[發明專利]設計評價輔助系統

有效

• 申請號: 201710761734.5
• 申請日: 2017-08-30
• 公開（公告）號: CN107798161B
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 田中雅人
• 申請（專利權）人: 阿自倍爾株式會社
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06Q10/06;G06Q50/04
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 肖華

1.一種設計評價輔助系統，其特征在于，包括：

劣化指標檢測單元，其將各控制器對分別對應的溫度控制區域的溫度進行控制的多回路型加熱裝置作為評價對象，針對每個加熱裝置以及加熱裝置內的每個溫度控制系統檢測作為評價對象的多個多回路型加熱裝置的劣化指標；

劣化指標收集單元，其針對每個相同類型的加熱裝置收集該劣化指標檢測單元所檢測出的劣化指標；

初始值存儲單元，其針對每個加熱裝置以及加熱裝置內的每個溫度控制系統預先存儲作為評價對象的加熱裝置的所述劣化指標的初始值；

劣化指標變化提示單元，其根據所述劣化指標收集單元所收集到的劣化指標和存儲于所述初始值存儲單元的劣化指標的初始值，算出表示劣化指標的時效變化的數據并加以提示，

平均操作量計算單元，其基于從作為評價對象的多個多回路型加熱裝置的各個控制器輸出的操作量的時序數據，針對每個加熱裝置以及加熱裝置內的每個溫度控制系統算出操作量的歷史平均值；以及

操作量影響提示單元，其提示所述劣化指標變化提示單元所提示的表示劣化指標的時效變化的數據與所述歷史平均值的關聯性，

所述操作量影響提示單元針對每個加熱裝置以及加熱裝置內的每個溫度控制系統進行如下處理：

在同一加熱裝置內提取所述平均操作量計算單元所算出的歷史平均值MVm之中的最小值MVm_min，算出以該最小值MVm_min作為分子、以各歷史平均值MVm作為分母的可視化比率U＝MVm_min/MVm，并與表示所述劣化指標的時效變化的數據一同提示。

2.根據權利要求1所述的設計評價輔助系統，其特征在于，

所述劣化指標檢測單元檢測控制對象的處理增益Kp與處理時間常數Tp的比率S_res＝Kp/Tp作為所述劣化指標，

所述劣化指標變化提示單元根據所述劣化指標收集單元所收集到的比率S_res和存儲于所述初始值存儲單元的初始值S_ini，算出比率R＝S_res/S_ini作為表示所述劣化指標的時效變化的數據。

3.根據權利要求2所述的設計評價輔助系統，其特征在于，所述劣化指標檢測單元針對每個加熱裝置以及加熱裝置內的每個溫度控制系統進行如下處理：

對于從加熱裝置收集到的溫度的時序數據和操作量的時序數據特別規定過渡狀態的數據，根據過渡狀態中的溫度的數據以及操作量的數據確定控制對象的模型算式，基于該控制對象的模型算式算出控制對象的處理增益Kp與處理時間常數Tp的比率S_res＝Kp/Tp。