[發明專利]一種圖像校正的方法、系統和可讀介質有效
| 申請號: | 201710803416.0 | 申請日: | 2017-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN107665499B | 公開(公告)日: | 2021-08-31 |
| 發明(設計)人: | 張運旭 | 申請(專利權)人: | 上海聯影醫療科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T11/00 | 分類號: | G06T11/00 |
| 代理公司: | 成都七星天知識產權代理有限公司 51253 | 代理人: | 楊永梅 |
| 地址: | 201807 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圖像 校正 方法 系統 可讀 介質 | ||
1.一種圖像重建的方法,所述方法包括:
對空氣進行第一掃描;
獲得所述第一掃描對應的第一數據和第一電參數值;
對模體進行第二掃描;
獲得所述第二掃描對應的第二數據和第二電參數值;
確定所述第一掃描的掃描角度與所述第二掃描的掃描角度相等;
基于所述第一電參數值、所述第二電參數值和所述第一數據對所述第二數據進行校正得到第三數據;
其中,所述第三數據基于所述第一數據、所述第一電參數值與所述第二電參數值的比值以及預先確定的常數對所述第二數據進行校正得到;
所述第三數據由下述公式確定:
其中,j代表所述掃描角度,Projectionvaluej是所述掃描角度j對應的所述第三數據,(RawDataIntensitysec)j是所述掃描角度j對應的所述第二數據,(RawDataIntensityfir)j是所述掃描角度j對應的所述第一數據,(Ifir)j是所述第一掃描時所述掃描角度j對應的所述第一電參數值,(Isec)j是所述第二掃描時所述掃描角度j對應的所述第二電參數值,c是所述預先確定的常數;
基于所述第三數據獲得重建圖像。
2.如權利要求1的方法,其特征在于,所述第一電參數值包括第一電流值。
3.如權利要求1的方法,其特征在于,所述第二電參數值包括第二電流值。
4.如權利要求1的方法,其特征在于,所述第一電參數值對應于第一掃描角度。
5.如權利要求1的方法,其特征在于,所述第二電參數值對應于第二掃描角度。
6.如權利要求1的方法,其特征在于,所述基于所述第一電參數值、所述第二電參數值、所述第一數據對所述第二數據進行校正得到所述第三數據包括:
確定所述第一電參數值與所述第二電參數值的關系;以及
基于所述關系和所述第一數據對所述第二數據進行校正得到第三數據。
7.如權利要求6的方法,其特征在于,所述基于所述第三數據獲得重建圖像包括:
對所述第三數據進行重排并進行卷積處理得到卷積數據;以及
對所述卷積數據進行反投影獲得CT重建圖像。
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