[發(fā)明專利]一種測試治具找點機

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710768273.4
• 申請日: 2017-08-31
• 公開（公告）號: CN107656170B
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發(fā)明（設計）人: 伍中元
• 申請（專利權）人: 上達電子（黃石）股份有限公司
• 主分類號: G01R31/55
• 分類號: G01R31/55
• 代理公司: 武漢智嘉聯(lián)合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231
• 代理人: 黃君軍

1.一種測試治具找點機，其特征在于，包括：一箱體、測試電路系統(tǒng)和找點筆，所述測試電路系統(tǒng)設置在所述箱體內，所述找點筆與所述測試電路系統(tǒng)連接；所述箱體呈長方體，包括一底板、第一側板及第二側板，所述第一側板上設有一找點筆接口；所述第二側板設有一排線接口，所述測試電路系統(tǒng)包括一電源裝置、一中央處理裝置、一信號傳輸裝置、一控制裝置、一液晶裝置、一揚聲器、一排線及若干LED裝置，所述電源包括第一電源和第二電源，所述中央處理裝置與所述第一電源、所述信號傳輸裝置、所述控制裝置、所述液晶裝置、所述揚聲器及所述LED裝置連接，所述信號傳輸裝置與第一電源、所述排線接口連接，所述液晶裝置與所述第一電源連接，所述揚聲器與所述第二電源連接，所述找點筆接口與所述第二電源連接，所述排線一端與所述排線接口連接，另一端上設置有一檢測端口，所述找點筆與所述找點筆接口連接。

2.如權利要求1所述測試治具找點機，其特征在于，所述中央處理裝置包括一單片機、第一電容、第二電容、第三電容、第一電阻、第二電阻、一晶振及一復位鍵，所述單片機上設有若干引腳，包括第一引腳、第二引腳、第三引腳、第四引腳、第五引腳、第六引腳、第七引腳、第八引腳、第九引腳、第十引腳、第十一引腳、第十二引腳、第十三引腳、第十四引腳、第十五引腳、第十六引腳、第十七引腳、第十八引腳、第十九引腳、第二十引腳、第二十一引腳、第二十二引腳、第二十三引腳、第二十四引腳、第二十五引腳、第二十六引腳、第二十七引腳、第二十八引腳、第二十九引腳、第三十引腳、第三十一引腳、第三十二引腳、第三十三引腳；所述晶振的一端與所述第一引腳連接，另一端與所述第二引腳連接；所述第一電容一端與所述第一引腳連接，另一端接地；所述第二電容一端與所述第二引腳連接，另一端接地；所述第一電阻一端與所述第三引腳連接，另一端與所述復位鍵連接；所述復位鍵遠離所述第一電阻的一端與所述第一電源連接；所述第二電阻一端與所述第三引腳連接，另一端接地；所述第三電容一端與所述第三引腳連接，另一端與所述第一電源連接；所述第三十三引腳與所述第一電源連接。

3.如權利要求2所述測試治具找點機，其特征在于，所述信號傳輸裝置包括芯片，所述芯片上設有若干引腳，包括第三十四引腳、第三十五引腳、第三十六引腳、第三十七引腳、第三十八引腳、第三十九引腳、第四十引腳、第四十一引腳、第四十二引腳、第四十三引腳、第四十四引腳、第四十五引腳、第四十六引腳、第四十七引腳、第四十八引腳、第四十九引腳及第五十引腳；所述第四十二引腳、所述第四十三引腳、所述第四十四引腳、所述第四十五引腳、所述第四十六引腳、所述第四十七引腳、所述第四十八引腳、所述第四十九引腳分別與所述第九引腳、所述第十引腳、所述第十一引腳、所述第十二引腳、所述第十三引腳、所述第十四引腳、所述第十五引腳、所述第十六引腳連接；所述第五十引腳與所述第一電源連接；所述第三十四引腳、所述第三十五引腳、所述第三十六引腳、所述第三十七引腳、所述第三十八引腳、所述第三十九引腳、所述第四十引腳、所述第四十一引腳與所述排線連接。

4.如權利要求3所述測試治具找點機，其特征在于，所述控制裝置包括光標按鍵、增加按鍵、減小按鍵及運行按鍵，所述光標按鍵一端與所述第四引腳連接，另一端接地；所述增加按鍵一端與所述第五引腳連接，另一端接地；所述減小按鍵一端與所述第六引腳連接，另一端接地；所述運行按鍵一端與所述第七引腳連接，另一端接地。

5.如權利要求4所述測試治具找點機，其特征在于，所述液晶裝置包括一液晶屏及一滑動變阻器，所述液晶屏上設有若干引腳，包括第五十一引腳、第五十二引腳、第五十三引腳、第五十四引腳、第五十五引腳、第五十六引腳、第五十七引腳、第五十八引腳、第五十九引腳、第六十引腳、第六十一引腳；所述第五十一引腳接地，所述第五十二引腳與所述第一電源連接；所述滑動變阻器一端與所述第五十三引腳連接，另一端接地；所述第五十四引腳、所述第五十五引腳、所述第五十六引腳、所述第五十七引腳、所述第五十八引腳、所述第五十九引腳、所述第六十引腳、所述第六十一引腳分別與所述第二十五引腳、所述第二十六引腳、所述第二十七引腳、所述第二十八引腳、所述第二十九引腳、所述第三十引腳、所述第三十一引腳、所述第三十二引腳連接。