[發明專利]電子設備的數據安全防護方法及裝置

有效

• 申請號: 201710776973.8
• 申請日: 2017-08-31
• 公開（公告）號: CN107657183B
• 公開（公告）日: 2020-03-27
• 發明（設計）人: 王世鋒;陳杰;閆碩;方以群;范維;陳海庭
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍醫學研究所
• 主分類號: G06F21/78
• 分類號: G06F21/78;G06F21/86
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張鳳偉;吳敏

1.一種電子設備的數據安全的防護方法，其特征在于，包括：

檢測所述電子設備的外殼所承受的壓力是否變化；

當所述電子設備的外殼所承受的壓力大于對應的第一壓力閾值時，輸出自毀觸發信號至自毀電路，觸發所述自毀電路對目標芯片執行自毀操作，其中，所述第一壓力閾值與環境溫度相對應；

所述電子設備包括：設置在所述外殼的外端面且與所述外殼的外端面密封連接的壓力開關，與目標芯片耦接，適于基于所述壓力開關所承受的壓力，來控制所述電子設備的開啟及關閉；

所述自毀電路包括：常閉開關、常開開關以及自毀控制電路，其中：所述常閉開關，第一端與預設電源耦接，第二端與所述常開開關的第一端耦接，適于保持所述電源與所述常開開關之間形成通路，并在接收到自毀觸發信號時，斷開所述電源與所述常開開關之間的電路連接；所述常開開關，第一端與所述常閉開關的第二端耦接，第二端與所述自毀控制電路耦接，適于在接收到自毀觸發信號時閉合，以使得所述常閉開關與所述自毀控制電路之間形成通路；所述自毀控制電路，適于當所述常閉開關及常開開關閉合時，生成自毀控制信號，對所述目標芯片執行自毀操作；

所述電子設備還包括：第一壓緊機構以及第二壓緊機構，其中：所述第一壓緊機構，適于壓緊所述常閉開關，使得所述常閉開關保持所述電源與所述常開開關之間形成通路；所述第二壓緊機構，適于壓緊所述常開開關，使得所述常閉開關與所述自毀控制電路之間形成通路；

當所述壓力開關所承受的壓力的變化量小于等于第二壓力閾值時，檢測所述第一壓緊機構及第二壓緊機構被拆解的順序；

當所述第一壓緊機構及第二壓緊機構被拆解的順序與預設的拆解順序不同時，輸出所述自毀觸發信號至所述自毀電路，觸發所述自毀電路對所述目標芯片執行自毀操作。

2.如權利要求1所述的電子設備的數據安全的防護方法，其特征在于，

還包括：

當所述外殼被打開時，檢測所述壓力開關所承受的壓力是否發生變化；

當所述壓力開關所承受的壓力的變化量大于第二壓力閾值時，輸出自毀觸發信號至自毀電路，觸發所述自毀電路對所述目標芯片執行自毀操作。

3.一種電子設備的數據安全的防護裝置，其特征在于，包括：

第一壓力檢測單元，適于檢測所述電子設備的外殼所承受的壓力是否變化；

第一信號產生單元，適于當所述電子設備的外殼所承受的壓力大于對應的第一壓力閾值時，輸出自毀觸發信號至自毀電路；

所述自毀電路，適于在接收到所述自毀觸發信號時，對目標芯片執行自毀操作；

所述電子設備包括：設置在所述外殼的外端面且與所述外殼的外端面密封連接的壓力開關，與目標芯片耦接，適于基于所述壓力開關所承受的壓力，來控制所述電子設備的開啟及關閉；

所述自毀電路包括：常閉開關、常開開關以及自毀控制電路，其中：

所述常閉開關，第一端與預設電源耦接，第二端與所述常開開關的第一端耦接，適于保持所述電源與所述常開開關之間形成通路，并在接收到自毀觸發信號時，斷開所述電源與所述常開開關之間的電路連接；

所述常開開關，第一端與所述常閉開關的第二端耦接，第二端與所述自毀控制電路耦接，適于在接收到自毀觸發信號時閉合，以使得所述常閉開關與所述自毀控制電路之間形成通路；

所述自毀控制電路，適于當所述常閉開關及常開開關閉合時，生成自毀控制信號，對所述目標芯片執行自毀操作；

所述電子設備還包括：第一壓緊機構以及第二壓緊機構，其中：

所述第一壓緊機構，適于壓緊所述常閉開關，使得所述常閉開關保持所述電源與所述常開開關之間形成通路；

所述第二壓緊機構，適于壓緊所述常開開關，使得所述常閉開關與所述自毀控制電路之間形成通路；

拆解順序檢測單元，適于當所述壓力開關所承受的壓力未發生變化時，檢測所述第一壓緊機構及第二壓緊機構被拆解的順序；

第三信號產生單元，適于當所述第一壓緊機構及第二壓緊機構被拆解的順序與預設的拆解順序不同時，產生所述自毀觸發信號，并發送至所述自毀電路，以觸發所述自毀電路對所述目標芯片執行自毀操作。