[發(fā)明專(zhuān)利]一種原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710791167.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107607505B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-06-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 奚大順;龔治湘;楊梅;張濤;劉靜 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 重慶民泰香料化工有限責(zé)任公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/64 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/64;G01R35/00 |
| 代理公司: | 重慶博凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 50212 | 代理人: | 伍倫辰 |
| 地址: | 400063 重慶*** | 國(guó)省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 原子 熒光 光譜儀 檢測(cè) 電路 測(cè)試 方法 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法,其特征是:獲取有一種信號(hào)發(fā)生器,信號(hào)發(fā)生器包括電流信號(hào)源和電壓信號(hào)源;該測(cè)試方法包括測(cè)試前置信號(hào)形成模塊和測(cè)試信號(hào)采集模塊;在測(cè)試前置信號(hào)形成模塊時(shí),將電流信號(hào)源的輸出作為前置信號(hào)形成模塊的輸入;在測(cè)試信號(hào)采集模塊時(shí),將電壓信號(hào)源的輸出作為信號(hào)采集模塊的輸入;利用示波器來(lái)觀測(cè)前置信號(hào)形成模塊是否正常,用儀器本身的顯示測(cè)試信號(hào)采集模塊的輸出是否正常。本發(fā)明能夠模擬原子熒光光譜儀使用過(guò)程中產(chǎn)生的多種特征信號(hào),無(wú)需消耗樣品及試劑,大幅降低分析成本,提高電路測(cè)試的效率,省時(shí)省力;輸出信號(hào)幅度可調(diào)且穩(wěn)定,能夠確保儀器的同一電路模塊的一致性,確保產(chǎn)品質(zhì)量。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及原子熒光光譜儀的研發(fā)及生產(chǎn)過(guò)程中的硬件電路測(cè)試方法領(lǐng)域,具體涉及一種原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法,用于測(cè)試原子熒光光譜儀中核心之一的檢測(cè)電路部分是否工作正常。
背景技術(shù)
氣態(tài)自由原子吸收光源的特征輻射后,原子的外層電子躍遷到較高能級(jí),然后又躍遷返回基態(tài)或較低能級(jí),同時(shí)發(fā)射出與原激發(fā)波長(zhǎng)相同或不同的光即為原子熒光。原子熒光分析法(AFS)即是通過(guò)測(cè)量待測(cè)元素的原子蒸氣在輻射能激發(fā)下產(chǎn)生的熒光發(fā)射強(qiáng)度,來(lái)確定待測(cè)元素含量的方法。原子熒光光譜儀(也稱(chēng)作:原子熒光光度計(jì))即是利用原子熒光分析法(AFS)來(lái)測(cè)量待測(cè)元素含量的儀器。
現(xiàn)有的原子熒光光譜儀包括激發(fā)光源、原子化器、氫化物發(fā)生器、光學(xué)系統(tǒng)、檢測(cè)電路和數(shù)據(jù)處理電路(參見(jiàn)圖1,摘自《多通道氫化物發(fā)生-原子熒光光譜儀的研制》(作者:周志恒,第23頁(yè),圖2-5))。其中,檢測(cè)電路包括前置信號(hào)形成模塊(通常安裝在前置電路板上,且前置信號(hào)形成模塊的輸入端與光電倍增管(PMT)的輸出端通過(guò)線纜相連接)和信號(hào)采集模塊(用于對(duì)前置信號(hào)形成模塊的輸出信號(hào)進(jìn)行采集;通常安裝在主控制電路板上,且信號(hào)采集模塊的輸入端與前置信號(hào)形成模塊的輸出端通過(guò)線纜相連接,信號(hào)采集模塊的輸出端與數(shù)據(jù)處理電路的輸入端相連連接)。
現(xiàn)有技術(shù)中,對(duì)于原子熒光光譜儀的檢測(cè)電路的測(cè)試方法需要采用樣品及化學(xué)試劑在原子熒光光譜儀進(jìn)行實(shí)際測(cè)定,才能夠測(cè)試出原子熒光光譜儀的檢測(cè)電路是否工作正常。所以,現(xiàn)有的原子熒光光譜儀的檢測(cè)電路的測(cè)試方法存在操作繁瑣,樣品及化學(xué)試劑的消耗量大,分析成本高昂且費(fèi)時(shí)費(fèi)力等諸多不足之處。此外,采用上述現(xiàn)有的原子熒光光譜儀的檢測(cè)電路的測(cè)試方法還會(huì)出現(xiàn)由于同一樣品的細(xì)微差別(原子熒光光譜儀檢測(cè)精度很高,樣品的細(xì)微偏差也對(duì)測(cè)量的結(jié)果造成影響)會(huì)引起的檢測(cè)信號(hào)的不穩(wěn)定,使得批量生產(chǎn)的多臺(tái)原子熒光光譜儀中的檢測(cè)電路的一致性難以實(shí)現(xiàn)。
基于此,申請(qǐng)人考慮設(shè)計(jì)一種能夠大幅降低測(cè)試成本,提高電路測(cè)試的效率,操作起來(lái)省時(shí)省力的原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是:如何提供一種能夠大幅降低測(cè)試成本,提高電路測(cè)試的效率,操作起來(lái)省時(shí)省力的原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案:
一種原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法,其特征在于:獲取有一種信號(hào)發(fā)生器,所述信號(hào)發(fā)生器包括電流信號(hào)源、電壓信號(hào)源和示波器;
該測(cè)試方法包括測(cè)試前置信號(hào)形成模塊和測(cè)試信號(hào)采集模塊;
其中,在測(cè)試前置信號(hào)形成模塊時(shí),將所述電流信號(hào)源的信號(hào)輸出接口與前置信號(hào)形成模塊的輸入端通過(guò)信號(hào)傳輸電纜相連接,將前置信號(hào)形成模塊的輸出端與示波器的探頭相連接;啟動(dòng)電流信號(hào)源和示波器,觀看示波器測(cè)得的波形(包括波形的形態(tài)、時(shí)序和幅值等波形特征)是否正常;若示波器測(cè)得的波形正常,則判斷前置信號(hào)形成模塊完好,反之,則存有故障;
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





