[發明專利]一種陣列基板、顯示裝置及其檢測方法

有效

• 申請號: 201710751293.0
• 申請日: 2017-08-28
• 公開（公告）號: CN107331338B
• 公開（公告）日: 2021-08-17
• 發明（設計）人: 袁粲;袁志東;李永謙;蔡振飛;李蒙;馮雪歡
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

本發明實施例提供一種陣列基板及其檢測方法、顯示裝置，涉及顯示技術領域，可提高陣列基板的良率。所述陣列基板包括設置在襯底上的多條相互平行的第一電源線和多條相互平行的第二電源線，所述第一電源線和所述第二電源線相交構成多個像素區域；所述第一電源線和所述第二電源線形成多個交疊點，所述交疊點包括使所述第一電源線和所述第二電源線連接的第一交疊點、和使所述第一電源線和所述第二電源線絕緣的第二交疊點；對應每根所述第一電源線的所述第一交疊點間隔分布；對應每根所述第二電源線的所述第一交疊點間隔分布。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種陣列基板、顯示裝置及其檢測方法

背景技術

隨著多媒體技術的快速發展，OLED(Organic Light-Emitting Diode，有機發光二極管)由于具有能自發光、高對比度、色域廣、制備工藝簡單、功耗低、易于實現柔性顯示等優點，成為顯示裝置中重要的發光元件。

在現有的OLED中，電源線(VDD線)作用是為OLED提供電壓信號，產生電流以供OLED發光。在產生電流的過程中，由于VDD線本身存在電阻，其沿VDD線延伸方向上會存在一定的壓降，很容易引起OLED驅動電壓信號的變化，進而影響整個面板顯示效果的均一性。本領域技術人員為了解決上述問題，如圖1所示，通常將VDD線設置成網狀結構，在減小VDD線電阻的同時解決了顯示效果不均一的難題。

然而，如圖2所示，現有的OLED像素包括VDD線，數據線Data，柵極信號線GN及檢測線Sense。從圖2中可看出，VDD線與其他幾類信號線均有交疊處，其線與線之間發生短路的概率較大。由于AT(Array Test，陣列基板檢測)設備目前只能通過相應的測試模式將發生不良的VDD線通過相應的測試激勵縱向或橫向的檢出，而由于VDD線受到網狀結構的制約，使得AT設備無法檢測出不良位置，導致帶有此類不良的面板無法被檢測出，從而降低產品的良率。

發明內容

本發明的實施例提供一種陣列基板、顯示裝置及其檢測方法，可解決AT設備無法檢測出顯示面板發生短路的問題，提高產品良率。

為達到上述目的，本發明的實施例采用如下技術方案：

第一方面，提供一種陣列基板，包括設置在襯底上的多條相互平行的第一電源線和多條相互平行的第二電源線，所述第一電源線和所述第二電源線相交構成多個像素區域；所述第一電源線和所述第二電源線形成多個交疊點，所述交疊點包括使所述第一電源線和所述第二電源線連接的第一交疊點、和使所述第一電源線和所述第二電源線絕緣的第二交疊點；對應每根所述第一電源線的所述第一交疊點間隔分布；和/或，對應每根所述第二電源線的所述第一交疊點間隔分布。

優選的，每連續分布的M根所述第一電源線組成一個第一電源線單元，每連續分布的M根所述第二電源線組成一個第二電源線單元，每個第一電源線單元中的第i根所述第一電源線與每個第二電源線單元中的第i根所述第二電源線連接形成所述第一交疊點；其中，M為大于1的整數，i＝{1、2、……、M}。

優選的，多條所述第一電源線同層設置、多條所述第二電源線同層設置；所述第一電源線和所述第二電源線之間設置有層間絕緣層，兩者在所述第一交疊點通過過孔連接。

或者，多條所述第一電源線同層設置、多條所述第二電源線同層設置；所述第一電源線和所述第二電源線之間僅在所述第二交疊點設置有絕緣圖案。

優選的，多條所述第一電源線同層設置，所述第二電源線包括多條與所述第一電源線同層設置、且與所述第一電源線不交疊的線段；在所述第一交疊點，相鄰的所述線段相互靠近的末端與所述第一電源線連接；在所述第二交疊點，相鄰所述線段通過架橋連接，所述架橋與所述第一電源線通過絕緣圖案隔離。

優選的，所述第一電源線的方塊電阻大于所述第二電源線的方塊電阻。

優選的，所述第一電源線設置在所述第二電源線靠近所述襯底一側。