gòu)主要包括頂柵結(jié)構(gòu)和底柵結(jié)構(gòu)。對于頂柵結(jié)構(gòu)的TFT液晶顯示器陣列基板,在半導(dǎo)體層的下方形成有作為半導(dǎo)體層的光學(xué)保護(hù)層的遮光層圖形,以防止因背光源發(fā)出的光照射到半導(dǎo)體層、產(chǎn)生光生載流子從而破壞半導(dǎo)體層的電學(xué)特性。
而且,現(xiàn)在采用直接在基板上沉積遮光層來阻止背光源發(fā)出的光照射到半導(dǎo)體層上,這樣會增加一次構(gòu)圖工藝,增加成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了薄膜晶體管及制備方法、陣列基板及顯示裝置,上述薄膜晶體管的制備方法通過改進(jìn)工藝方案,減少了工藝步驟,利于增強使用該方法制成的陣列基板的薄膜晶體管的穩(wěn)定性和偏壓信賴性。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供以下技術(shù)方案:
一種薄膜晶體管的制備方法,包括:
在襯底基板上通過構(gòu)圖工藝形成遮光層圖案和有源層圖案,其中,所述有源層圖案位于所述遮光層圖案背離所述襯底基板的一側(cè),所述遮光層圖案的材料為樹脂;
在所述有源層圖案上形成柵絕緣層,柵極圖案,層間絕緣層和源漏電極。
上述薄膜晶體管的制備方法中,在襯底基板上通過構(gòu)圖工藝形成遮光層圖案和有源層圖案,且在有源層圖案上形成柵絕緣層,柵極圖案,層間絕緣層和源漏電極。由于有源層圖案位于遮光層圖案背離襯底基板的一側(cè),且遮光層圖案的材料為樹脂,即遮光層圖案的材料不是導(dǎo)體,從而并不需要在遮光層圖案和有源層圖案間設(shè)置緩沖層使二者分隔。該方式不僅減少了工藝步驟,節(jié)省了成本,而且減少了遮光層圖案與源漏電極之間的電容和感應(yīng)電荷,從而提高了使用該方法制成的陣列基板的薄膜晶體管的穩(wěn)定性和偏壓信賴性。
因此,上述薄膜晶體管的制備方法通過改進(jìn)工藝方案,減少了工藝步驟,利于增強使用該方法制成的陣列基板的薄膜晶體管的穩(wěn)定性和偏壓信賴性。
優(yōu)選地,在所述襯底基板上形成遮光層圖案和有源層圖案的構(gòu)圖工藝為一次構(gòu)圖工藝。
優(yōu)選地,所述遮光層圖案的材料為感光型樹脂,所述在所述襯底基板上形成遮光層圖案和有源層圖案的構(gòu)圖工藝,包括:
在所述襯底基板上涂覆感光型樹脂材料,經(jīng)過軟烘工藝形成遮光薄膜;
在所述遮光薄膜上形成有源層前驅(qū)體薄膜;
對所述遮光層薄膜以及所述有源層前驅(qū)體薄膜進(jìn)行曝光顯影、燒結(jié)固化,形成所述遮光層圖案和有源層圖案。
優(yōu)選地,所述在所述遮光薄膜上形成有源層前驅(qū)體薄膜,包括:
在所述遮光薄膜表面涂布乙酰丙酮銦溶液,形成乙酰丙酮銦薄膜;
將水合硝酸鎵、氯化鋅化學(xué)活性組分在有機溶劑中溶解形成溶液、涂覆于所述乙酰丙酮銦薄膜,并通過曝光形成進(jìn)行銦鎵鋅氧化物前驅(qū)體的薄膜。
優(yōu)選地,所述在所述有源層圖案上形成柵絕緣層,柵極圖案,層間絕緣層和源漏電極,包括:
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





