[發明專利]一種圖像校正的方法、系統和可讀介質有效
| 申請號: | 201710803416.0 | 申請日: | 2017-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN107665499B | 公開(公告)日: | 2021-08-31 |
| 發明(設計)人: | 張運旭 | 申請(專利權)人: | 上海聯影醫療科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T11/00 | 分類號: | G06T11/00 |
| 代理公司: | 成都七星天知識產權代理有限公司 51253 | 代理人: | 楊永梅 |
| 地址: | 201807 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圖像 校正 方法 系統 可讀 介質 | ||
本發明公開了一種圖像重建的方法、系統和可讀介質。所述系統可以包括:存儲介質和處理器。所述存儲介質可以包括用于圖像重建的指令。所述處理器被配置為與所述存儲介質通訊。當執行所述指令時,所述處理器可以用于:對空氣進行第一掃描;獲得所述第一掃描對應的第一數據和第一電參數值;對模體進行第二掃描;獲得所述第二掃描對應的第二數據和第二電參數值;基于所述第一電參數值、所述第二電參數值和所述第一數據對所述第二數據進行校正得到第三數據;以及基于所述第三數據獲得重建圖像。本發明的空氣校正方法不依賴于任何參考探測器,使用掃描協議的電流大小來完成空氣校正,保證了空氣校正的有效性,提高了空氣校正的便捷性。
技術領域
本發明涉及圖像處理系統,尤其涉及圖像校正的方法。
背景技術
計算機斷層成像掃描(CT)設備在進行圖像重建之前需要進行一系列校正步驟。該校正步驟一般依賴于CT設備。對于校正不可缺少的一部分——空氣校正而言,其一般依賴于參考探測器。在實際情況中,參考探測器有可能不存在或者參考探測器被遮擋,從而影響空氣校正效果。
發明內容
針對上述參考探測器不存在或參考探測器被遮擋的情況,本發明的目的在于保證空氣校正的有效性和提高空氣校正的便捷性,使空氣校正的結果不依賴于參考探測器。
為達到上述發明目的,本發明提供的技術方案如下:
一種圖像重建的方法,所述方法可以包括:對空氣進行第一掃描;獲得所述第一掃描對應的第一數據和電參數值;對模體進行第二掃描;獲得所述第二掃描對應的第二數據和第二電參數值;基于所述第一電參數值、所述第二電參數值和所述第一數據對所述第二數據進行校正得到第三數據;以及基于所述第三數據獲得重建圖像。
在本發明中,所述第一電參數值可以包括第一電流值。
在本發明中,所述第二電參數值可以包括第二電流值。
在本發明中,所述第一電參數值可以對應于第一掃描角度。
在本發明中,所述第二電參數值可以對應于第二掃描角度。
在本發明中,所述基于所述第一電參數值、所述第二電參數值、所述第一數據對所述第二數據進行校正得到所述第三數據可以包括:確定所述第一掃描角度與所述第二掃描角度相等;確定所述第一電參數值與所述第二電參數值的關系;以及基于所述關系和所述第一數據對所述第二數據進行校正得到第三數據。
在本發明中,所述第三數據由下述公式確定:
其中,j代表所述掃描角度,Projectionvaluej是所述掃描角度j對應的所述第三數據,(RawDataIntensitysec)j是所述掃描角度j對應的所述第二數據,(RawDataIntensityfir)j是所述掃描角度j對應的所述第一數據,(Ifir)j是所述第一掃描時所述掃描角度j對應的第一電參數值,(Isec)j是所述第二掃描時所述掃描角度j對應的第二電參數值,c是預先確定的常數。
在本發明中,所述基于所述第三數據獲得所述重建圖像可以包括:對所述第三數據進行重排并進行卷積處理得到卷積數據;以及對所述卷積數據進行反投影獲得CT重建圖像。
一個用于圖像重建的系統。所述系統可以包括:存儲介質和處理器。所述存儲介質可以包括用于圖像分割的指令。所述處理器可以被配置為與所述存儲介質通訊。當執行所述指令時,所述處理器可以用于:對空氣進行第一掃描;獲得所述第一掃描對應的第一數據和第一電參數值;對模體進行第二掃描;獲得所述第二掃描對應的第二數據和第二電參數值;基于所述第一電參數值、所述第二電參數值和所述第一數據對所述第二數據進行校正得到第三數據;以及基于所述第三數據獲得重建圖像。
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