[發(fā)明專(zhuān)利]電子設(shè)備的數(shù)據(jù)安全防護(hù)方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710776973.8
• 申請(qǐng)日: 2017-08-31
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107657183B
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-03-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王世鋒;陳杰;閆碩;方以群;范維;陳海庭
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)人民解放軍海軍醫(yī)學(xué)研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G06F21/78
• 分類(lèi)號(hào): G06F21/78;G06F21/86
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 張鳳偉;吳敏

一種電子設(shè)備的數(shù)據(jù)安全防護(hù)方法及裝置。所述方法包括：檢測(cè)所述電子設(shè)備的外殼所承受的壓力是否變化；當(dāng)所述電子設(shè)備的外殼所承受的壓力大于對(duì)應(yīng)的第一壓力閾值時(shí)，輸出自毀觸發(fā)信號(hào)至自毀電路，觸發(fā)所述自毀電路對(duì)所述目標(biāo)芯片執(zhí)行自毀操作。應(yīng)用上述方案，可以提高電子設(shè)備的數(shù)據(jù)安全性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)安全技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種電子設(shè)備的數(shù)據(jù)安全防護(hù)方法及裝置。

背景技術(shù)

在實(shí)際應(yīng)用中，電子設(shè)備的存儲(chǔ)芯片中通常存儲(chǔ)有一些重要的數(shù)據(jù)，例如用戶的個(gè)人隱私數(shù)據(jù)及軍工秘密等信息。若電子設(shè)備遺失或者被盜，這些重要的數(shù)據(jù)就有可能會(huì)被竊取。

現(xiàn)有技術(shù)中，為防止電子設(shè)備中的數(shù)據(jù)被竊取，在電子設(shè)備中安裝有防竊取之類(lèi)的安全軟件，或者對(duì)救生設(shè)備設(shè)置復(fù)雜的系統(tǒng)密碼。然而，上述方法也只能防止竊密者通過(guò)電子設(shè)備的外設(shè)接口竊取數(shù)據(jù)。竊密者可以對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行物理拆解，從中取出存儲(chǔ)芯片并進(jìn)行物理破解，從而竊取存儲(chǔ)芯片中的重要數(shù)據(jù)，造成巨大損失。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例解決的問(wèn)題是如何提高電子設(shè)備的數(shù)據(jù)安全性。

為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明實(shí)施例提供一種電子設(shè)備的數(shù)據(jù)安全的防護(hù)方法，所述方法包括：檢測(cè)所述電子設(shè)備的外殼所承受的壓力是否變化；當(dāng)所述電子設(shè)備的外殼所承受的壓力大于對(duì)應(yīng)的第一壓力閾值時(shí)，輸出自毀觸發(fā)信號(hào)至自毀電路，觸發(fā)所述自毀電路對(duì)所述目標(biāo)芯片執(zhí)行自毀操作，其中，所述第一壓力閾值與環(huán)境溫度相對(duì)應(yīng)。

可選地，所述電子設(shè)備包括：設(shè)置在所述外殼的外端面且與所述外殼的外端面密封連接的壓力開(kāi)關(guān)，與目標(biāo)芯片耦接，適于基于所述壓力開(kāi)關(guān)所承受的壓力，來(lái)控制所述電子設(shè)備的開(kāi)啟及關(guān)閉；所述方法還包括：當(dāng)所述外殼被打開(kāi)時(shí)，檢測(cè)所述壓力開(kāi)關(guān)所承受的壓力是否發(fā)生變化；當(dāng)所述壓力開(kāi)關(guān)所承受的壓力的變化量大于第二壓力閾值時(shí)，輸出自毀觸發(fā)信號(hào)至自毀電路，觸發(fā)所述自毀電路對(duì)所述目標(biāo)芯片執(zhí)行自毀操作。

可選地，所述自毀電路包括：常閉開(kāi)關(guān)、常開(kāi)開(kāi)關(guān)以及自毀控制電路，其中：所述常閉開(kāi)關(guān)，第一端與預(yù)設(shè)電源耦接，第二端與所述常開(kāi)開(kāi)關(guān)的第一端耦接，適于保持所述電源與所述常開(kāi)開(kāi)關(guān)之間形成通路，并在接收到自毀觸發(fā)信號(hào)時(shí)，斷開(kāi)所述電源與所述常開(kāi)開(kāi)關(guān)之間的電路連接；所述常開(kāi)開(kāi)關(guān)，第一端與所述常閉開(kāi)關(guān)的第二端耦接，第二端與所述自毀控制電路耦接，適于在接收到自毀觸發(fā)信號(hào)時(shí)閉合，以使得所述常閉開(kāi)關(guān)與所述自毀控制電路之間形成通路；所述自毀控制電路，適于當(dāng)所述常閉開(kāi)關(guān)及常開(kāi)開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，生成自毀控制信號(hào)，對(duì)所述目標(biāo)芯片執(zhí)行自毀操作。

可選地，所述電子設(shè)備還包括：第一壓緊機(jī)構(gòu)以及第二壓緊機(jī)構(gòu)，其中：所述第一壓緊機(jī)構(gòu)，適于壓緊所述常閉開(kāi)關(guān)，使得所述常閉開(kāi)關(guān)保持所述電源與所述常開(kāi)開(kāi)關(guān)之間形成通路；所述第二壓緊機(jī)構(gòu)，適于壓緊所述常開(kāi)開(kāi)關(guān)，使得所述常閉開(kāi)關(guān)與所述自毀控制電路之間形成通路。

可選地，所述方法還包括：當(dāng)所述壓力開(kāi)關(guān)所承受的壓力的變化量小于等于所述第二壓力閾值時(shí)，檢測(cè)所述第一壓緊機(jī)構(gòu)及第二壓緊機(jī)構(gòu)被拆解的順序；當(dāng)所述第一壓緊機(jī)構(gòu)及第二壓緊機(jī)構(gòu)被拆解的順序與預(yù)設(shè)的拆解順序不同時(shí)，輸出所述自毀觸發(fā)信號(hào)至所述自毀電路，觸發(fā)所述自毀電路對(duì)所述目標(biāo)芯片執(zhí)行自毀操作。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電子設(shè)備的數(shù)據(jù)安全的防護(hù)裝置，所述裝置包括：第一壓力檢測(cè)單元，適于檢測(cè)所述電子設(shè)備的外殼所承受的壓力是否變化；第一信號(hào)產(chǎn)生單元，適于當(dāng)所述電子設(shè)備的外殼所承受的壓力大于對(duì)應(yīng)的第一壓力閾值時(shí)，輸出自毀觸發(fā)信號(hào)至自毀電路；所述自毀電路，適于在接收到所述自毀觸發(fā)信號(hào)時(shí)，對(duì)所述目標(biāo)芯片執(zhí)行自毀操作。