[發(fā)明專利]一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710811623.0
• 申請(qǐng)日: 2017-09-11
• 公開（公告）號(hào): CN107656316A
• 公開（公告）日: 2018-02-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何玉偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01V3/02
• 分類號(hào): G01V3/02
• 代理公司: 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司37100
• 代理人: 王守梅

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及板卡PAD設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，具體地說是一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD。

背景技術(shù)

目前，為了將電子板卡裝配到設(shè)備的固定支架上，一般會(huì)在電子板卡上設(shè)計(jì)有螺絲鎖附孔；裝配時(shí)，由廠線工人使用電動(dòng)螺絲刀將電子板卡鎖螺絲到固定支架上。然而，由于廠線工人操作存在不穩(wěn)定性，會(huì)出現(xiàn)板卡的螺絲漏鎖的現(xiàn)象。

現(xiàn)今沒有針對(duì)板卡上面螺絲是否漏鎖的設(shè)計(jì)，產(chǎn)線組裝過程中都是通過組裝作業(yè)指導(dǎo)書及人工目視檢測(cè)來確保螺絲沒有漏鎖，存在一定的失誤率，如果產(chǎn)品已經(jīng)組裝完成或到達(dá)客戶端發(fā)現(xiàn)有接觸不良等問題，只能通過將產(chǎn)品全部拆卸來檢查，以排除問題，耗時(shí)耗力。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的技術(shù)任務(wù)是針對(duì)以上不足之處，提供一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD，包括第一PAD單元和第二PAD單元，所述的第一PAD單元和第二PAD單元配置在板卡表面，第一PAD單元和第二PAD單元位于螺絲與板卡之間，第一PAD單元和第二PAD單元互不接觸。

進(jìn)一步的，優(yōu)選的結(jié)構(gòu)為：

所述的第一PAD單元包括第一測(cè)試PAD以及與第一測(cè)試PAD相連接的第一線路；

所述的第二PAD單元包括第二測(cè)試PAD以及與第二測(cè)試PAD相連接的第二線路；

所述的第一線路與第二線路通過螺絲作為開關(guān)相連接，形成螺絲漏鎖的檢測(cè)電路。

進(jìn)一步的，優(yōu)選的結(jié)構(gòu)為：

所述的第一測(cè)試PAD和第二測(cè)試PAD之間為螺絲孔。

進(jìn)一步的，優(yōu)選的結(jié)構(gòu)為：

所述的第一測(cè)試PAD和第二測(cè)試PAD的形狀為扇面形。

本發(fā)明還包括一種檢測(cè)螺絲漏鎖的方法，方法為，將要檢測(cè)的螺絲孔周邊PAD分區(qū)為第一測(cè)試PAD和第二測(cè)試PAD，并分別賦予高低電平，以螺絲作為開關(guān)形成螺絲漏鎖的檢測(cè)電路，用可編程芯片來檢測(cè)PAD分區(qū)間的導(dǎo)通狀況。

進(jìn)一步的，優(yōu)選的方法為：

所述的可編程芯片為CPLD或FPGA。

進(jìn)一步的，優(yōu)選的方法為：

所述的螺絲孔為多個(gè)時(shí)，形成相應(yīng)數(shù)量的檢測(cè)電路。

進(jìn)一步的，優(yōu)選的方法為：

將多個(gè)檢測(cè)電路之間串聯(lián)，通過檢測(cè)可編程芯片的信號(hào)輸入可以判斷是否有螺絲漏鎖。

進(jìn)一步的，優(yōu)選的方法為：

將多個(gè)檢測(cè)電路之間并聯(lián)，通過檢測(cè)可編程芯片的信號(hào)輸入可以判斷是否有螺絲漏鎖，并能準(zhǔn)確定位幾個(gè)螺絲漏鎖及漏鎖螺絲的位置。

本發(fā)明的一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD和現(xiàn)有技術(shù)相比，有益效果如下：

1、將螺絲孔周邊PAD分區(qū)，并分別賦予高低電平，以螺絲作為開關(guān)，用CPLD或FPGA等可編程芯片來檢測(cè)PAD分區(qū)間的導(dǎo)通狀況，即螺絲鎖與未鎖的情況；

2、當(dāng)螺絲孔有多個(gè)時(shí)，可以判斷是否有螺絲漏鎖，并能準(zhǔn)確定位幾個(gè)螺絲漏鎖及漏鎖螺絲的位置；

3、操作簡單、準(zhǔn)確率高，大大提高了工作效率。

附圖說明

下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說明。

附圖1為一種現(xiàn)有技術(shù)的PAD的結(jié)構(gòu)示意圖；

附圖2為一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD結(jié)構(gòu)示意圖；

附圖3為一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD結(jié)構(gòu)安裝示意圖；

附圖4為單個(gè)檢測(cè)電路的電路圖；

附圖5為多個(gè)檢測(cè)電路的電路圖一；

附圖6為多個(gè)檢測(cè)電路的電路圖二；

其中：

1、現(xiàn)有技術(shù)的PAD；2、第一測(cè)試PAD；3、第二測(cè)試PAD；4、螺絲孔；5、螺絲；6、板卡；7、固定底板。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明。

本發(fā)明為一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD，板卡6通過螺絲5固定在固定底板7上；現(xiàn)有的PAD1位于螺絲孔4的周邊，無檢測(cè)螺絲漏鎖的功能。

實(shí)施例1：

一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD，包括第一PAD單元和第二PAD單元，所述的第一PAD單元和第二PAD單元配置在板卡6表面，第一PAD單元和第二PAD單元位于螺絲5與板卡6之間，第一PAD單元和第二PAD單元互不接觸。

所述的第一PAD單元包括第一測(cè)試PAD2以及與第一測(cè)試PAD2相連接的第一線路；所述的第二PAD單元包括第二測(cè)試PAD3以及與第二測(cè)試PAD3相連接的第二線路；

所述的第一線路與第二線路通過螺絲5作為開關(guān)相連接，形成螺絲漏鎖的檢測(cè)電路。