[發(fā)明專利]一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710811623.0
• 申請(qǐng)日: 2017-09-11
• 公開（公告）號(hào): CN107656316A
• 公開（公告）日: 2018-02-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何玉偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01V3/02
• 分類號(hào): G01V3/02
• 代理公司: 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司37100
• 代理人: 王守梅

1.一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD，其特征在于，包括第一PAD單元和第二PAD單元，所述的第一PAD單元和第二PAD單元配置在板卡表面，第一PAD單元和第二PAD單元位于螺絲與板卡之間，第一PAD單元和第二PAD單元互不接觸。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD，其特征在于，

所述的第一PAD單元包括第一測(cè)試PAD以及與第一測(cè)試PAD相連接的第一線路；

所述的第二PAD單元包括第二測(cè)試PAD以及與第二測(cè)試PAD相連接的第二線路；

所述的第一線路與第二線路通過螺絲作為開關(guān)相連接，形成螺絲漏鎖的檢測(cè)電路。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD，其特征在于，所述的第一測(cè)試PAD和第二測(cè)試PAD之間為螺絲孔。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種檢測(cè)螺絲漏鎖的測(cè)試PAD，其特征在于，所述的第一測(cè)試PAD和第二測(cè)試PAD的形狀為扇面形。

5.一種檢測(cè)螺絲漏鎖的方法，其特征在于，方法為，將要檢測(cè)的螺絲孔周邊PAD分區(qū)為第一測(cè)試PAD和第二測(cè)試PAD，并分別賦予高低電平，以螺絲作為開關(guān)形成螺絲漏鎖的檢測(cè)電路，用可編程芯片來檢測(cè)PAD分區(qū)間的導(dǎo)通狀況。

6.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種檢測(cè)螺絲漏鎖的方法，其特征在于， 所述的可編程芯片為CPLD或FPGA。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種檢測(cè)螺絲漏鎖的方法，其特征在于，所述的螺絲孔為多個(gè)時(shí)，形成相應(yīng)數(shù)量的檢測(cè)電路。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種檢測(cè)螺絲漏鎖的方法，其特征在于，將多個(gè)檢測(cè)電路之間串聯(lián)，通過檢測(cè)可編程芯片的信號(hào)輸入可以判斷是否有螺絲漏鎖。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種檢測(cè)螺絲漏鎖的方法，其特征在于，將多個(gè)檢測(cè)電路之間并聯(lián)，通過檢測(cè)可編程芯片的信號(hào)輸入可以判斷是否有螺絲漏鎖，并能準(zhǔn)確定位幾個(gè)螺絲漏鎖及漏鎖螺絲的位置。