[發(fā)明專利]一種原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710791167.8
• 申請(qǐng)日: 2017-09-05
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107607505B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-06-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 奚大順;龔治湘;楊梅;張濤;劉靜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 重慶民泰香料化工有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01N21/64
• 分類號(hào): G01N21/64;G01R35/00
• 代理公司: 重慶博凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 50212
• 代理人: 伍倫辰

1.一種原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法，其特征在于：獲取有一種信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器包括電流信號(hào)源和電壓信號(hào)源；

該測(cè)試方法包括測(cè)試前置信號(hào)形成模塊和測(cè)試信號(hào)采集模塊；

其中，在測(cè)試前置信號(hào)形成模塊時(shí)，將所述電流信號(hào)源的信號(hào)輸出接口與前置信號(hào)形成模塊的輸入端通過(guò)信號(hào)傳輸電纜相連接，將前置信號(hào)形成模塊的輸出端與示波器的探頭相連接；啟動(dòng)電流信號(hào)源和示波器，觀看示波器測(cè)得的波形是否正常；如果示波器測(cè)得的波形正常，則判斷前置信號(hào)形成模塊完好，反之，則存有故障；

其中，在測(cè)試信號(hào)采集模塊時(shí)，將所述電壓信號(hào)源的信號(hào)輸出接口與信號(hào)采集模塊的輸入端通過(guò)信號(hào)傳輸電纜相連接，將信號(hào)采集模塊的輸出端與示波器的探頭相連接；啟動(dòng)電壓信號(hào)源和示波器，觀看示波器測(cè)得的波形是否正常；如果示波器測(cè)得的波形正常，則判斷信號(hào)采集模塊完好，反之，則存有故障。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法，其特征在于：所述電流信號(hào)源的輸出為直流電流或交流電流，其中，所述直流電流為0~10pA；所述交流電流為占空比1:20，頻率250Hz，峰值0~20000pA的負(fù)脈沖。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法，其特征在于：所述電壓信號(hào)源的輸出為直流電壓或交流電壓，其中，所述直流電壓為0~2000mV，所述交流電壓為占空比1:20，頻率250Hz，峰值0~2000mV的正脈沖。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法，其特征在于：所述信號(hào)發(fā)生器包括MCU（1）、信號(hào)幅度設(shè)置元件（2）、交流/直流撥動(dòng)選擇開(kāi)關(guān)（3）、第一運(yùn)算放大器（4）、第二運(yùn)算放大器（5）、電流轉(zhuǎn)換電阻（6）、同步信號(hào)輸入端（7）、電壓信號(hào)輸出端（8）、電流信號(hào)輸出端（9）和多個(gè)電容與電阻；

其中，信號(hào)幅度設(shè)置元件（2）、交流/直流撥動(dòng)選擇開(kāi)關(guān)（3）以及同步信號(hào)輸入端（7）分別與MCU（1）上對(duì)應(yīng)的各個(gè)輸入端連接，MCU（1）內(nèi)部的DAC的輸出端與第一運(yùn)算放大器（4）的同相輸入端連接，將DAC的輸出電壓信號(hào)經(jīng)同相放大后由電壓信號(hào)輸出端（8）輸出，該輸出即為電壓信號(hào)源輸出的電壓測(cè)試信號(hào)；

MCU（1）的DAC輸出端與第二運(yùn)算放大器（5）的反相輸入端連接，經(jīng)電壓跟隨處理后與電流轉(zhuǎn)換電阻（6）的一端連接，電流轉(zhuǎn)換電阻（6）的另一端與電流信號(hào)輸出端（9）連接，電流信號(hào)輸出端（9）的輸出即為電流信號(hào)源輸出的電流測(cè)試信號(hào)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法，其特征在于：所述電流信號(hào)源包括MCU（1）、信號(hào)幅度設(shè)置元件（2）、第二運(yùn)算放大器（5）、同步信號(hào)輸入端（7）和電流轉(zhuǎn)換電阻（6）；

所述信號(hào)幅度設(shè)置元件（2）和同步信號(hào)輸入端（7）分別與MCU（1）上對(duì)應(yīng)的各個(gè)輸入端連接，MCU（1）的DAC輸出端與第二運(yùn)算放大器（5）的反相輸入端連接，經(jīng)電壓跟隨處理后與電流轉(zhuǎn)換電阻（6）的一端連接，電流轉(zhuǎn)換電阻（6）的另一端與電流信號(hào)輸出端（9）連接，電流信號(hào)輸出端（9）的輸出即為電流信號(hào)源輸出的電流測(cè)試信號(hào)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子熒光光譜儀檢測(cè)電路的測(cè)試方法，其特征在于：所述電壓信號(hào)源包括MCU（1）、信號(hào)幅度設(shè)置元件（2）、第一運(yùn)算放大器（4）、同步信號(hào)輸入端（7）和電壓信號(hào)輸出端（8）；

所述信號(hào)幅度設(shè)置元件（2）和同步信號(hào)輸入端（7）分別與MCU（1）上對(duì)應(yīng)的各個(gè)輸入端連接，MCU（1）內(nèi)部的DAC的輸出端與第一運(yùn)算放大器（4）的同相輸入端連接，將DAC的輸出電壓信號(hào)經(jīng)同相放大后由電壓信號(hào)輸出端（8）輸出，該輸出即為電壓信號(hào)源輸出的電壓測(cè)試信號(hào)。