[發明專利]潛在過程參數挖掘方法及裝置

有效

• 申請號: 201710770966.7
• 申請日: 2017-08-31
• 公開（公告）號: CN107563515B
• 公開（公告）日: 2018-11-06
• 發明（設計）人: 蕭偉;劉雪松;凌婭;陳勇;王振中;姜曉紅;畢宇安;李頁瑞;包樂偉;章晨峰;王磊;陳永杰
• 申請（專利權）人: 江蘇康緣藥業股份有限公司;浙江大學
• 主分類號: G06N5/02
• 分類號: G06N5/02;G07C3/00;G06Q50/04
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 孫仿衛;汪青

1.一種潛在過程參數挖掘方法，其特征在于，包括：

接收潛在過程參數挖掘請求，所述請求包括設計空間對應的工段條件信息；

根據所述工段條件信息，獲取與工段對應的關鍵質量屬性及擬定潛在過程參數集合；

對擬定的潛在過程參數進行第一測試，得到多個過程參數；

對所述過程參數進行第二測試，得到待驗證潛在過程參數；

對待驗證潛在過程參數進行驗證，得到潛在過程參數，包括：將待驗證潛在過程參數加入設計空間的關鍵過程參數庫，更新關鍵過程參數集合；建立關鍵質量屬性與更新后的關鍵過程參數之間的關系模型；根據所述關系模型，更新設計空間，所述設計空間為對應于所述關鍵質量屬性的特定區間范圍。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述過程參數進行第二測試，得到待驗證潛在過程參數包括：

設計正交試驗，得到組間試驗數據和組內試驗數據；

對組間試驗數據和組內試驗數據進行方差分析，得到均方離差平方和比值；

根據所述均方離差平方和比值，匹配相應的顯著系數；

將小于顯著系數閾值的顯著系數所對應的過程參數作為待驗證潛在過程參數。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述過程參數進行第二測試，得到待驗證潛在過程參數包括：

對過程參數進行相對標準偏差分析，得到符合偏差閾值的過程參數；

對所述符合偏差閾值的過程參數進行相關性分析，得到過程參數與關鍵質量屬性之間的相關系數；

根據所述相關系數，獲取所述過程參數與關鍵質量屬性之間的顯著系數；

將小于顯著系數閾值的顯著系數所對應的過程參數作為待驗證潛在過程參數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對擬定的潛在過程參數進行第一測試包括：

保持其他參數不變，對擬定的潛在過程參數進行逐一變換，測試關鍵質量屬性，并將使關鍵質量屬性發生變化的潛在過程參數作為測試得到的過程參數。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對擬定的潛在過程參數進行第一測試包括：

對擬定的潛在過程參數進行Plackett-Burman試驗，按照篩選規則篩選得到過程參數。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述建立關鍵質量屬性與更新后的關鍵過程參數之間的關系模型包括：

對關鍵過程參數和關鍵質量屬性進行數據標準化操作；

利用逐步回歸方法，對標準化的關鍵過程參數和關鍵質量屬性進行擬合操作，得到關系模型，所述逐步回歸包括：

獲取關系模型的決定系數；

比較所述決定系數與決定度閾值的大小；

若所述決定系數低于所述決定度閾值，則擴大入選的置信度，直至所述決定系數大于決定度閾值。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述潛在過程參數挖掘請求還包括設計空間的放行參數；

所述根據所述工段條件信息，獲取與工段對應的關鍵質量屬性及擬定潛在過程參數集合包括：

根據工段條件信息，確定對應的關鍵質量屬性；

查詢所述設計空間的放行參數；

在所述放行參數以外的范圍內擬定與所述關鍵質量屬性相關的潛在過程參數，組成潛在過程參數集合。