[發明專利]一種陣列基板、顯示裝置及其檢測方法有效
| 申請號: | 201710751293.0 | 申請日: | 2017-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN107331338B | 公開(公告)日: | 2021-08-17 |
| 發明(設計)人: | 袁粲;袁志東;李永謙;蔡振飛;李蒙;馮雪歡 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 陣列 顯示裝置 及其 檢測 方法 | ||
1.一種陣列基板,包括設置在襯底上的多條相互平行的第一電源線和多條相互平行的第二電源線,所述第一電源線和所述第二電源線相交構成多個像素區域;其特征在于,所述第一電源線和所述第二電源線形成多個交疊點,所述交疊點包括使所述第一電源線和所述第二電源線連接的第一交疊點、和使所述第一電源線和所述第二電源線絕緣的第二交疊點;
對應每根所述第一電源線的所述第一交疊點間隔分布;和/或,對應每根所述第二電源線的所述第一交疊點間隔分布;
所述第一電源線的方塊電阻大于所述第二電源線的方塊電阻;
多條所述第一電源線同層設置,所述第二電源線包括多條與所述第一電源線同層設置、且與所述第一電源線不交疊的線段;
在所述第一交疊點,相鄰的所述線段相互靠近的末端與所述第一電源線連接;
在所述第二交疊點,相鄰所述線段通過架橋連接,所述架橋與所述第一電源線通過絕緣圖案隔離;
所述架橋的方塊電阻大于線段的方塊電阻。
2.根據權利要求1所述的陣列基板,其特征在于,每連續分布的M根所述第一電源線組成一個第一電源線單元,每連續分布的M根所述第二電源線組成一個第二電源線單元,每個第一電源線單元中的第i根所述第一電源線與每個第二電源線單元中的第i根所述第二電源線連接形成所述第一交疊點;
其中,M為大于1的整數,i={1、2、……、M}。
3.根據權利要求2所述的陣列基板,其特征在于,M≤5。
4.根據權利要求2所述的陣列基板,其特征在于,M=2;或者,M=3。
5.根據權利要求1-4任一項所述的陣列基板,其特征在于,所述第一電源線與所述第二電源線垂直。
6.一種顯示裝置,其特征在于,包括權利要求1-5任一項所述的陣列基板、以及設置在所述陣列基板上的陽極。
7.一種用于檢測權利要求6所述的顯示裝置的方法,其特征在于,所述方法包括:采用檢測器檢測顯示裝置陽極上的電壓,通過判斷陽極上的電壓是否發生變化,確定發生不良的區域;
通過光學檢測確定發生不良的位置。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,采用檢測器檢測顯示裝置陽極上的電壓,通過判斷陽極上的電壓是否發生變化,確定發生不良的區域的步驟包括:
通過所述檢測器中的電極感應所述陽極上的電壓;
若所述檢測器中的液晶發生旋轉,使所述檢測器發光,則確定所述陽極所在像素發生不良。
9.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,通過光學檢測確定發生不良的位置的步驟包括:
通過顯微鏡抓取正常像素的像素結構作為基準像素結構;
再抓取發生不良像素的像素結構與所述基準像素結構對比,以確定不良位置。
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