[發明專利]天線測試裝置、智能卡以及芯片在審
| 申請號： | 201710754086.0 | 申請日： | 2017-08-29 |
| 公開（公告）號： | CN107478916A | 公開（公告）日： | 2017-12-15 |
| 發明（設計）人： | 白光宇;何險峰 | 申請（專利權）人： | 恒寶股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 212355 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 天線 測試 裝置 智能卡 以及 芯片 | ||
1.一種天線測試裝置，其特征在于，包括：
智能卡主體，所述智能卡主體上設置有卡槽，所述卡槽內設置有第一觸點，所述第一觸點的第一端與設置于所述智能卡主體內的射頻天線連接，所述第一觸點的第二端用于在可拆卸芯片裝入所述卡槽的情況下，與所述可拆卸芯片連接。
2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第一觸點包括兩個導電觸點，該兩個導電觸點的一端分別與所述射頻天線的線圈兩端連接。
3.根據權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述第一觸點在所述芯片未裝入所述卡槽內的情況下暴露在所述卡槽的內表面。
4.一種智能卡，其特征在于，包括：
智能卡主體以及可拆卸芯片；
所述智能卡主體上設置有卡槽，所述卡槽內設置有第一觸點，所述第一觸點與設置于所述智能卡主體內的射頻天線連接，所述芯片上設置有第二觸點，在所述芯片裝入所述卡槽內的情況下，所述第一觸點與所述第二觸點接觸。
5.根據權利要求4所述的智能卡，其特征在于，所述第二觸點包括兩個導電觸點，該兩個導電觸點在所述芯片裝入所述卡槽內的情況下分別與所述第一觸點的兩個導電觸點相接觸。
6.根據權利要求4所述的智能卡，其特征在于，所述第一觸點在所述芯片未裝入所述卡槽內的情況下暴露在所述卡槽的內表面。
7.根據權利要求4至6任意一項所述的智能卡，其特征在于，所述第二觸點設置于所述芯片背面。
8.一種芯片，其特征在于，所述芯片為智能卡的可拆卸芯片，在所述芯片裝入智能卡主體后，所述芯片與所述智能卡主體內的射頻天線相連。
9.根據權利要求8所述的芯片，其特征在于，所述芯片包括第二觸點，所述第二觸點設置于所述芯片的背面，在所述芯片裝入所述智能卡主體后，所述第二觸點與所述智能卡主體上的第一觸點接觸。
10.一種天線測試裝置，其特征在于，所述裝置包括如權利要求8或9所述的芯片，以及多個智能卡主體，所述多個智能卡主體具有不同的射頻天線。
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