[發(fā)明專利]一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710768273.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-08-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107656170B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 伍中元 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上達(dá)電子(黃石)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/55 | 分類號(hào): | G01R31/55 |
| 代理公司: | 武漢智嘉聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 42231 | 代理人: | 黃君軍 |
| 地址: | 435000 湖北省黃石市*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)試 治具找點(diǎn)機(jī) | ||
本發(fā)明涉及一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī),包括:一箱體、測(cè)試電路系統(tǒng)和找點(diǎn)筆,測(cè)試電路系統(tǒng)設(shè)置在箱體內(nèi),找點(diǎn)筆與測(cè)試電路系統(tǒng)連接;箱體呈長(zhǎng)方體,包括一底板、第一側(cè)板及第二側(cè)板,第一側(cè)板上設(shè)有一找點(diǎn)筆接口;第二側(cè)板設(shè)有一排線接口,測(cè)試電路系統(tǒng)包括一電源裝置、一中央處理裝置、一信號(hào)傳輸裝置、一控制裝置、一液晶裝置、一揚(yáng)聲器、一排線及LED裝置。本發(fā)明所述的一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī)為治具檢測(cè)提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、實(shí)用方便的測(cè)試設(shè)備,減輕了檢測(cè)人員的勞動(dòng)強(qiáng)度,提升了工作效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī)。
背景技術(shù)
在FPC生產(chǎn)過(guò)程中需要用到一些治具,其中一種治具上連接有眾多金屬線,該治具在生產(chǎn)中一般都是員工手工連金屬線,將金屬線的兩端分別連接在標(biāo)號(hào)相同的接觸端上,由于金屬線較為密集,接觸端較多,員工偶爾會(huì)出現(xiàn)連接錯(cuò)誤的情況,因此就需要后續(xù)對(duì)治具的金屬線進(jìn)行檢測(cè),目前的檢測(cè)方法是操作員手工檢測(cè),對(duì)遇到的問(wèn)題不能準(zhǔn)確的分析,分析速度相對(duì)來(lái)說(shuō)也會(huì)慢很多。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是針對(duì)上述現(xiàn)狀,提供一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī)。
本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī),包括一箱體、測(cè)試電路系統(tǒng)和找點(diǎn)筆,所述測(cè)試電路系統(tǒng)設(shè)置在所述箱體內(nèi),所述找點(diǎn)筆與所述測(cè)試電路系統(tǒng)連接;所述箱體呈長(zhǎng)方體,包括一底板、第一側(cè)板及第二側(cè)板,所述第一側(cè)板上設(shè)有一找點(diǎn)筆接口;所述第二側(cè)板設(shè)有一排線接口,所述測(cè)試電路系統(tǒng)包括一電源裝置、一中央處理裝置、一信號(hào)傳輸裝置、一控制裝置、一液晶裝置、一揚(yáng)聲器、一排線及LED裝置,所述電源包括第一電源和第二電源,所述中央處理裝置與所述第一電源、所述信號(hào)傳輸裝置、所述控制裝置、所述液晶裝置、所述揚(yáng)聲器及所述LED裝置連接,所述信號(hào)傳輸裝置與第一電源、所述排線接口連接,所述液晶裝置與所述第一電源連接,所述揚(yáng)聲器與所述第二電源連接,所述排線接口與所述第二電源連接,所述排線一端與所述排線接口連接,另一端上設(shè)置有一檢測(cè)端口,所述找點(diǎn)筆與所述找點(diǎn)筆接口連接。
本發(fā)明的效果是:本發(fā)明所述的一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī)為治具檢測(cè)提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、實(shí)用方便的測(cè)試設(shè)備,減輕了檢測(cè)人員的勞動(dòng)強(qiáng)度,提升了工作效率。
附圖說(shuō)明
圖1所示為本發(fā)明提供的一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī)的示意圖;
圖2所示為本發(fā)明提供的一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3所示為本發(fā)明提供的一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī)的部分電路圖;
圖4為圖2中液晶裝置的電路圖;
圖5為圖2中信號(hào)傳輸裝置及LED裝置的電路圖;
圖中:1—箱體,11—底板,12—第一側(cè)板,121—找點(diǎn)筆接口,13—第二側(cè)板,131—排線接口,2—測(cè)試電路系統(tǒng),21—電源裝置,211—第一電源,212—第二電源,22—中央處理裝置,221—單片機(jī),23—信號(hào)傳輸裝置,231—芯片,24—控制裝置,241—光標(biāo)按鍵,242—增加按鍵,243—減小按鍵,244—運(yùn)行按鍵,25—液晶裝置,251—液晶屏,26—揚(yáng)聲器,27—排線,271—檢測(cè)端口,28—LED裝置,3—找點(diǎn)筆。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖介紹本發(fā)明提供的測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī):
請(qǐng)參閱圖1,為本發(fā)明提供的一種測(cè)試治具找點(diǎn)機(jī),其包括:一箱體1、測(cè)試電路系統(tǒng)2和找點(diǎn)筆3;測(cè)試電路系統(tǒng)2設(shè)置在箱體1內(nèi),找點(diǎn)筆3與測(cè)試電路系統(tǒng)2連接。
請(qǐng)參閱圖1和圖2,本發(fā)明實(shí)施例中的箱體1呈長(zhǎng)方體,包括一底板11、第一側(cè)板12及第二側(cè)板13。
第一側(cè)板12上設(shè)有一找點(diǎn)筆接口121,第二側(cè)板13設(shè)有一排線接口131。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
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- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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