[發(fā)明專利]測(cè)試用電路板及其操作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710800963.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109471011A | 公開(公告)日: | 2019-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曾勝煜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 新加坡商美亞國(guó)際電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 隆天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;章侃銥 |
| 地址: | 新加坡*** | 國(guó)省代碼: | 新加坡;SG |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電性轉(zhuǎn)接 測(cè)試接點(diǎn) 電路板 電路板本體 測(cè)試信號(hào)傳送 測(cè)試 不良問題 測(cè)試機(jī)臺(tái) 待測(cè)裝置 電性連接 跳線方式 外圍區(qū)域 線路連接 信號(hào)傳遞 供電性 公板 探針 檢測(cè) | ||
1.一種測(cè)試用電路板,其特征為,該電路板包括:
一電路板本體,其定義有內(nèi)圍區(qū)域及外圍區(qū)域;
多個(gè)第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn),其設(shè)于該電路板本體的內(nèi)圍區(qū)域中;
多個(gè)第二電性轉(zhuǎn)接點(diǎn),其設(shè)于該電路板本體的外圍區(qū)域中;
多個(gè)線路,其預(yù)設(shè)于該電路板本體并對(duì)應(yīng)連接該第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)及第二電性轉(zhuǎn)接點(diǎn);以及
多個(gè)測(cè)試接點(diǎn),其用于接收測(cè)試信號(hào)并設(shè)于該電路板本體的外圍區(qū)域且鄰近該多個(gè)第二電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試用電路板,其特征為,該內(nèi)圍區(qū)域設(shè)有多個(gè)探針。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試用電路板,其特征為,該多個(gè)第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)設(shè)于該探針周圍。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試用電路板,其特征為,該探針周圍還設(shè)有多個(gè)導(dǎo)電接點(diǎn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試用電路板,其特征為,該探針電性連接至該多個(gè)第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)及該多個(gè)導(dǎo)電接點(diǎn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試用電路板,其特征為,該第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)、第二電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)、及測(cè)試接點(diǎn)為接地接點(diǎn)、電源接點(diǎn)或信號(hào)接點(diǎn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試用電路板,其特征為,該測(cè)試接點(diǎn)電性連接至該第二電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試用電路板,其特征為,該電路板本體為公板結(jié)構(gòu)。
9.一種測(cè)試用電路板的操作方法,其特征為,該操作方法包括:
提供一根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試用電路板,其中該電路板本體的內(nèi)圍區(qū)域設(shè)有多個(gè)探針,該多個(gè)第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)位于該多個(gè)探針周圍,且令該多個(gè)探針電性連接至該多個(gè)第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn);
將該多個(gè)測(cè)試接點(diǎn)通過導(dǎo)電件電性連接至對(duì)應(yīng)的第二電性轉(zhuǎn)接點(diǎn);以及
將測(cè)試信號(hào)通過該測(cè)試接點(diǎn)、第二電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)、多個(gè)線路、以及對(duì)應(yīng)的第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)與探針而傳送至待測(cè)裝置。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試用電路板的操作方法,其特征為,該探針周圍還設(shè)有多個(gè)導(dǎo)電接點(diǎn)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試用電路板的操作方法,其特征為,該探針通過導(dǎo)線電性連接至該第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試用電路板的操作方法,其特征為,該第一電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)、第二電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)、及測(cè)試接點(diǎn)為接地接點(diǎn)、電源接點(diǎn)或信號(hào)接點(diǎn)。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試用電路板的操作方法,其特征為,該測(cè)試接點(diǎn)通過導(dǎo)電膠、排針、跳接線、轉(zhuǎn)接板、開關(guān)或連接座電性連接至該第二電性轉(zhuǎn)接點(diǎn)。
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